高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに！SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査
『LiSa SWIR 2048-M-STE2』は、0.9〜1.7µm帯を高感度に捉えるInGaAsラインスキャンカメラです。 2048×1画素・グローバルシャッタにより、フル解像度>110kHzの高速読出しと最短1µsの露光を実現。 14bit A/D（出力8/10/12/14bit）に対応し、ROIでスループットを最適化できます。 【特長】 ■ヒストグラムベースAGC、1点/2点NUC、欠陥画素補正、水平反転、ユーザープリセットを標準搭載 ■GenICam/GenCP準拠で既存検査ソフトとの親和性が高く、Camera Link Baseで堅牢に接続可能 ■6〜24V駆動、Cマウント、−40〜+71°C動作、調整式TECにより工場現場での安定運用を支援 （電源/トリガケーブル・12V電源同梱） ※詳しくはカタログダウンロードまたはお問い合わせください。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
・撮像素子：InGaAs（0.9–1.7µm）、2048×1、画素ピッチ8µm／画素高さ14µm、QE>80% ・読出し：グローバルシャッタ、ITR/IWR、フル>110kHz、露光1µs〜、14bit ADC（有効約4400DL）、 出力8/10/12/14bit、1X_1Y等の出力ジオメトリ設定可 ・トリガ：内部／外部（LVTTL）、ソフトウェア、Camera Link経由、可変ディレイ ・画像補正：AGC（Once/Manual）、NUC（1点/2点・工場25°C校正）、欠陥画素補正、水平反転、 ユーザープリセット×4、温度モニタ ・I/F/ソフト：Camera Link Base、GenICam/GenCP準拠、NITGenicamControlTool（Windows） ・機構/環境：35.4×75×68mm、約280g、Cマウント、−40〜+71°C、電源6〜24V、消費<4W（TEC最大<5W） ・付属：12V電源、電源/トリガケーブル（Hirose HR10）
価格帯
納期
用途／実績例
・太陽電池セル/モジュール検査（EL/PL） ・ウェーハ/半導体ラインの欠陥・位置決め検査 ・高温ガラス工程の外観・欠陥検査 ・食品/リサイクル工程の水分差・材質差選別（近赤外特性を利用） ・フィルム/コーティング/印刷の外観検査、異物・混入検知 など SWIR特性を活かした不可視情報の抽出により、可視検査の抜け漏れを補完し検査スループットと歩留まりの向上に寄与します。
カタログ（2）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
クロニクスの活躍している主なセグメントは、産業用、宇宙、防衛用の半導体と電子部品です。産業用ではマシンビジョンの分野でのCMOSイメージセンサ/カメラ、レンズなど、また赤外線ディテクタを販売しています。宇宙用半導体では、欧州の主要製造メーカーから製品を提供しています（LYNRED、STマイクロ、MICROCHIP、3D PLUSなど）また、MlL部品についても適切な価格で販売は伸びています。
