半導体ウェハーの欠陥特定を支援する製品をご紹介します！
半導体ウェハーの製造工程では、微細な欠陥の特定が製品の品質に直結します。特に、表面のわずかな傷や異物付着は、ウェハーの性能に影響を与える可能性があります。これらの欠陥を正確に捉えるためには、高精度な検査技術が求められます。 『Lシリーズ』は、医療照明の技術を応用したPHASERAYを搭載し、反射をキャンセルする特殊位相偏光技術などを備えることで、ウェハー表面の微細な欠陥特定を支援します。後付けが可能で、目視検査やインラインでの対応もでき、状況に応じたカスタマイズも可能です。 【活用シーン】 ・半導体ウェハー表面の傷、異物、コーティングムラなどの欠陥特定 ・製造ラインでのインライン検査 ・品質管理部門での目視検査補助 【導入の効果】 ・欠陥の見落としリスク低減 ・検査精度の向上 ・生産効率の改善
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基本情報
【特長】 ■後付けが可能 ■目視検査、インライン対応 ■状況に応じてカスタマイズ可能 ■金属・樹脂・ガラス・鏡面状物体・布などが対象で幅広い業界に対応 【当社の強み】 シンクロア株式会社の最大の強みは、世界初の特殊位相偏光技術「PHASERAY」を核にした“見たいものだけを可視化し、 見たくないものを不可視化する”高度な照明・可視化ソリューションを提供できる点です。 医療由来の高度な光学技術を工業分野へ応用し、外観検査の精度・効率・再現性を大幅に高めることを可能にします。 幅広い業界（自動車、半導体、電子部品、医薬品、食品）など多業界へのご提案が可能です。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■大型パレット検査用 ■ホイール検査用 ■ファクトリーオートメーション ■インゴット検査用 ■試薬検査用 ■サンルーフ用 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
企業情報
当社は、電機・電子・機械の専門商社です。 大手企業をはじめとした調達力やお客様の課題・要望に沿った提案力、 コンポーネントからシステムソリューションまでの幅広い製品などを 強みとしております。ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。
