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更新日:2025年12月04日 集計期間:2025年11月26日〜2025年12月02日 ※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
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高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現!コンパクトなX線TV検査装置
ウェハ、レンズ、ガラス基板表面目視検査に適しています。
X-Y-Z-θx-θy-θzの全方向において、高精度アライメント(ターゲット1μm以下)が可能になりました。
独自の画像処理と実績を重ねたリペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行
最小0.4×0.2mm、t0.1mm以下の薄型製品にも対応
異方性導電シート
半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優れたプローブカード
半導体・各種産業向けの蒸着装置、スパッタ装置、CVD装置等の成膜装置の設計・製作を行っております。
LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能!多様なオートメーション要求に対応
様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます
低価格、高性能の半導体ICテスターを選ぶならCCTECH製。手厚いサポートが可能な理由を公開中!
計測とメカトロをシステム化!応用電機の納入実績をご紹介
Windows PCからDIMM/SODIMMのSPD読み出し、保存、書込が可能なSPD EEPROMプログラマー。
工作機械、半導体・液晶製造装置、産業用ロボット、医療・福祉、輸送機器、建築・建設、航空・宇宙、等の幅広い産業でご利用されます!
熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。
ワイヤー切断機のメインローラー溝形状検査機。ローラーに検査機を載せ溝形状プロファイルモニターと形状の画像が計測可能。
【表面の異物・汚れ・傷を可視化!】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中
高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。
テスト、6面外観検査、レーザーマーキング、テーピングの一貫機
ナノパターンの高速・高精度計測が可能なフォトマスク用CD-SEM
異なったICの異なった試験を同時に実行可能
過酷な環境に強い。PP加工でタンクからダクトまで自在対応
プローブピンの全ピン自動挿入。任意の指定ピン交換も可能。
膨大な種類のプログラマブルデバイス対応したコンパクト設計のデバイスプログラマ
電磁スキャナー式(特許取得済み) ダメージレスで非破壊で測定可能 低コストを実現。高額なAFMと同等の機能を有します
接液部にテフロンを使用
簡単操作、高精度測定!安価で、初心者でも使いやすい半導体パラメータ測定ソフト
高精度測定・簡単操作
OYM-401は実体顕微鏡に対応したマニュアルプローバです。複数台のポジショナを搭載し、容易にプロービングが行えます。
GEM規格に準拠した通信ドライバー
ナノメートル精度のポジショニングステージ。半導体検査装置、半導体製造装置に!
鋳鉄硬度の約2倍!高精度測定に最適で短納期・低コストの精密石定盤
高精度・なめらかな動きを実現
エラストマーシールから置換!当社のメタルシールをご紹介
結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可能!
生活をよりシンプルに・快適にする製品をお届けします
KGギヤBOXのノウハウを活かしてお客様のお悩みを解決します!! ◆特殊環境仕様 ◆高速回転仕様 ◆省スペース化
幅広い分野のナノメートル計測に。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。
炭化ケイ素、窒化ケイ素はJFCにお任せ下さい
電波遮蔽性能と遮音性能を併せ持つ防音シールドルームで、良好な検査環境を構築!
検査機に対して半導体ウェハを自動供給する装置です。除振機構を採用、検査時の振動を防ぎます。
難削材加工をはじめとして、半田付けや溶接、組立の技術を、お客様に一貫生産でご提供
φ300 mmシリコンウェーハを目視でエッジ検査(チップ・カケ検査)する為の装置です
スーパーエンジニアリングプラスチック/切削加工/半導体装置・医療機器部品・食品機械部品など各種業界経験多数!
