【特性評価テストとその他テストとの違いとは？】半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料を無料進呈中！
欠陥とは、デバイス（電子機器や回路）が通常とは違う動作をしてしまう原因となる問題のことです。 簡単に言うと、デバイスが意図した通りに動かない原因になる「不具合」や「エラー」です。 欠陥は、デバイスに何らかの刺激（入力）が加えられて、期待通りの結果が得られない場合に識別されます。 つまり、何かをテストしてみたときに、「こうなるはずなのに、違う結果になった」という状況が欠陥の検出です。 現在『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』を無料進呈中です。 欠陥モデルや残存欠陥など、その他基礎知識に関しても分かり易く解説をしておりますので ぜひご確認ください。 【資料掲載内容（一部抜粋）】 ■ICコンポーネントテストとは何か？ ■不良デバイスとは何か？ ■欠陥とは何か？ ■欠陥モデルとは何か？ ※『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』はPDFダウンロードボタンよりご確認ください！
この製品へのお問い合わせ
関連動画
基本情報
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
ロチェスターエレクトロニクスは、本社を米国マサチューセッツ州ニューベリーポートに置く、1981年創立の株式非公開の会社です。 70社以上の主要半導体メーカーより認定された、半導体製品を継続供給する業界最大手の正規販売代理店及び製造メーカーで、 150億個以上の製品在庫と7万種類以上の製品展開で、主に産業、航空、エネルギー、医療、通信、自動車、軍事や運輸などの主要マーケットに半導体の製造中止品や現行品の継続供給を提供しています。 日本では、東京池袋にあるサンシャイン６０および大阪にある新大阪阪急ビルにオフィスを構え、 日本の顧客へのサポートをしております。
