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更新日:2026年06月18日 集計期間:2026年06月10日〜2026年06月16日 ※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
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*フラグシップモデル 優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ
リフロー後の基板検査も対応!短時間で確実!ファーストロット用基板チェッカー
どこでも簡単にでき、軽快で疲労を感じないハンディタイプ。
*資料無料進呈中 今更聞けないインサーキットテスタの基本について知らない方必見です!
反った基板の矯正と反り測定用検査機
ファーストロット用基板を短時間で高精度検査!スムーズな生産立上げ&量産工程に
少量多品種の外観検査に最適!レジスト剥がれ、異物付着を見逃しません!
両面コンタクト対応!本体は汎用的なプレスユニット構造なためピンボードのみを交換する事もできます
ガラス基板、半導体基板、ディスプレイ基板などの基板の欠陥を可視化する欠陥検査イメージング装置
L/S=5/5μmの高精細パターン検査からレーザービア検査まで、外観検査における最適なソリューションをお届けします。
スマートファクトリーの実現へ、幅広いニーズに対応した3次元外観検査装置
*資料無料進展中 今更聞けないインサーキットテスタの基本について知らない方必見です!!
光学分解能「1.8μm」で、非常に高精細な検査が可能です。 寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。
優れた安定性と作業時間の時短を追求したミドルレンジICテストハンドラ
設計・製作からデバックまで社内で一貫製造!主要メーカーのICT用ピンボード治具に対応
IoT対応汎用検査ユニット Genesisであらゆる検査に対応
フルカラー外観検査装置「AURCAシリーズ」
電子回路基板および半導体シリコンウェハ向けAI検査・計測ソリューション 外観検査装置「AURCAシリーズ」登場!
プリント基板用 AI検査・計測ソリューション 画像検査装置「AURCAシリーズ」
楽々着脱のコンタクト治具
世界中の研究者が認めた高精度シミュレーション。レーザー光学、半導体、先端光デバイス開発における「極限の膜設計」を強力に支援
使いやすいWin標準インターフェイスで光学薄膜コーティングを計算
光通信コンポーネントの最適化を強力に支援。WDM設計機能を付属
様々な検査計測工程の問題を解決!次世代型3D-AOI検査機をご紹介します。
過剰検出の低減を実現した基板実装向けAOI装置
ユニットチェッカーでプリント基板検査の省力化!
プリント基板サプライヤーの品質検査工程をサポートする検査設備!
習熟者でなくても、実物確認作業の精度と効率をUP!!
機構部とピンボード部は簡単に分離できるので、設計工数を大幅に削減可能です
先端の光応用技術を使用!インラインバンプ検査装置などをラインアップ
自動テスト、検証に活用可能な抵抗設定範囲0~22.3MΩの幅広い製品を用意!(事例あり)
ファーストロット用基板チェッカー
フォトルミネセンス マッピングに対応した高速レーザー欠陥スキャナー
世界最速レベルのロールtoロール型AOI
治具レスによりランニングコスト・データ作成時間を激減させるインサーキットテスタ 不良ビューワが画像検査のように不良個所を指示
供給側と収納側のマガジンセット部で使用する装置の設計・製作を実施した事例をご紹介!
マシンビジョン用 単眼3Dカメラ 最大2.1Mピクセル デプスマップ・高精度点群データ・3D測定
【基板実装の工程・設備紹介】小ロットから量産を設計から製造まで対応!基板のお悩みをトータルに解決いたします。
【JPCA Show2026出展】高速・高精度・低コストを実現する新型フライングプローブテスタ「APT-T400Jシリーズ」
透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!
DCから使用できるRF光伝送装置
弊社製から他社製の標準ハンドプレス機を使用して、検査を行う事が可能。製品によっては、アレンジでの製作も可能です。
ガラスコア対応可能な技術力と信頼!高速・高精度3次元計測装置
AI解析機能搭載!!外観検査装置
歩留まり向上に寄与する外観検査装置「AURCAシリーズ」
半導体パッケージ基板用画像検査装置「AURCAシリーズ」登場!プリント基板、ウェハも検査可能です!
