先進基板対応、高速・高精度3次元計測装置！深さ5μm、Line Space 2/2対応
当社で取り扱う、『NSAT Series』をご紹介します。 深さ5μm、Line Space 2/2対応。 透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定が可能です。 先進基板対応、高速・高精度3次元計測装置です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■深さ5μm、Line Space 2/2対応 ■透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定 ■ガラスコア対応可能な技術力と信頼 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【仕様(一部)】 ■パネルサイズ：Max.510mm×610mm ■スキャンスピード：Max.65um/s ■解像度：WSI＜0.5nm,PSI＜0.1nm,Fast CSI＜1.5nm ■スキャン動作：Closed-Loop Controlled Piezo Actuator ■照明：White LED Illumination ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
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企業情報
当社の検査対象分野は、プリント基板や半導体パッケージ、ディスプレイパネルなど。IT化の進展でますます成長する情報通信機器や普及著しいデジタル家電のコア部品です。プリント基板・半導体パッケージ・ディスプレイパネルは、目を見張るようなスピードで進化し、検査においてもより高精度な技術が求められます。当社は最先端の技術が要求されるこれらの検査分野において高いシェアを占め、「デファクト・スタンダード（業界標準）」と認知されるような製品を数多く世界中に送り出しています。