卓上AI外観検査装置『GE-03』

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最終更新日：2026年05月13日

微小な欠陥も簡単にAI検査！卓上AI外観検査装置

電子基板や細かいデザインパターンの検査では、微小なキズや汚れを見逃したくない一方で、良品のわずかな位置ズレまで拾ってしまうことがあります。『GE-03』は、0.1mmの微細な欠陥も卓上でAI検査できる外観検査装置です。数十枚の良品をAIが学習し、従来の画像処理手法では抑えにくかった過検出を1/10以下に低減。ステージ上の製品の位置ズレを自動で補正し、AI検出前の位置・回転ばらつきを減らすことで、安定した検査を実現します。検査領域ごとに基準を設定でき、重点的に見たい箇所は厳しく、その他は緩くなど柔軟に調整可能。キズ、汚れ、部品有無、打痕、異物などの検査に対応します。判定結果は大きな画面で確認でき、カメラや照明、治具、GPU搭載PCまで含めて提供できます。小型ワークの品質確認や工程内検査にも活用しやすい装置です。【特長】 ■0.1mmの微細欠陥を検査 ■過検出を1/10以下に低減 ■自動位置補正 ■領域ごとの検査基準設定 ■卓上で導入しやすい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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基本情報

【特長】・0.1mmの不良まで検出可能・数十枚の良品学習で過検出を抑制・製品の位置ズレを自動補正・検査領域ごとに基準設定が可能・キズ、汚れ、部品有無、打痕、異物などに対応【主な仕様】・対象サイズ：50〜250mm ・検出能力：0.1mmの不良まで検出可能・装置外形：W400×D400×H600mm ・装置重量：12kg ・標準画素分解能：500万画素・電源供給：AC100V 【当社の強み】ものづくりへの深い知見とデジタル分野での幅広い技術力を活かし、お客様のDXを支援します。コンサルティングからシステム開発、内製化まで一気通貫でサポートします。