その他計測器の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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【材料科学向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

1ポイント1秒測定！材料の特性評価を加速する顕微分光膜厚計

膜厚計
材料評価試験

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

【環境分析向け】ELSZneoによる汚染物質の粒子分析

希薄から濃厚溶液まで対応。汚染物質の粒子径・ゼータ電位を測定。

その他計測・記録・測定器

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【コーティング膜向け】ラインスキャン膜厚計

ラインスキャン方式で、コーティング膜厚を逃さず検査。

膜厚計
コーティング剤

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【フィルム業界向け】ラインスキャン膜厚計

ラインスキャン方式でフィルムの膜厚を均一に測定

膜厚計
その他フィルム・シート

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【ディスプレイ業界向け】SM-100 series

ディスプレイ製造における膜厚測定の課題を解決！

膜厚計
液晶ディスプレイ

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【ディスプレイ向け】ラインスキャン膜厚計

ラインスキャン方式でディスプレイの膜厚を均一に測定！

膜厚計

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【半導体向け】ラインスキャン膜厚計

ウェーハ基板上の薄膜を「抜け」なく全面測定！

膜厚計

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【包装業界向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

包装材のバリア性評価に！1秒測定＆最小3μm測定

膜厚計

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【エネルギー分野向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

薄膜の膜厚測定を1秒で！エネルギー分野の品質管理に貢献

膜厚計

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【電子部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

1ポイント1秒測定！電子部品の品質管理を加速

膜厚計

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【光学部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

コーティング膜厚測定を1秒で！光学部品の品質管理に貢献

膜厚計

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【半導体向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

1ポイント1秒測定！半導体製造における膜厚測定を革新。

膜厚計

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【電子材料向け】ELSZneoによるデバイス性能評価

希薄系から濃厚系まで、高精度な粒子径・ゼータ電位測定でデバイス性能を向上

その他計測・記録・測定器

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【電池向け】ELSZneo：電極材料の粒子径・ゼータ電位測定

電極材料の品質管理に。粒子径、ゼータ電位、分子量を高精度測定。

その他計測・記録・測定器

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【セラミックス向け】ELSZneoによる焼結性評価