目視では見つけにくい微細なキズ・欠陥を、独自の光学技術でワンショット検出
OneShotBRDFは、欠陥による散乱光の変化を捉えて微細なキズ・欠陥を認識しやすくする光学検査技術です。 キズによって発生した散乱光のわずかな変化を「多波長同軸開口フィルター」を通して撮像することで、微細欠陥の認識を簡易化します。 ■こんな課題はありませんか？ ・検査工程は熟練検査員に頼っているため検査コストが高くなる ・少子高齢化による人で不足 ・作業員ごとの検査品質のバラつき ・不良の見直しが発生するため顧客からの返品が発生 ・明確な検査エビデンスが残らない ■その課題、OneShotBRDFが解決します！ ✓検査時間の短縮、安定した検査品質の提供 ✓認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ✓多波長同軸開口による散乱光識別で高速検査 ✓画像認識困難なキズも、色で識別 ✓ゆるやかな3D曲面にも対応
この製品へのお問い合わせ
関連動画
基本情報
光学検査技術 OneShotBRDFは、熟練検査員による目視検査に頼っていた微細なキズや異物の検知を、 独自の散乱光検出技術によりワンショットで撮像・検知します。 ――― ポイント ―――――――――――――――――――――― ◆ 認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ◆ 多波長同軸開口フィルタによる散乱光識別でワンショットで高速検査 ◆ 散乱光を色分離し、微細欠陥を可視化 ◆検査対象物に合わせた３種類の技術をラインナップ ◆本技術はライセンスアウト方式にてご提供 ――――――――――――――――――――――――――――― ■ 検査対象物に合わせた3種類の「OneShotBRDF」技術タイプ TYPE1：光沢・平面素材のキズ検出 → エリアーセンサータイプ TYPE2：光沢・平面素材（長尺・枚葉もの）のキズ検出 → ラインセンサータイプ TYPE3：光沢・3D曲面のキズ検出 → アドバンスドエリアセンサータイプ
価格情報
ご質問・見積もりなどお気軽にお問い合わせください。 当社の製品・サービスは企業・団体・法人様向けに販売しております。
納期
用途／実績例
■表面探傷スコープ [東芝テリー株式会社製] 表面探傷スコープは「OneShotBRDF」を採用した製品です。 フラット面のキズをワンショットで検出するスコープです。 ・フラット面に付いた観測困難な微小傷を可視化 ・多波長同軸開口による散乱光識別で高速検査 ・画像識別困難なキズでも色で識別 ・高解像度USB3カメラ搭載でPC接続が容易
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
私たちは、エンベデッド、LSI設計の領域で、「長年積み重ねた豊富な経験と実績」、「高い技術力」により、お客様のビジネスに貢献する最適なソリューションを提供してまいります。
