CSP・BGA・MCM搭載基板の実装検査が簡単に行えるテスター
●PCベースでバウンダリスキャン・テストパターンを自動生成、検査します。 ●半田ブリッジ、オープン等、ピンレベルの不良解析が可能です（スキャンプラス・ ランナーADOオプション）。 ●検査機能には以下のものがあります。 ・TAP Integrity ・Interconnect ・Buswire ・Cluster ・メモリ、FIFOデバイステスト 技術サポート万全！ 治具まで含め全て引き受けられます。
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基本情報
狭ピッチリードやボールグリッドの出現により、テストプローブによるアクセスが困難になっているCSP、BGA、MCM等のSMTデバイス搭載基板の実装不良を確実に検出します。JTAGテストツールには、ScanExpress TPG（テストプログラム開発ソフト）、ScanExpress Runner（テスト実行ソフト）、ScanExpress ADO（不良解析ソフト）等があり、基板との接続にはコントローラ（I/F)が必要です。
価格情報
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納期
用途／実績例
JTAG対応デバイス（IEEE1149.1標準基準に対応）搭載の高密度実装基板の実装不良検査。特に、産業電子分野では、通信機器、業務用複写機、医療電子機器、サーバー、あるいはCPUボードのテストに偉力を発揮します。
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企業情報
エレクトロニクス業界は、スピード・コストパフォーマンス・コミュニケーション・省力化・独創性と新しい価値創造へ熾烈な展開が広げられています。私たちは、この前線でお客様と共鳴し合いながら、製品完成度の向上にお役に立ちたい信念のもと、各種基板検査装置のご提案、ファンクションテスタの開発、各種冶具（フィクスチャ）の開発・製造を通じ、貢献し続けて行きます。
