誰でも簡単に、迅速に！高精度で、持ち運び可能な膜厚計、誕生
『SM-100P/SM-100S』は、反射分光法(光干渉法)という方式で 膜厚測定するスマート膜厚計です。 ハンディタイプで、1.1kgと軽く、持ち運びも簡単。基材(ガラス・プラスチック)を 選ばず様々なサンプルを測定可能です。 最薄0.1μmまで検量線不要で、サンプルを傷つけることもなく測定。 Proは最大3層までの多層膜用のアドバンスドモデル、Standardは リーズナブルな価格で、単層膜専用の簡単操作のエントリーモデルです。 【特長】 ■持ち運び可能なハンディタイプ ■多層膜も対応(機種 Pro対応) ■様々なサンプルを測定 ■高精度測定＆簡単測定 ■非破壊・非接触測定 ■分かりやすく操作しやすいインターフェース ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【仕様(一部)】 ■測定方式：反射分光法(光干涉法) ■測定膜厚範囲 ・SM-100S：1～50μm(単層) ・SM-100P：0.1～100μm(単層)、1～100μm(多層) ■多層対応：SM-100S(1層)、SM-100P(最大3層) ■測定波長範囲：400～1000 nm ■測定スポット径：1mm以下 ■本体重量：約1.1 kg ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【主な測定事例】 ■シリコンやガラス表面上の薄膜(SiO2、フォトレジスト、など) ■表面保護、接着性向上、耐熱性強化を目的とした樹脂や金属上のコーティング材 (フッ素系樹脂、ポリイミド、アクリル、シリコーン、など) ■フィルム(ポリエチレン、ポリプロピレン、など) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
早坂理工は、1947年の創業以来、商社でありながら技術力をもった考動集団として、 日本のものづくり、科学技術の発展に貢献して参りました これからも、つねに最適な「はかる技術」で演出する考動集団として社会に貢献することを 使命とし、時々刻々と変化する状況に対応しながら、 科学技術立国日本の成長をお手伝いして参ります。
