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更新日:2026年01月15日 集計期間:2026年01月07日〜2026年01月13日 ※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
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ウェハ、レンズ、ガラス基板表面目視検査に適しています。
生活をよりシンプルに・快適にする製品をお届けします
高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに!SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査
Windows PCからDIMM/SODIMMのSPD読み出し、保存、書込が可能なSPD EEPROMプログラマー。
広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能
電波遮蔽性能と遮音性能を併せ持つ防音シールドルームで、良好な検査環境を構築!
弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提案致します!
圧電素子の分極を行う為の実験用分極装置をご紹介!
半導体後工程検査にて安定した検査が可能なシートソケット!高速・高密度測定を可能にする「PCR」とは?動作原理等の技術資料を進呈!
ROMライターICプログラマーで定評ある『台湾・リープ社』世界の主要半導体メーカーから認定を受けたICプログラマーのメーカーです
半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優れたプローブカード
熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。
寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要
抵抗率/シート抵抗測定器【NC-10】
抵抗率/シート抵抗測定器【NC-80MAP】
ステンレス316製、高温・高圧対応ティ型&インラインフィルタ『H-600シリーズ』。エレメント交換が可能なフィルタです。
独自開発の検査機構でペレットやパウダの異物および変色を検出!
SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがきが可能
水銀プローバ CV/IV測定システム
半導体周辺機器検査の新スタンダードを目指して!広視野撮像によってタクトを短縮します
高タクト動作に最適の電動アクチュエータ
画期的なモジュール構造を採用した超薄形ステージ(特許取得済)
空気供給on-offマニュアル操作によるウエハ非接触ピンセット
高品質のサービスと製品を供給すると共に、お客様の満足を第一に考えます
生産数量に合わせたテスター能力改善をご提案致します。
X-Y-Z-θx-θy-θzの全方向において、高精度アライメント(ターゲット1μm以下)が可能になりました。
最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!
500℃温度サイクル用 薄膜ストレス測定装置 FLX-2320-S
シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。
電子部品生産システム、冷間鍛造自動車部品、クーラント関連機械の総合カタログ
パーマロイの性質、磁気シールド性能を手軽に知ることができるキット
【表面の異物・汚れ・傷を可視化!】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中
半導体製造工程の効率化と品質向上に貢献。専用部品がないのでメンテナンスしやすく、早期復旧が可能です。低コストを実現しています。
CTA8280はアナログ製品に特化したICテスタになります。電圧、電流の精度が高いことが特徴です。
fAレベルの微小電流測定が可能な高性能セミオートプローバ
複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます
多点・非接触での変位計測!精度は格子ピッチの約1/100です
抵抗率/シート抵抗測定器 【EC-80】
PN判定器 【PN-12α】
抵抗率/シート抵抗測定器【RT-3000/RS-1300】
小型・軽量でありながら3-3/4桁(3999)の表示ができ、上下限2接点の比較出力を標準装備しております。
高電圧コネクタ
信号の切り替えによる誤動作の有無を検証!1入力を複数ポートに分配可能!
電圧測定に最適!プローブの浮遊容量が極小+インピーダンスが無限!
既存の光学顕微鏡やマイクロスコープに後付け可能(パッチクランプ法、ナノマニピュレーション、マイクロサンプリング)
各種DDR4 DIMMのテストが可能なファンクションテスター
USB 接続 I2C,SPIコントローラ
高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現!コンパクトなX線TV検査装置
工作機械、半導体・液晶製造装置、産業用ロボット、医療・福祉、輸送機器、建築・建設、航空・宇宙、等の幅広い産業でご利用されます!
ディスクリート半導体の静特性を自動測定!~50kv・~1200Aまで対応可能なパワーデバイス/モジュール用テスター
ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えない半導体テストソリューション!
レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です
透明素材にも対応する高精度検査装置
プロセス分析計 / オンライン分析計でCMT工程における過酸化水素の濃度を常時モニタリング!
半導体産業向け!プロセス分析計 / オンライン分析計で現像液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)をモニタリング!
半導体製造プロセスの工程と品質管理に欠かせない分析法
KGギヤBOXのノウハウを活かしてお客様のお悩みを解決します!! ◆特殊環境仕様 ◆高速回転仕様 ◆省スペース化
10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに2000台超の納品実績。
1 mあたりの計測誤差0.1 nm。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。
半導体ウエハの欠陥を高精度に検出。生産効率向上に貢献。
開発、設計から加工・溶接・組立・検査までを一貫して手がけております。
石英ガラスへのあらゆるネジ切り加工は高嶋製作所にお任せください
常温における曲げ強度、圧縮強度が大きく、破壊靭性が極めて高い『ジルコニア(ZrO2)』
測定機・加工機・専用機・自動化設備の製造販売の株式会社ジャステム
Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定
φ100mm~φ150mmのSi、SiC等ウェーハの厚さ測定
サファイアウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じたソーティングを行う装置です。
両面研磨後の洗浄された300mmウェーハを乾燥させる装置です
φ8インチシリコンウェーハの外観目視検査を行う半自動装置です
炭化ケイ素、窒化ケイ素はJFCにお任せ下さい
最短半日見積り/基盤測定用装置に用いるプローブホルダーの製作を承りました。
独自の画像処理と実績を重ねたリペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行
高速画像処理と独自開発リペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行
高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。
様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます
TFE電子銃、電子線リソグラフィ用の、高圧電源装置「FE503XP」です!
樹脂切削加工
一括64個書きに対応。開発用の1個書き、生産用には8個書きも可能!
従来のプローバーから大幅にサイズダウン、価格を下げたウルトラローコストプローバー。
CSシリーズはPick & Placeタイプのサブストレート向け、メモリ向けハンドラになります。
Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面を検査し、テーピングなどに梱包する装置になります。
半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程を一つの機械で全て対応。
研磨から組立まで一貫生産体制!小ロットにも対応いたします
アフターサービス基幹業務パッケージ「ServAir」で、修理・保守点検業務の効率化や顧客満足度向上を実現してみませんか?
最先端レベルのFlashメモリ書込みとセキュアデバイスプロビジョニングにいち早く対応し、国内の幅広い用途に拡販!
独自の製造技術で内径一定のテーパードキャピラリーを作成します
お客様のご要望に応じて、カスタマイズ設計・製作可能!
評価テストから量産テストまであらゆるテスト環境に適用!
様々な用途で使用可能!有機デバイス等のパターニングや、IC等のメタル配線カット等
9×7mmサイズのSCカットOCXOです。周波数=50MHz。±20ppb(-40~+85℃)の高安定・VC調整端。標準在庫品。
光ファイバの線引炉やガラス化炉で30年の実績がある加熱炉・加熱システムの開発・設計技術を提供します。
ワイヤープローブの摩耗に関する理論的解析のご紹介
さまざまなパッケージバーンインテストシステムを多数ラインアップ!
パーカー A-LOK 計装用チューブ継手
業界初 ウェーハ試験で大電流の動特性試験を実現
要求の厳しい複雑な表面測定に対応する高精度3D表面計測
PN判定器 【PN-50α】