協立テストシステムはあらゆる基板の検査に対応させていただきます。
カムと歯車のソフトウェア
高速画像処理と独自開発リペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行
300mmウェハケース
樹脂切削加工
25枚のウェハを、1度にキャリアやボートに移載させる装置
半導体製造工程の効率化と品質向上に貢献。専用部品がないのでメンテナンスしやすく、早期復旧が可能です。低コストを実現しています。
恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能!信頼性試験をご紹介
寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要
静電気が電子機器や半導体部品に放電した際の耐性を、様々なモデル法を用いて幅広く評価します
ハンドラと組み合わせ自由の温度コントロールユニット
静電気対策、帯電防止など大気環境から真空環境まで実績があります
様々な用途で使用可能!有機デバイス等のパターニングや、IC等のメタル配線カット等
初期不良の減少を果たすバーンインシステムなどをラインアップ!
CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、お客様ニーズに対応するためフルカスタマイズすることが可能。
従来のプローバーから大幅にサイズダウン、価格を下げたウルトラローコストプローバー。
様々なパッケージスタイルに対応することが可能!より容易なデータ管理を実現可能
抵抗率/シート抵抗測定器【NC-10】
抵抗率/シート抵抗測定器【WS-3000】
抵抗率/シート抵抗測定器【WS-8800】
PN判定器 【PN-1S】
u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります
現在のFOUPロードポートを8時間でN2パージ機能に改造できるキットを開発。3000台の納入実績があります。
産業用途向けにノイズ耐量を強化!フロッピーディスクドライブの代替品として動作実現します
MWC6000
半導体カーブトレーサは、最大ピーク3000V/最大ピーク電流1000Aまで対応可能な最新鋭の装置です。
3300V耐圧のパワーデバイスのブレークダウン測定に最適。
高加速度試験(最大34,000rpm、100,000G)。槽内温度コントロールが可能。JIS、MIL、IEC等の規格試験に対応。
各種DDR4 DIMMのテストが可能なファンクションテスター
低価格レイアウト高速ビューア 半導体/液晶設計データ検証用
高速多マルチ検査が可能になりました。
検査効率UPをお約束します!!
設計仕様書に組み込まれていることが多いへリコイル。母材へ埋め込むことにより、ねじ山強度を向上させ繰り返しの使用を可能に!
半導体製造用装置に用いられる各種精密治工具のジャンルごとの製品情報から個々の製品仕様までご紹介します。
ステージ上のパーティクルをインラインクリーニング ウェハ型ステージクリーナー
高速フォーカス・高精度検出、ウエハ反りなどによる焦点誤差を解消!
セラミックスベアリング
独自の『LabVIEW』計測技術を用いた複数規格対応『RFID総合試験機』
ピカリング製スイッチとLabVIEWを組み合わせたファンクションテスター
計測 / 制御 / 測定/メカトロ二クスの設計・製作
厚さ20μm極薄いウエハを曲げ、反り、損傷せずにに非接触にて搬送 する。
★半導体における、チップレット・先端パッケージ技術・チップレットパッケージング用技術・材料・装置の構成で業界、市場動向を分析!
半導体研磨加工の匠集団
TO220系デバイス 高温測定検査 装置
半導体フレームへレーザーマークする装置。独自のグリップ搬送機構により、フレームの高速搬送、ジャミング無しを達成!
圧電素子の分極を行う為の実験用分極装置をご紹介!
SUS304 t1.0薄板使用(溶接あり)
半導体検査装置や測定器の設計制作を得意とする当社におまかせ
パッケージレベルとウェーハレベルで複数のDUTを一括処理!FET単体トランジスタ特性からTDDB評価にも対応
高安定、高精度ひずみ測定用アンプでかんたん設定を実現!インバータノイズに強いタイプもご用意
MEMSデバイスの測定に好適!温度環境下測定にも対応
お客様の立場に立って、優れた製品、サービスを適正な価格で提供します。
半導体後工程検査にて安定した検査が可能なシートソケット!高速・高密度測定を可能にする「PCR」とは?動作原理等の技術資料を進呈!
広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好適な超高画素カメラ (250M/127M)
10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに2000台超の納品実績。
1 mあたりの計測誤差0.1 nm。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。