オートフォーカス機構を搭載し、反りによるボケを防止!画像検査装置「AURCAシリーズ」
インライン型 ECU検査装置 ECU書き込み装置 LIN, CAN, CAN FD, CXPI通信によるECU検査に対応
組立て後の目視検査を自動化へ!導入がスムーズな卓上型検査装置でお悩みを解決します。
最短半日見積り/布入りベークライト/汎用フライス/樹脂切削加工
ダウンカット工法と業界最狭軸間による高精度・高速加工を実現!
高精度・高速で、安価なシングルポイントセンサ。厚み・距離・高さ測定用に組込み可能なセンサ。半導体ウエハ検査用途にも最適。
液晶基盤検査装置 G10検査装置
光学薄膜コーティングの特性を計算し、ディスプレイの色再現性を最適化
ARヘッドアップディスプレイの設計を強力にサポート!
微細塗布に必要な機能を搭載。専用編集ツールにより簡易ロボットを高精度マシンとして使用
ニーズを読み、ニーズに対応する。きめ細かな機動力で業界の発展に貢献します。
お客様の課題やお悩みに合わせた様々なソリューション提案が可能です
スピードコントローラー、パスチェックモード搭載!スムーズで平行な幅調整が可能
検査装置・検査治具を豊富にラインアップ
プリント基板検査装置「容量測定方式」モデルのトップシェア
Wave、selective solderingなどTHT工程に最適化された下面検査機
業界をリードする検査速度!TRIスマートライブラリーによるイージープログラミング!マルチ3Dテクノロジーによる見逃しゼロ検査!
TR7600F3D SIIは、画期的な高速インライン自動X線検査装置であり、前のモデルの2倍から3倍の高速化を実現します!
TR7700 SII Plus CIは高精度の光学設計と特殊な多相照明を組み合わせてUVコンフォーマルコーティングの検査が可能!
典型的なコーティング検査を実現する簡易コンフォーマルコーティング検査AOI
ワンランク上の試料研磨、組織観察をご提供致します。 ベースとヘッド1体型で安定感抜群の精密研磨機です。
SIL/SIP シングルインライン 高密度実装リードリレー
タクトタイムを大幅に短縮したECU検査装置
シナジーを生む4つの事業フィールド
直感的にわかりやすい操作で、オペレータの負荷低減・検査効率アップに貢献
国内唯一の実装技術専門誌『エレクトロニクス実装技術』に掲載された特集記事の公開許可を頂きました。こちらよりご覧いただけます。
タカヤフライングプローブテスタオプションのご紹介です。リーク電流の測定にも対応致します。
「第38回 インターネプコン ジャパン」エレクトロニクス製造・実装展 ご来場ありがとうございました。
フライングプローブ×マルチプローブで実現する、治具不要のJTAGテスト体験
製造ラインの全数検査に最適!わずかな消費電流まで測定する高精度検査機!
seica社の高性能フライングプローブテスター
ケイワイ電子工業の「挿入工程の取り組み」についてご紹介!
ケイワイ電子工業の「後つけ半田工程の取り組み」についてご紹介!
高品質の基板実装を実現するSMT工程をご紹介!SMT工程のご検討に役立つ総合資料を進呈中!
実装基板検査装置 ファーストロット用基板チェッカー n=1 Checker
実装基板検査装置 ピンセット型ハンディLCRチェッカー
評価・測定装置はレンタルの時代!必要な時期に必要な装置を利用するペリテックのレンタルサービス
1台で複数の試験に対応可能なファンクションテスタ
誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両立させ、更にコストパフォーマンスにも優れた干渉計です。
高速検査を省スペースで実現するコア検査ユニット ROM書き込みとの組み合わせもおススメ
Max.100回/秒の驚異の高速検査
世界トップシェア!レーザ加工後の穴径、穴底の残渣等を全穴検査!
白色+同軸落写+赤サイド+白サイドの4種類の複合照明搭載!精巧な検査結果が得られる
ウェハ表面/裏面のパターンの位置ズレを高精度で測定
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優れた安定性と作業時間の時短を追求したミドルレンジモデル
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