サービスの製品一覧
- 分類:サービス
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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。
- センサ
直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!
- その他半導体
- 加工受託
- ウエハー
複雑化・多国籍化したサプライチェーンの課題を解決!スマホで出来るトレーサビリティシステムで、荷待ち時間報告の改善や出荷ミス防止に
- その他の各種サービス
「FPGA/SoC設計者必見!システムの安定性を左右するアナログ技術の神髄」
- 技術セミナー
- その他受託サービス
脱・初級!CAE、エアリーク試験、不具合事例まで踏み込む。 IP規格の知識だけでは越えられない、防水設計の壁を突破する5時間。
- 技術セミナー
- その他受託サービス
行き詰まった設計者へ。その壁、「ゲル防水」と「設計値指南」で越えてみせる。 防水設計の奥義を学ぶ3時間【上級編】
- 技術セミナー
- その他受託サービス
「熱問題」を「設計品質」に変える。電子機器の熱対策、基礎から実践までを1日でマスター!
- 技術セミナー
- その他受託サービス
TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
- 受託解析
- その他半導体
- その他受託サービス
Talos F200E導入のお知らせ
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。
CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性を評価する、ラッチアップ試験サービスをご提供いたします。
- 受託検査
- その他受託サービス
- その他検査機器・装置
ディスクリート半導体のIOL試験
当社では「ディスクリート半導体のIOL試験」を行っています。 常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。通電OFF時(冷却時)は ファンによる強制冷却も行います。 また、試験実施前に代表サンプルを使用し、試験温度条件に到達するように 調整を行います。加熱時の電流/時間、冷却時のファン能力/ 稼働タイミングなどを調整することが可能です。