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更新日:2025年10月09日 集計期間:2025年10月01日〜2025年10月07日 ※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
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X-Y-Z-θx-θy-θzの全方向において、高精度アライメント(ターゲット1μm以下)が可能になりました。
生活をよりシンプルに・快適にする製品をお届けします
基板通電検査・外観検査システム、FA自動化までフルサポート! TAIYO FPC SOLUTIONS!
半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優れたプローブカード
評価テストから量産テストまであらゆるテスト環境に適用!
ウェハ、レンズ、ガラス基板表面目視検査に適しています。
半導体の強度検査・表面検査・環境試験など様々なアプリケーションノートをご紹介
抵抗率/シート抵抗測定器【WS-3000】
樹脂、プラスチックの原料検査に最適! 独自開発の検査機構でペレットやパウダの練り込み異物および変色を検出! ※9μmの検出が可能
ミックスドシグナルICテスタ ECOIC-M1
AI外観検査システムを大幅コストダウン!! もっと手軽に、もっと簡単に、短期間で導入できるスターターセット
高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに!SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査
最短半日見積り/A5052(アルミ材)/真空チャック用先端部によるNC旋盤加工+アルマイト処理です。
スーパーエンジニアリングプラスチック/切削加工/半導体装置・医療機器部品・食品機械部品など各種業界経験多数!
電波遮蔽性能と遮音性能を併せ持つ防音シールドルームで、良好な検査環境を構築!
シリコンウェーハを専用カセットからエッジハンドリングで取り出し、設定されたパターンの厚さ測定を行う装置です。
熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。
装置のロングライフ運転に成功しました。脱気装置の高耐久性は、送液ポンプのトラブル回避と流量再現性や、安定性には最も欠かせません。
EMC/EMI関連・RF関連・高周波関連に最適な基板設計技術紹介
最小0.4×0.2mm、t0.1mm以下の薄型製品にも対応
プローブピンの全ピン自動挿入。任意の指定ピン交換も可能。
ステンレス316製、高温・高圧対応ボールバルブ(ボール弁)『H6800シリーズ』。耐圧は最高41MPaまで対応。
全ての材質にハステロイを使用
ピュアロン製小型ガス精製器を効率良くヒーティングするために専用で開発致しました。
電圧測定に最適!プローブの浮遊容量が極小+インピーダンスが無限!
Windows PCからDIMM/SODIMMのSPD読み出し、保存、書込が可能なSPD EEPROMプログラマー。
SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがきが可能
12インチマニュアルプローバー
高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現!コンパクトなX線TV検査装置
ディスクリート半導体の静特性を自動測定!~50kv・~1200Aまで対応可能なパワーデバイス/モジュール用テスター
ハイコストパフォーマンス ミックスドシグナルテスター
量産効率やトリミング精度向上を目的としたレイアウト設計をご提案致します
N2圧送とポンプ圧送を選択可能!
ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現
ダブルテーブル/シャトル式!FC-CSP/大型個片基板向けの検査装置
LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能!多様なオートメーション要求に対応
炭化ケイ素、窒化ケイ素はJFCにお任せ下さい
最大425fpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!
最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!
半導体位置検出素子といい、スポット状の光の位置を検出できる光センサーです。
Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定
φ100mm~φ150mmのSi、SiC等ウェーハの厚さ測定
φ2”、φ4”またはφ6”サイズの化合物半導体ウェーハの厚さ測定
本機械は、半導体製造工程でφ8”ウェハのマクロ検査及びミクロ検査を行う装置です
耐薬品性、耐熱性、紫外線透過性に優れた高純度材料からできたマイクロチップです。
様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます
寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要
電子機器の量産に適したデータ書込みと書込み作業の自動化、品質向上、作業履歴のトレースに最適
最先端レベルのFlashメモリ書込みとセキュアデバイスプロビジョニングにいち早く対応し、国内の幅広い用途に拡販!
お客様のご要望に応じて、カスタマイズ設計・製作可能!
半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを2台使用し、タクトタイムを1/2に削減。3Dバンプの検査も可能。
供試体にトルクを負荷し、耐久・性能各種試験を行います
9×7mmサイズのSCカットOCXOです。周波数=50MHz。±20ppb(-40~+85℃)の高安定・VC調整端。標準在庫品。
パーカー A-LOK 計装用チューブ継手
オプティマイズドDCテストシステム
業界初 ウェーハ試験で大電流の動特性試験を実現
少量多品種の生産に好適!オペレータのスキルを必要としない操作性に優れた装置
様々なパッケージスタイルに対応することが可能!より容易なデータ管理を実現可能
次世代メモリに対応した量産用16個書き超高速ギヤングプログラマ
膨大な種類のプログラマブルデバイス対応したコンパクト設計のデバイスプログラマ
ステンレス316製、高温・高圧対応ティ型&インラインフィルタ『H-600シリーズ』。エレメント交換が可能なフィルタです。
要求の厳しい複雑な表面測定に対応する高精度3D表面計測
抵抗率/シート抵抗測定器【NC-10】
抵抗率/シート抵抗測定器 【EC-80】
抵抗率/シート抵抗測定器【RT-3000/RS-1300】
PN判定器 【PN-1S】
産業用途向けにノイズ耐量を強化!フロッピーディスクドライブの代替品として動作実現します
用途に合わせた幅広い提案が可能です。
結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)
ロールツーロール分光エリプソメータ
不良及び結晶欠陥の解析に有効!幅広いクライオスタット用のインターフェイスを装備
PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定!オプションにより表面抵抗測定可!
独自開発の検査機構でペレットやパウダの異物および変色を検出!
高電圧コネクタ
振動/衝撃試験用治具の設計・製作も行います。
半導体カーブトレーサは、最大ピーク3000V/最大ピーク電流1000Aまで対応可能な最新鋭の装置です。
1500A/5kVにローコストで対応!最新のパワーデバイスに対応した「半導体カーブトレーサCS-5400」
パワーデバイスの特性測定に最適!高速鉄道などで使われるパワーデバイスも含め、あらゆるパワーデバイスの測定をカバーします。
低価格レイアウトビューア 液晶/半導体設計、検証用
筐体に合ったサイズにカスタマイズFFUの提案が可能です。
当社VBPCの最も得意とする分野です。
半導体の特性の決め手となるイオン注入の一連の流れをイラストを用いて解説します。
ハンドラと組み合わせ自由の温度コントロールユニット
ズームによる「ズレ」や「ブレ」をなくし、微細な回路でも高精度で、安定したプロービングを可能にするマニュアルプローバです。
プローブに必要な構成品を標準装備!コストパフォーマンスに優れたプロービングシステム
W-CSP検査用 プローブーカード
異方性導電シート
コンパクトなサイズ(1インチ〜2インチ)対応のMBE装置です。
多くのオプションを用意!工業用途やメディカル、一般理化学用途等にお使い頂けます!
半導体・各種産業向けの蒸着装置、スパッタ装置、CVD装置等の成膜装置の設計・製作を行っております。
狙った場所にぴたりと止まる高速リニアモータ。低速等速性にも優れます
ウェーハ温度分布計測に必要不可欠なツール
接続同軸ケーブルを校正するだけで正確にICチップの測定ができます
高精度・なめらかな動きを実現
工作機械、半導体・液晶製造装置、産業用ロボット、医療・福祉、輸送機器、建築・建設、航空・宇宙、等の幅広い産業でご利用されます!
半導体研磨加工の匠集団
電気的に中性な原子ビームを採用!帯電の問題を解決した表面分析機器
結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可能!飛行時間型原子散乱表面分析装置【依頼分析賜ります!】