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半導体検査/試験装置の週間閲覧数ランキング

更新日:2026年03月12日 集計期間:2026年03月04日〜2026年03月10日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

Dライトシリーズ02.jpg
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【異物・汚れ・傷の検出に】表面観察用ツール『Dライト』 新日本空調株式会社 ソリューション事業部

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【表面の異物・汚れ・傷を可視化!】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中

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X線TV検査装置『SFXシリーズ』 ソフテックス株式会社 営業本部

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高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現!コンパクトなX線TV検査装置

  • 半導体検査/試験装置
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磁気シールドキット PCパーマロイ 株式会社オータマ

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パーマロイの性質、磁気シールド性能を手軽に知ることができるキット

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周波数超高安定化HeNeレーザー『YS-307』 株式会社光響

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10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに2000台超の納品実績。

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  • 半導体検査/試験装置
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thk_logo.png
リニアガイド(リニアモーションガイド)[THK公式] THK株式会社

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工作機械、半導体・液晶製造装置、産業用ロボット、医療・福祉、輸送機器、建築・建設、航空・宇宙、等の幅広い産業でご利用されます!

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  • 半導体検査/試験装置
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twinlinks_logo.jpg
300mmウェハケース ツインリンクス株式会社

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300mmウェハケース

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マーク100%.png
テストソケット プローブピン挿抜装置 株式会社シェルテクノ

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プローブピンの全ピン自動挿入。任意の指定ピン交換も可能。

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半導体製造工程用ウェハ支持部材(CFRP製ウェハリング開発品) フドー株式会社 本社

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ダイシングフレーム(ウェハリング)をCFRP3Dプリント技術により開発。軽量で高剛性のためウェハの搬送性に優れます。

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  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体
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安定的な電気検査が可能な加圧導電性シートとは?※技術資料進呈 株式会社JMT

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半導体後工程検査にて安定した検査が可能なシートソケット!高速・高密度測定を可能にする「PCR」とは?動作原理等の技術資料を進呈!

  • その他電子部品
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  • 半導体検査/試験装置
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高照度LED照明装置 SELONE N セナーアンドバーンズ株式会社

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ウェハ、レンズ、ガラス基板表面目視検査に適しています。

  • 半導体検査/試験装置
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ラインスキャンカメラ『LiSa SWIR 2K 』 クロニクス株式会社

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高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに!SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査

  • モノクロカメラ
  • 半導体検査/試験装置
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TDDB3.jpg
【株式会社クオルテック ロゴ】.jpg
TDDB(酸化膜破壊)試験 株式会社クオルテック

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寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要

  • 半導体検査/試験装置
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Test Burn-In Tester ディ・アイジャパン株式会社

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さまざまなパッケージバーンインテストシステムを多数ラインアップ!

  • 半導体検査/試験装置
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高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』.jpg
logo.jpg
高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』 株式会社アプコ

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SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがきが可能

  • 半導体検査/試験装置
  • マイクロスコープ
  • その他加工機械
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EzSPD_DDR4.jpg
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DDR2/3/4/5 SPDプログラマー 有限会社シーピーアイ

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Windows PCからDIMM/SODIMMのSPD読み出し、保存、書込が可能なSPD EEPROMプログラマー。

  • メモリ
  • 半導体検査/試験装置
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Semilab_RGB_R.jpg
結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式) 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置
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JEM_mark.png
半導体検査用部品『プローブカード』 日本電子材料株式会社

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半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優れたプローブカード

  • 検査治具
  • 半導体検査/試験装置
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超高精度6軸アライメントステージ「RSTZシリーズ」 神津精機株式会社

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X-Y-Z-θx-θy-θzの全方向において、高精度アライメント(ターゲット1μm以下)が可能になりました。

  • スパッタリング装置
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半導体検査(ウエハテスト)サービス 株式会社菱進テック

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電気特性検査、レーザートリミング、信頼性試験など当社におまかせ!

