膜厚測定の現場ニーズに応える高性能膜厚計
各種ディスク、プリント基板、電子機器等、多様な製品の測定が可能!
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基本情報
蛍光X線膜厚測定器「XRF-2000series」は、 ●レーザーを用いた3次元オートコントロールステージが、 正確な位置出しと高精度測定を実現 ●モジュール化された内部構造と高寿命X線チューブが ランニングコストを大幅に削減 ●独自開発されたソフトウェアが作業精度の向上と測定結果の 迅速なレポート化に貢献(Microsoft Windows対応) ◆多様なモデルサイズ ※T、H、PCBの各タイプの提供だけでなく、生産現場における 希望に合わせて、サイズ変更やオプションのご要望にも対応
価格情報
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納期
用途/実績例
■ディスク ■プリント基板 ■各種電子部品 などのメッキ生産現場における膜厚測定の問題を一掃します。
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