直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！
コンパクト設計の卓上式UV（紫外線）オゾン洗浄改質装置『CUVDシリーズ』シリコーンウェハー、半導体部品等の有機汚染物質除去に
大手にはないサイズ感と低価格を実現。実験室に導入しやすいコンパクト設計で、ウエハや特殊基板に合わせた仕様カスタマイズも自在。
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半導体ウエハ・パネル用AI搭載外観検査装置「AURCAシリーズ」登場！半導体パッケージ基板・プリント基板も検査可能！
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幅1.4ｍｍｘ長さ55ｍｍの極細・長尺ワークを 非接触にて搬送するベルヌーイチャック
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半導体産業向け：プロセス分析計 / オンライン分析計で現像液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)をモニタリング
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過剰検出でお悩みの製造現場へ。AI解析×フルカラー画像検査でウエハの微細な欠陥を正確に判定、歩留まり向上を実現する検査装置です。
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半導体ウェーハ製造装置(WFE)、半導体テスト用装置、半導体パッケージング及び組立装置をカバーする半導体装置市場の分析レポート
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100-200mmの貼付ウエハー（SOI,SiSi）や誘電体分離や高アスペクト比の深いトレンチエッチなどカスタム品を提供します
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インゴットや、4インチ、6インチ、8インチ基板など 幅広くラインナップ！ 高品質・低コストなSiCウェハの調達なら弊社にお任せ。
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量産テスト（CP test / FINAL test） 及び、テスト開発（テストプログラム、ボート） を対応します。
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SiCウェハーを1枚から低コストで提供！納期は最短2週間から。パワー半導体の開発や試作時に低価格・小ロットで提供できます。