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  • 半導体検査/試験装置
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半導体ウエハレーザートリミングの委託 株式会社菱進テック

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量産効率やトリミング精度向上を目的としたレイアウト設計をご提案致します

  • その他半導体
  • 半導体検査/試験装置
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プロービングハンドラ.png
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プロービングハンドラ『PCP-103SL/303N』 株式会社プラムファイブ

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多数個同測に対応したプロービングを実現!ダイシング後の位置ずれを補正

  • プローブ
  • 半導体検査/試験装置
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K-LE-G200 レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置.png
kubotalogo.png
レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置 株式会社クボタ計装

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レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

  • 半導体検査/試験装置
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WS000001.JPG
ウェハ対応 マイクロボール検査リペアシステム BM-1150WR 日精株式会社 本社

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独自の画像処理と実績を重ねたリペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行

  • 半導体検査/試験装置
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TD Imaging | 半導体故障解析装置(発熱計測) 東機通商株式会社

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熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。

  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置
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ウェハ搬送と整列を自動化・高効率化!半導体製造工程をスマートに 玉川エンジニアリング株式会社

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半導体製造工程の効率化と品質向上に貢献。専用部品がないのでメンテナンスしやすく、早期復旧が可能です。低コストを実現しています。

  • 半導体検査/試験装置
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スライド8.PNG
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表面異物高感度識別可視化システム「Dスコープ」 新日本空調株式会社 ソリューション事業部

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高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。

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上野精機株式会社.png
ウェハーピックアップ型高速ハンドラー『RS-evo』 上野精機株式会社

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最小0.4×0.2mm、t0.1mm以下の薄型製品にも対応

  • 半導体検査/試験装置
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世界トップクラスのデバイス プログラマ製品 ミカサ商事株式会社

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最先端レベルのFlashメモリ書込みとセキュアデバイスプロビジョニングにいち早く対応し、国内の幅広い用途に拡販!

  • その他半導体製造装置
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WL25V+WS58V ウェーハ 動特性テストシステム 株式会社シバソク

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業界初 ウェーハ試験で大電流の動特性試験を実現

  • 半導体検査/試験装置
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PN判定器 【PN-1S】 ナプソン株式会社

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PN判定器 【PN-1S】

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
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ボード端子 株式会社オリナス 東京営業所、名古屋営業所、京都営業所、大阪営業所、香港

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  • 半導体検査/試験装置
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  • その他電子部品
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高電圧コネクタ 日本コネクト工業株式会社

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高電圧コネクタ

  • 半導体検査/試験装置
  • その他コネクタ
  • その他の自動車部品
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CD-SEM 株式会社インターテック販売 東京本社(拠点-関西営業所、熊本営業所)

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圧倒的なシェアを誇るCDSEM、日立S8000&S9000シリーズ。装置は常時在庫保有、デモ体制完備しております。

  • 半導体検査/試験装置
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非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能

  • その他計測・記録・測定器
  • 半導体検査/試験装置
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高さ測定に最適!干渉対物レンズ 2.5X,5X,10X【貸出可】 株式会社清和光学製作所

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干渉対物レンズ

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  • その他画像関連機器
  • レンズ
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半導体検査用プローブ 先端材質・先端形状…各種選定可能 株式会社精研 本社

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測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選定可能な半導体検査用プローブ!

  • 半導体検査/試験装置
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電動アクチュエータ リニアモータシリーズ RDM-mini THK株式会社

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コアレスロッドタイプ、小型のリニアモータアクチュエータ

  • 半導体検査/試験装置
  • アクチュエーター
  • その他FA機器
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株式会社SYNAX 事業紹介 株式会社SYNAX

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  • 半導体検査/試験装置
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NX1032XS.png
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株式会社NSテクノロジーズ ICテストハンドラNX-1032XS 兼松PWS株式会社

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*フラグシップモデル                           優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

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【資料進呈中!】半導体試験に関する6つの主な課題解決事例集 株式会社菱進テック

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半導体試験に関する課題の解決事例を背景・課題・導入・成果の4項目で分かりやすく解説!

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  • その他半導体製造装置
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株式会社テック・エンジニアリング 取扱い製品 総合カタログ 株式会社テック・エンジニアリング

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半導体関連製品やクリーンルーム設備などの製品を紹介します。

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2020-03-27_11h51_26.png
Metrohm_J-kana_rogo_170X57.jpg
【イオンクロマトグラフ】H2O2中トリメチルアミンと標準陽イオン メトロームジャパン株式会社 本社

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半導体製造向け過酸化水素トリメチルアミンと標準陽イオンの測定をイオンクロマトグラフィー法で測定

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営業品目220.jpg
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藤森電機工業 営業品目 株式会社フジメック

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難削材加工をはじめとして、半田付けや溶接、組立の技術を、お客様に一貫生産でご提供

