検査機器・装置の製品一覧
- 分類：検査機器・装置
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【アールエスコンポーネンツ】計測器、工具、受動部品など豊富な産業用製品のご購入は今がチャンス！※セール対象品カタログを無料進呈中
- オシロスコープ
事故を未然に防ぐ全ての機械設計者を始め、関連する生産技術・保全技術、品質保証部門等の方々必須の大全！
- ボルト
- その他検査機器・装置
- 技術書・参考書
国内に製品をストックし、短納期を実現！プローブ選定に関するお問い合わせにも対応
- プローブ
- その他計測・記録・測定器
多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 ※デモ可能＆技術資料進呈
- 光学測定器
- 分光分析装置
- プローブ
【WEBセミナー開催！】分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明［日本セミラボ］
ウェビナーを開催いたします。 詳細は下記の通りです。ご興味のある方は、是非ご参加ください！ ―‐‐ 『テーマ：分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明 初級編』 ■開催日時 5/13(木) 16:00～ ■内容 一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。 初級編としまして、有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentzモデルを使用した解析の説明を予定。 ※参加ご希望の方は、日本セミラボ（株）ホームページ（https://www.semilab-j.jp/seminar/）よりお問い合わせください。
TR7700 SII Plus CIは高精度の光学設計と特殊な多相照明を組み合わせてUVコンフォーマルコーティングの検査が可能！
- 外観検査装置
- 基板検査装置
- その他検査機器・装置
最大1024のテストポイントを持つ中規模のボードでのMDAテスト用に設計された費用対効果の高い柔軟な自動テストプラットフォーム。
- その他検査機器・装置
半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2に削減。3Dバンプの検査も可能。
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
- テスタ
SEMICON Japan 2021 Hybridに出展
弊社は、2021年12月15日(水)～12月17日(金)に東京ビッグサイトにて開催される「 SEMICON Japan 2021 Hybrid」に出展いたします。 中国に本社を構える半導体検査装置メーカー。 会社の設立は2008年に中国に設立。日本での拡販本格活動を2020年10月に開始。セミコンジャパンでの展示は今回が初めてとなります。 是非、ご来場ください。