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更新日:2026年03月12日 集計期間:2026年03月04日〜2026年03月10日 ※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
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【表面の異物・汚れ・傷を可視化!】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中
高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現!コンパクトなX線TV検査装置
パーマロイの性質、磁気シールド性能を手軽に知ることができるキット
10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに2000台超の納品実績。
工作機械、半導体・液晶製造装置、産業用ロボット、医療・福祉、輸送機器、建築・建設、航空・宇宙、等の幅広い産業でご利用されます!
300mmウェハケース
プローブピンの全ピン自動挿入。任意の指定ピン交換も可能。
ダイシングフレーム(ウェハリング)をCFRP3Dプリント技術により開発。軽量で高剛性のためウェハの搬送性に優れます。
半導体後工程検査にて安定した検査が可能なシートソケット!高速・高密度測定を可能にする「PCR」とは?動作原理等の技術資料を進呈!
ウェハ、レンズ、ガラス基板表面目視検査に適しています。
高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに!SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査
寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要
さまざまなパッケージバーンインテストシステムを多数ラインアップ!
SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがきが可能
Windows PCからDIMM/SODIMMのSPD読み出し、保存、書込が可能なSPD EEPROMプログラマー。
結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)
半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優れたプローブカード
X-Y-Z-θx-θy-θzの全方向において、高精度アライメント(ターゲット1μm以下)が可能になりました。
電気特性検査、レーザートリミング、信頼性試験など当社におまかせ!
量産効率やトリミング精度向上を目的としたレイアウト設計をご提案致します
多数個同測に対応したプロービングを実現!ダイシング後の位置ずれを補正
レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です
独自の画像処理と実績を重ねたリペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行
熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。
半導体製造工程の効率化と品質向上に貢献。専用部品がないのでメンテナンスしやすく、早期復旧が可能です。低コストを実現しています。
高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。
最小0.4×0.2mm、t0.1mm以下の薄型製品にも対応
最先端レベルのFlashメモリ書込みとセキュアデバイスプロビジョニングにいち早く対応し、国内の幅広い用途に拡販!
業界初 ウェーハ試験で大電流の動特性試験を実現
PN判定器 【PN-1S】
クリップ構造によりはんだ付けが不要となります。
高電圧コネクタ
圧倒的なシェアを誇るCDSEM、日立S8000&S9000シリーズ。装置は常時在庫保有、デモ体制完備しております。
広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能
干渉対物レンズ
測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選定可能な半導体検査用プローブ!
コアレスロッドタイプ、小型のリニアモータアクチュエータ
生活をよりシンプルに・快適にする製品をお届けします
*フラグシップモデル 優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ
半導体試験に関する課題の解決事例を背景・課題・導入・成果の4項目で分かりやすく解説!
半導体関連製品やクリーンルーム設備などの製品を紹介します。
半導体製造向け過酸化水素トリメチルアミンと標準陽イオンの測定をイオンクロマトグラフィー法で測定
難削材加工をはじめとして、半田付けや溶接、組立の技術を、お客様に一貫生産でご提供
国⼟交通省「建設現場における遠隔臨場の試⾏⽅針」基準をクリア 遠隔作業⽀援・録画システム「アイちゃん」プロフェッショナル版
KGギヤBOXのノウハウを活かしてお客様のお悩みを解決します!! ◆特殊環境仕様 ◆高速回転仕様 ◆省スペース化
幅広い分野のナノメートル計測に。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。
基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレームレート・長距離伝送・多CH接続が可能なカメラシリーズ
最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!
検査機に対して半導体ウェハを自動供給する装置です。除振機構を採用、検査時の振動を防ぎます。
LDをトレイ収納状態で供給し、自動でピックアップ、計測を連続して行います!
大人気のTMEシリーズ
φ4"以下の各種素材ウェーハの厚さ測定
画像処理によりウェーハの端面を検出し、直径を測定する装置です。
シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置です
φ300 mmシリコンウェーハを目視でエッジ検査(チップ・カケ検査)する為の装置です
セラミックプレートに貼り付けられたウェーハの厚さを光学プローブ/センサにて非接触測定する装置です。
波長365nmのUV-LEDを使用、常温照射、低ランニングコストです!
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます
耐薬品性、耐熱性、紫外線透過性に優れた高純度材料からできたマイクロチップです。
協立テストシステムはあらゆる基板の検査に対応させていただきます。
バラバラになったウェハーをロットナンバー順に整列させる装置
ワイヤー切断機のメインローラー溝形状検査機。ローラーに検査機を載せ溝形状プロファイルモニターと形状の画像が計測可能。
今までリアルタイムで測定できなかった半導体の加速度試験が測定できます。
低価格、高精度を実現するために日本メーカーのテスターから海外メーカーのテスターへ。
CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、お客様ニーズに対応するためフルカスタマイズすることが可能。
CTA8280はアナログ製品に特化したICテスタになります。電圧、電流の精度が高いことが特徴です。
低価格、高性能の半導体ICテスターを選ぶならCCTECH製。手厚いサポートが可能な理由を公開中!
ワイヤープローブの摩耗に関する理論的解析のご紹介
多様な構造に熱制御もできるフタでお客様のご要望を満足する
評価テストから量産テストまであらゆるテスト環境に適用!
高安定、高精度ひずみ測定用アンプでかんたん設定を実現!インバータノイズに強いタイプもご用意
レーザー形状加工:脆性材料のセラミックを切断加工
精密板金から大物加工まで、幅広い板金加工に対応します!
膨大な種類のプログラマブルデバイス対応したコンパクト設計のデバイスプログラマ
半導体製造装置の要求するクリーン度で対応。ステンレス316L製、高純度ライン用、溶接型コンパクトチェックバルブCMWシリーズ。
抵抗率/シート抵抗測定器【NC-10】
PN判定器 【PN-50α】
『台湾・リープ社』製、世界の主要半導体メーカーから認定を受けたICプログラマーのメーカーです。
従来の約10倍の高速計測機能!数秒でエッジ部の形状取得が可能です!
用途に合わせた幅広い提案が可能です。
世界シェアトップのタンタルコンデンサ。
独自開発の検査機構でペレットやパウダの異物および変色を検出!
現在のFOUPロードポートを8時間でN2パージ機能に改造できるキットを開発。3000台の納入実績があります。
各種集積化ガスシステム用圧力センサー
SPCシリーズは超小型(φ21×84mm)、軽量(90g)に設計されております。
200℃の高温でガスフィルターをベーキングする画期的なベーキングヒーターです。
ピュアロン製小型ガス精製器を効率良くヒーティングするために専用で開発致しました。
計測とメカトロをシステム化!応用電機の納入実績をご紹介
ウェーハ上のはんだバンプの検査を自動で行うX線自動検査装置
低価格レイアウトビューア 液晶/半導体設計、検証用
非接触3D表面形状測定システム
W-CSP検査用 プローブーカード
コンパクトなサイズ(1インチ〜2インチ)対応のMBE装置です。
u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります
PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定!オプションにより表面抵抗測定可!
多くのオプションを用意!工業用途やメディカル、一般理化学用途等にお使い頂けます!
半導体周辺機器検査の新スタンダードを目指して!広視野撮像によってタクトを短縮します
硬度や耐摩耗性を上げることが出来ます。
PowerCIM SECS通信支援ツール
USB 接続 I2C,SPIコントローラ