CrystalMaker と連携し、デバイス開発を加速
電子機器デバイスの開発において、材料の特性評価は製品の性能を左右する重要な要素です。CrystalMakerでシリコン、GaN、SiCなどの半導体や薄膜材料の結晶構造を可視化し、SingleCrystalで理論X線回折パターンを生成して実測データと照合することで、結晶方位・エピタキシャル成長の評価や欠陥解析が可能です。半導体デバイスや光電子部品の品質管理・開発に活用できます。 【活用シーン】 ・半導体デバイスの材料評価 ・薄膜デバイスの構造解析 ・電子部品の信頼性評価 【導入の効果】 ・材料特性の可視化による理解促進 ・デバイス設計の効率化 ・開発期間の短縮
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基本情報
【特長】 ・単結晶材料の回折パターンシミュレーション ・CrystalMaker との連携による動的パターン生成 ・逆格子表示、プリセッション法、ラウエ法など、多様な実験形態に対応 ・回折パターンの自動指数付け機能 ・3D での逆格子可視化による構造理解 サポート情報はヒューリンンクスのサイトへ https://www.hulinks.co.jp/software/singlecrystal/support/
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用途／実績例
結晶構造の可視化・解析：原子配置、結合状態、多面体構造を3Dで直感的に表示し、構造の理解や論文・プレゼン用図版の作成に活用 新規材料の構造モデリング：スーパーセル生成や原子置換により、合金・ドープ材料・欠陥構造などの仮想モデルを構築 界面・表面構造の設計： 異種材料の界面や薄膜構造をモデル化し、接合・積層材料の研究に活用 第一原理計算の前処理・後処理： CASTEPなどのDFTコードへの入力構造作成や、計算結果の電子密度・構造変化の可視化に使用 CrystalMaker、CrystalDiffract との連携による回折パターンのシミュレーション：X線・電子線・中性子回折のパターンを計算し、実験データとの比較・同定に利用
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企業情報
変化の激しい世界にあっても、創業以来ヒューリンクスの理念は変わりません。 人間のすばらしさは思考し、創造できること、そして新たな明日を切り拓いて 行けること。 人間の持つこの優れた能力 — 知的創造 — を支援する製品、また、より快適な 環境を提供すると共に生産性を向上させる、そんな選りすぐりのソリューション を提供する事により私達は社会に貢献したいと考えています。