  • 半導体検査/試験装置
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遠隔支援_表202011.jpg
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遠隔作業⽀援・録画システム「アイちゃん」プロフェッショナル版! 株式会社APC

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国⼟交通省「建設現場における遠隔臨場の試⾏⽅針」基準をクリア 遠隔作業⽀援・録画システム「アイちゃん」プロフェッショナル版

  • 半導体検査/試験装置
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特注ギヤボックスなら協育にお任せください!! 株式会社協育

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KGギヤBOXのノウハウを活かしてお客様のお悩みを解決します!! ◆特殊環境仕様 ◆高速回転仕様 ◆省スペース化

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周波数超高安定化HeNeレーザー『QS』 株式会社光響

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幅広い分野のナノメートル計測に。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。

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  • 半導体検査/試験装置
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131002_CIS_NewLogo.jpg
小型・高速・長距離伝送が可能な高画素カメラシリーズ 株式会社シーアイエス

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基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレームレート・長距離伝送・多CH接続が可能なカメラシリーズ

  • 半導体検査/試験装置
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131002_CIS_NewLogo.jpg
2100万画素高速CoaXPress-over-Fiberカメラ 株式会社シーアイエス

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最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!

  • 半導体検査/試験装置
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両面顕微鏡用自動搬送機構.png
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半導体製造関連 【半導体ウェハ自動搬送装置】 株式会社ライズワン

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検査機に対して半導体ウェハを自動供給する装置です。除振機構を採用、検査時の振動を防ぎます。

  • 半導体検査/試験装置
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レーザーダイオード検査装置『LD1220TB』 アルファクス株式会社

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LDをトレイ収納状態で供給し、自動でピックアップ、計測を連続して行います!

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  • 半導体検査/試験装置
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ウェーハ厚さ測定機(TMEシリーズ) 株式会社ジャステム

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大人気のTMEシリーズ

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手動式ウェーハ厚さ測定機(STM-06型) 株式会社ジャステム

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φ4"以下の各種素材ウェーハの厚さ測定

  • 半導体検査/試験装置
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非接触式 直径測定器(DMC-01型) 株式会社ジャステム

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画像処理によりウェーハの端面を検出し、直径を測定する装置です。

  • 半導体検査/試験装置
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ウェーハハンドリング装置(CHI-02型) 株式会社ジャステム

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シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置です

  • 半導体検査/試験装置
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エッジ検査ハンドリング装置(EHI-01型) 株式会社ジャステム

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φ300 mmシリコンウェーハを目視でエッジ検査(チップ・カケ検査)する為の装置です

  • 半導体検査/試験装置
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ロゴマーク赤縦.png
プレート上ウェーハ厚さ測定機 (TME-12型) 株式会社ジャステム

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セラミックプレートに貼り付けられたウェーハの厚さを光学プローブ/センサにて非接触測定する装置です。

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  • その他半導体製造装置
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UV(紫外線)フィルム硬化装置|LED光源仕様「UVC-708」 株式会社テクノビジョン 本社

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波長365nmのUV-LEDを使用、常温照射、低ランニングコストです!

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SFC_和名英字アレンジ.png
【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価 セイコーフューチャークリエーション株式会社

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STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます

  • 半導体検査/試験装置
  • 受託解析
  • その他半導体
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logo.jpg
石英ガラス製マイクロチップ テクノクオーツ株式会社

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耐薬品性、耐熱性、紫外線透過性に優れた高純度材料からできたマイクロチップです。

  • 半導体検査/試験装置
  • ガラス
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協立テストシステム株式会社 事業紹介 協立テストシステム株式会社

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協立テストシステムはあらゆる基板の検査に対応させていただきます。

  • 半導体検査/試験装置
  • 基板検査装置
  • 外観検査装置
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ウェハIDリーダー/ソーター 玉川エンジニアリング株式会社

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バラバラになったウェハーをロットナンバー順に整列させる装置

  • 半導体検査/試験装置
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ワイヤーソーメインローラー溝形状検査装置 型式 MRI-1500 アローズエンジニアリング株式会社

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ワイヤー切断機のメインローラー溝形状検査機。ローラーに検査機を載せ溝形状プロファイルモニターと形状の画像が計測可能。

  • 半導体検査/試験装置
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1MitsuiECロゴマーク(ブルー).jpg
動的遠心加速度試験装置 Model DAT-1 三井電気精機株式会社

