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K-VI-G100

最終更新日:2025年07月07日

株式会社クボタ計装
株式会社クボタ計装
  • 公式サイト

ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です! ・ウェハ(基板)の欠陥目視検査を自動化したい。 ・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。 ・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。 ・自動で欠陥弁別したい。 ■装置の特長 ・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。 ・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。 ・手動機/自動搬送(カセットtoカセット)とも提案可能です。 ・AI機能も実装しており、学習を進めることで 欠陥弁別精度向上が可能です。

    半導体検査/試験装置
K-VI-G100

ウェハ外観検査装置(自動目視検査装置)

K-VI-G100 ウェハ外観検査装置.png
K-VI-G100 ウェハ外観検査装置.png
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基本情報

【検出可能な最小欠陥】  30um 【対象形状】  円形:直径200mm以下  矩形:140mm□以下  ※上記以上のサイズを測定されたい場合、ご相談ください。 【検査時間】  100PPH

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この製品に関するニュース(1)

【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

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半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

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クボタは、人類の生存に欠かすことのできない食料・水・環境に関わる課題解決を通じて、豊かな社会と自然の循環を支えてきました。 クボタ精密機器事業ユニットおよびクボタ計装では「計量・計測技術」を基軸に、様々な産業で求められる、自動化・省力化、高精度での計測・制御、データ処理などのソリューションを提供し、社会の発展に貢献しています。

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