次世代型リアルタイム超短パルス高精度計測・モニターによる保守管理が可能な pulseCheck NX
特長 ★スキャンレンジ50 psモデルは前例のない時間分解能、50 アトセカンドを達成。 ★エレクトロニクスは本体内蔵となり、TCP/IPを介したSCPIリモート制御可能。 ●TPA測定波長 ：250 – 3200 nm ●PD, PMT 測定波長 ：200 – 3200 nm, or 3 – 12 μm, ●測定パルス幅 ：5 fs – 15 ps or 10 fs – 40 ps or 20 fs – 500 ps (SM2000) ●トリガ入力による低繰返し周波数測定対応可能。 ●位相情報測定FROGオプション追加可能。 ●高精度・高ダイナミックレンジ・低ノイズ： 18bitにて高分解能アト秒のディレイと新しく開発されたsysytem-on-chipを基本とした設計により、レーテンシが少なく淀みない測定ができより高速に高精度な測定が可能 ●直感的なGUIと統合されたソフトウェアと包括的なデータ解析 ●自動テスト・リモートコントロール
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基本情報
スキャンタイプのオートコリレータでアライメントが簡単で、フェムト秒・ピコ秒レーザのパルス幅を簡単に計測できる。 小型で高性能タイプMini もある。
価格情報
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納期
用途／実績例
pulseCheck は拡張性の高い高性能タイプで、FROG、スロースキャン、ファイバーインプット等の豊富なオプションにより、高感度な各種測定が可能。
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企業情報
当社はレーザ発振器及び光学機器・部品の輸入販売からスタートし、世界の革新的で独創的な電子光学機器の輸入販売と高度な技術サービスの提供を通して発展してまいりました。 主要商品としては、半導体レーザからナノ・ピコ・フェムト秒レーザまで各種のレーザ光源を取り扱い、それらを調整・制御する各種機器及び計測機器を取り揃えております。光分光・分析の分野では高性能マルチスペクトルファイバー入射分光器とその応用計測システム（カラー・発光・吸収・ラマン分光・蛍光・プラズマ・LIBS等)と、サーマルイメージングIRカメラを提供しています。さらに薄膜技術の発展に対応して、薄膜密着強度試験機や光学干渉式膜厚モニタなど、薄膜計測機器を取扱っております。 今後は、ユーザーの要求に迅速に応えるべく、各種アプリケーション及びアフターサービスを充実させてまいります。今後も光とナノテクノロジーの分野にしっかりとした軸足を置き、市場の動向に対応して、皆様のお役に立つフロンティア商社として、更なる発展を目指してまいります。