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今までリアルタイムで測定できなかった半導体の加速度試験が測定できます。

  • 半導体検査/試験装置
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CTT3700.png
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パワー半導体 ICテスター CTT3700 CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人

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低価格、高精度を実現するために日本メーカーのテスターから海外メーカーのテスターへ。

  • テスタ
  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置
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CM2030.jpg
会社ロゴ.PNG
モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール) CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人

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CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、お客様ニーズに対応するためフルカスタマイズすることが可能。

  • 半導体検査/試験装置
  • 基板検査装置
  • 外観検査装置
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会社ロゴ.PNG
アナログテスタ CTA8280 CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人

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CTA8280はアナログ製品に特化したICテスタになります。電圧、電流の精度が高いことが特徴です。

  • 半導体検査/試験装置
  • テスタ
  • その他半導体製造装置
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CTA8290_ReducedSize.png
会社ロゴ.PNG
【お気軽にどうぞ!】資料無料進呈中!半導体ICテスターの選定方法 CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人

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低価格、高性能の半導体ICテスターを選ぶならCCTECH製。手厚いサポートが可能な理由を公開中!

  • 半導体検査/試験装置
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2025年6月11日JIMDO用写真(2019年5月4日?).JPG
ワイヤープローブの評価技術の提供 プロセスD&Tラボ 千葉

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ワイヤープローブの摩耗に関する理論的解析のご紹介

  • プローブ
  • テスタ
  • 半導体検査/試験装置
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螢幕擷取畫面 2023-06-27 152052.jpg
WinWay logo-01.jpg
テストソケットリッド/フタ/Manual lid WinWay Technology Co., Ltd.

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多様な構造に熱制御もできるフタでお客様のご要望を満足する

  • 試験機器・装置
  • 半導体検査/試験装置
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ATC.png
WinWay logo-01.jpg
熱制御システム ATC 能動式温度コントローラ WinWay Technology Co., Ltd.

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評価テストから量産テストまであらゆるテスト環境に適用!

  • 半導体検査/試験装置
  • 温湿度制御
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コミュニケーションロゴ.jpg
共和電業試験測定用動ひずみ測定器『DPM-900 Series』 丸文通商株式会社

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高安定、高精度ひずみ測定用アンプでかんたん設定を実現!インバータノイズに強いタイプもご用意

  • その他計測・記録・測定器
  • 半導体検査/試験装置
  • 衝撃試験
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円2.jpg
会社ロゴ.png
レーザー微細加工:セラミック切断加工 株式会社光機械製作所 HIKARI LASER LAB.

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レーザー形状加工:脆性材料のセラミックを切断加工

  • 加工受託
  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置
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製品.PNG
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板金加工サービス 株式会社渡辺製作所

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精密板金から大物加工まで、幅広い板金加工に対応します!

  • 加工受託
  • 半導体検査/試験装置
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M1883.jpg
MATロゴ(2行).png
ユニバーサルプログラマ MODEL1883 ミナト・アドバンスト・テクノロジーズ株式会社

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膨大な種類のプログラマブルデバイス対応したコンパクト設計のデバイスプログラマ

  • 半導体検査/試験装置
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CMWシリーズ.jpg
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高純度ライン用チェックバルブ(逆止弁)『CMWシリーズ』 株式会社ハムレット・モトヤマ・ジャパン

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半導体製造装置の要求するクリーン度で対応。ステンレス316L製、高純度ライン用、溶接型コンパクトチェックバルブCMWシリーズ。

  • バルブ
  • 配管材
  • 半導体検査/試験装置
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NC10新[イプロス].jpg
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抵抗率/シート抵抗測定器【NC-10】 ナプソン株式会社

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抵抗率/シート抵抗測定器【NC-10】

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
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PN50Alha[イプロス].jpg
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PN判定器 【PN-50α】 ナプソン株式会社

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PN判定器 【PN-50α】

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
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SU-320.jpg
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IC.プログラマー SU-320 三友電子工業株式会社

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『台湾・リープ社』製、世界の主要半導体メーカーから認定を受けたICプログラマーのメーカーです。

  • 半導体検査/試験装置
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装置外観写真3.jpg
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ウエハエッジプロファイル計測装置 大倉インダストリー株式会社

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従来の約10倍の高速計測機能!数秒でエッジ部の形状取得が可能です!

