測定・分析の製品一覧

  • 分類:測定・分析

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
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  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
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  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • その他安全・衛生用品

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熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。

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  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置

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ボイラーの燃焼効率を診断し最適化!カーボンニュートラル対応、燃料費削減に貢献!

  • 受託測定

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スマホで簡単に潤滑油の劣化状態をその場診断。寿命残存率を判定、効率的なメンテナンスで機械の安定稼働に貢献 ※グッドデザイン賞受賞

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  • その他検査機器・装置

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スマホで簡単に潤滑油の劣化状態をその場診断。◆グッドデザイン賞を受賞致しました◆

『Idemitsu Smart OC』は、スマートフォンと撮影用モジュールを用いて 潤滑油の劣化や汚損状態をその場で手軽に診断できる技術です。 この度、2025年度グッドデザイン賞を受賞いたしましたのでご報告いたします。 公益財団法人日本デザイン振興会が主催する「グッドデザイン賞」は、日本で唯一の総合的デザイン評価・推奨の仕組みです。 本賞は、見た目の美しさ以上にイノベーションの視点を重要視されており、人手不足や環境負荷低減といった社会課題に即したイノベーションとして評価されました。 モジュールに入れた潤滑油をスマートフォンで撮影するだけで、 寿命残存率や夾雑物の量・大きさを算出。潤滑油の適切な交換時期を 数値に基づいて判断でき、機械設備の安定稼働に貢献します。 【特長・メリット】 ■潤滑油診断の時間短縮・省力化が可能 ■潤滑油の色から寿命残存率を判定(劣化状態) ■夾雑物の量と大きさを算出(汚損状態) ■潤滑油交換タイミングの適正化に寄与  TBM(時間基準保全)からCBM(状態基準保全)へ ※予告なく仕様を変更することがありますのでご了承ください。

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スマホで簡単に潤滑油の劣化状態をその場診断。◆グッドデザイン賞を受賞致しました◆

『Idemitsu Smart OC』は、スマートフォンと撮影用モジュールを用いて 潤滑油の劣化や汚損状態をその場で手軽に診断できる技術です。 この度、2025年度グッドデザイン賞を受賞いたしましたのでご報告いたします。 公益財団法人日本デザイン振興会が主催する「グッドデザイン賞」は、日本で唯一の総合的デザイン評価・推奨の仕組みです。 本賞は、見た目の美しさ以上にイノベーションの視点を重要視されており、人手不足や環境負荷低減といった社会課題に即したイノベーションとして評価されました。 モジュールに入れた潤滑油をスマートフォンで撮影するだけで、 寿命残存率や夾雑物の量・大きさを算出。潤滑油の適切な交換時期を 数値に基づいて判断でき、機械設備の安定稼働に貢献します。 【特長・メリット】 ■潤滑油診断の時間短縮・省力化が可能 ■潤滑油の色から寿命残存率を判定(劣化状態) ■夾雑物の量と大きさを算出(汚損状態) ■潤滑油交換タイミングの適正化に寄与  TBM(時間基準保全)からCBM(状態基準保全)へ ※予告なく仕様を変更することがありますのでご了承ください。

多波長レーザ搭載により、可視光から近赤外光まで一台で対応可能です。

  • 光学顕微鏡

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オールインワンフローテスタ「FMZ-1063」、従来の流量計よりも操作性、視認性、測定精度が大きく向上しました

  • 流量計
  • リーク試験装置
  • その他計測・記録・測定器

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FMZ-1063.jpg

フクダの流量計をぜひご覧ください! (フローテスタ, フローユニット, ラミナーフローメータ)

●流量計とは? 質量流量計やラミナフローメータにより流量を測定し、流量判定基準に従って良否判定を行います。通気流量測定や性能検査等に最適です。 「FMZ-1063 series」 質量流量計を内蔵したフローテスタです。 高精度 ± 3.5 % of R.D. ± 1digit(常用流量領域)。 時間短縮機能(スキャン測定)を実現。FMZ-1063はコンパクトサイズで、様々な機能を持った、オールインワンのフローテスタです。 「FU series」 ラミナと差圧センサを一体化し、小型化・軽量化した流量測定用フローユニットです。表示用インジケータ(型式:MI-170)との接続で、流量直読表示や圧力及び流量判定を行えます。 「FLF-110 series」 2 NmL/min~500 NL/minまでの幅広い流量測定が可能なラミナーフローメータです。

2021年4月に新たに追加されたUSB認証試験、USB RFI System-Level Test 専用の付属品です。

  • スクリーンショット 2021-12-02 115453.jpg
  • 試験機器・装置

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BFI特許に基づくピエゾ圧電素子を使った形状測定!メンテナンスフリー、光信号伝送

  • その他計測・記録・測定器

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「みる」から「はかる」へ。人あらゆる場所にアクセスし、リアルタイムに3次元データ化

  • 三次元測定器

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被測定材質は鋼および非鉄金属ストリップ!圧延機などに直接設置可能

  • その他計測・記録・測定器

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油が塗布されたストリップも測定可!高速ラインでも高精度な測定ができます

  • その他計測・記録・測定器

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回すだけじゃない、“壊す”まで測る。

  • 強度試験装置
  • 公共試験/研究所
  • 受託測定

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自動追従走行のご紹介

  • 試験機器・装置

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音を“見える化”する産業用超音波カメラ Fluke ii1020C

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  • その他計測・記録・測定器

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複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