  • 半導体検査/試験装置
  • ウエハ加工/研磨装置
  • 画像解析ソフト
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logo.jpg
リード抵抗 株式会社オリナス 東京営業所、名古屋営業所、京都営業所、大阪営業所、香港

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用途に合わせた幅広い提案が可能です。

  • 射出成形機
  • 半導体検査/試験装置
  • 抵抗器
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タンタルコンデンサ 株式会社オリナス 東京営業所、名古屋営業所、京都営業所、大阪営業所、香港

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世界シェアトップのタンタルコンデンサ。

  • 半導体検査/試験装置
  • 分析機器・装置
  • コンデンサ
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logo2.jpg
ペレット・パウダ異物検査装置 株式会社ヒューブレイン

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独自開発の検査機構でペレットやパウダの異物および変色を検出!

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
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FOURPロードポートN2パージ改造.png
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FOURPロードポートN2パージ改造 株式会社トリコ 東京支店

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現在のFOUPロードポートを8時間でN2パージ機能に改造できるキットを開発。3000台の納入実績があります。

  • その他半導体製造装置
  • 半導体検査/試験装置
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会社ロゴ.gif
集積化ガスシステム対応圧力センサー 株式会社ピー・ジェイ

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各種集積化ガスシステム用圧力センサー

  • 半導体検査/試験装置
  • CVD装置
  • 丸型コネクタ
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会社ロゴ.gif
微少流量超小型セラミックガスフィルター 株式会社ピー・ジェイ

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SPCシリーズは超小型(φ21×84mm)、軽量(90g)に設計されております。

  • 半導体検査/試験装置
  • CVD装置
  • ガスフィルタ
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FBRシリーズ.jpg
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ガスフィルター用ジャケットヒーター 株式会社ピー・ジェイ

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200℃の高温でガスフィルターをベーキングする画期的なベーキングヒーターです。

  • 半導体検査/試験装置
  • CVD装置
  • その他半導体製造装置
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GCWシリーズ.jpg
会社ロゴ.gif
小型ガス精製器用ジャケットヒーター 株式会社ピー・ジェイ

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ピュアロン製小型ガス精製器を効率良くヒーティングするために専用で開発致しました。

  • 半導体検査/試験装置
  • CVD装置
  • その他半導体製造装置
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【納入実績】パワー半導体検査装置 応用電機株式会社 神奈川事業部(大和工場)

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計測とメカトロをシステム化!応用電機の納入実績をご紹介

  • その他計測・記録・測定器
  • その他検査機器・装置
  • 半導体検査/試験装置
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スクリーンショット 2025-07-10 134900.png
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X線ウェーハバンプ自動検査装置『Six-3000』 株式会社アイビット

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ウェーハ上のはんだバンプの検査を自動で行うX線自動検査装置

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置
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115133001.image_data.gif
logo_ASTRON_500_color_white.png
設計データを高速表示するプログラム 株式会社アストロン

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低価格レイアウトビューア 液晶/半導体設計、検証用

  • 半導体検査/試験装置
  • その他CAD
  • その他解析
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3D.JPG
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非接触3D表面形状測定システム 株式会社ウェル

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非接触3D表面形状測定システム

  • 半導体検査/試験装置
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W-CSP検査用 プローブーカード 理化電子株式会社

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W-CSP検査用 プローブーカード

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体
  • プリント基板
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MBE装置.jpg
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分子線エピタキシー(MBE)装置 北野精機株式会社

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コンパクトなサイズ(1インチ〜2インチ)対応のMBE装置です。

  • 真空機器
  • 半導体検査/試験装置
  • 蒸着装置
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Semilab_RGB_R.jpg
ライフタイム測定装置 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります

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拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定!オプションにより表面抵抗測定可!

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マイクロポジィショナー・テストポジュショナー 株式会社キーストンインターナショナル

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多くのオプションを用意!工業用途やメディカル、一般理化学用途等にお使い頂けます!

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半導体カセット寸法検査装置『FSMシリーズ』 株式会社清和光学製作所

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半導体周辺機器検査の新スタンダードを目指して!広視野撮像によってタクトを短縮します

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硬質アルマイト1.jpg
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硬質アルマイト処理 三和メッキ工業株式会社

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硬度や耐摩耗性を上げることが出来ます。

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s_cim1.gif
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PowerCIM SECS通信支援ツール テクノシステム株式会社

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Tatenologo721.jpg
USB-to-I2C Professional 立野電脳株式会社

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