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  • 分析機器・装置

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屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

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  • 分析機器・装置

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傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

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  • 分析機器・装置

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反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

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  • 分析機器・装置

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反射分光法と他の測定手法の比較

  • 測定方法の比較.jpg
  • 分析機器・装置

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反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

  • SiO2 SiNの膜厚測定.jpg
  • 分析機器・装置

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薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

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  • 分析機器・装置

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光干渉法を用いた顕微分光膜厚計(OPTM)の測定原理

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全30事例!ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全25事例!高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全25事例!食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全30事例!バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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高分子の構造変化をリアルタイムに評価

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動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適

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  • その他理化学機器
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第37回散乱研究会(2025年11月21日)

今年も「第37回 散乱研究会」を開催する運びとなりましたのでご案内申し上げます。  午前の部では、毎年多くの方々よりご好評いただいております光散乱基礎講座を実施し、これから光散乱の勉強をはじめられる方にも分かりやすく解説いたします。今年度は電気泳動光散乱法です。  午後の部では、様々な分野のご講演者に光散乱法を活用した最新のご研究や応用例をご紹介していただきます。さらに今回も、講師の先生方や世話人に講演内容や各種散乱法についてご質問していただける「光散乱Q&A」の時間を設けております。また、実演可能な機器展示を併設した意見交換会を開催いたします。  本研究会は、散乱関連技術の研究者や利用者、提供者が一堂に会し、それぞれが有する情報・意見の交換や知識・経験の共有ができる機会を提供すると共に、若手研究者の育成と散散乱技術のさらなる発展につながることを期待しております。  有意義な研究会となりますよう皆様方の積極的なご参加をお待ち申し上げます。

使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置

  • オートサンプラー.jpg
  • その他理化学機器
  • その他検査機器・装置

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第37回散乱研究会(2025年11月21日)

今年も「第37回 散乱研究会」を開催する運びとなりましたのでご案内申し上げます。  午前の部では、毎年多くの方々よりご好評いただいております光散乱基礎講座を実施し、これから光散乱の勉強をはじめられる方にも分かりやすく解説いたします。今年度は電気泳動光散乱法です。  午後の部では、様々な分野のご講演者に光散乱法を活用した最新のご研究や応用例をご紹介していただきます。さらに今回も、講師の先生方や世話人に講演内容や各種散乱法についてご質問していただける「光散乱Q&A」の時間を設けております。また、実演可能な機器展示を併設した意見交換会を開催いたします。  本研究会は、散乱関連技術の研究者や利用者、提供者が一堂に会し、それぞれが有する情報・意見の交換や知識・経験の共有ができる機会を提供すると共に、若手研究者の育成と散散乱技術のさらなる発展につながることを期待しております。  有意義な研究会となりますよう皆様方の積極的なご参加をお待ち申し上げます。

1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

  • 膜厚計

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2025_FILMTECH JAPAN案内状_ver5.jpg

第16回 FILMTECH JAPAN(2025年11月12日~14日)

2025年11月12日(水)から14日(金)まで、幕張メッセで「第16回 FILMTECH JAPAN - 高機能フィルム展 - 」が開催されます。 大塚電子のブースでは「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、「ラインスキャン膜厚計」、「スマート膜厚計」などフィルム関連の測定装置を展示致します。 各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価! 

  • IPROS9761633288204319171.png
  • 分光分析装置

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紫外域でも高精度な測定を実現!

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  • その他電子計測器
  • その他計測・記録・測定器
  • 光源・照明

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LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

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  • 分析機器・装置

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IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応

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  • 分光分析装置

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各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに! 

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  • 膜厚計

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20251204_大塚電子Webセミナー【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションのご紹介】_ver2.jpg

Webセミナー:【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介(2025年12月4日)

半導体のさらなる微細化が限界に近づく中、新たな技術アプローチとして中間工程を含むアドバンストパッケージ工程が注目を集めています。 本セミナーでは、こうした業界の最新動向を踏まえ、大塚電子の計測・分析機器がどのように課題解決に貢献できるかをご紹介します。実際の測定事例や最新トピックスも交えながら、最先端のソリューションをわかりやすく解説します。

光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価

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  • LED照明
  • 光源・照明
  • 光学測定器

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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Webセミナー:フィルムの全面膜厚測定をリアルタイムに実現するラインスキャン膜厚計のご紹介(2025年11月27日)

ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に大きく貢献します。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。

光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

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  • 分光分析装置

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Webセミナー:フィルムの全面膜厚測定をリアルタイムに実現するラインスキャン膜厚計のご紹介(2025年11月27日)

ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に大きく貢献します。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_多点測定.jpg
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  • 分光分析装置

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Webセミナー:フィルムの全面膜厚測定をリアルタイムに実現するラインスキャン膜厚計のご紹介(2025年11月27日)

ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に大きく貢献します。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。

半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
  • ロードポート対応膜厚測定システム3.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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20251204_大塚電子Webセミナー【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションのご紹介】_ver2.jpg

Webセミナー:【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介(2025年12月4日)

半導体のさらなる微細化が限界に近づく中、新たな技術アプローチとして中間工程を含むアドバンストパッケージ工程が注目を集めています。 本セミナーでは、こうした業界の最新動向を踏まえ、大塚電子の計測・分析機器がどのように課題解決に貢献できるかをご紹介します。実際の測定事例や最新トピックスも交えながら、最先端のソリューションをわかりやすく解説します。

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