受託サービスの製品一覧

新日本化学工業株式会社千葉成田本社工場、東京営業所

【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！

その他搬送機械

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液体製品受託委託生産・自動車用品及び化学品・家庭用品の各種充填

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添加剤、洗浄剤、化学品、消臭・除菌剤類など製品企画から充填・加工・出荷までサポート！原料はあるが充填できる場所がないお悩みに

そのほか消耗品
加工受託

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【分析事例】ネガティブ染色による(S)TEM観察

リポソーム、CNF、微粒子、タンパク質などの形態を観察！

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【分析事例】オイルの分析(GC/MS編)

オイルによる汚染が疑われる場合に、オイル種を区別して発生源の推定が可能！

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【分析事例】有機分子のNMR化学シフトシミュレーション

測定と計算を組み合わせた解析により構造異性体の識別が可能です！

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【分析事例】ポリカーボネートの末端基構造解析

熱分解GC/MSでポリカーボネートの末端基、製造法の区別が可能！

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【分析事例】Liイオン脱挿入過程のエネルギープロファイル

Liイオン脱挿入時のエネルギー障壁や溶媒和形成過程の情報が得られます！

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【分析事例】有機材料中の金属分析

マイクロ波分解とICP-MSを併用！有機材料中の金属分析が可能です

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【分析事例】量子化学計算によるイオン液体の熱分解反応の解析

シミュレーションから得た活性化エネルギー値より反応性が評価できます！

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【分析事例】分子動力学計算による脂質二重膜への分子透過性評価

自由エネルギー計算から分子の透過性に関する知見が得られます！

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【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価

ラメラ等の構造解析が可能！WAXS(X線広角散乱法)でも同様の評価ができる

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【分析事例】銅フタロシアニンのラマンスペクトル帰属

実測とシミュレーションの組み合わせにより、詳細なピーク帰属が可能です！

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【分析事例】窒化ガリウムにおける欠陥準位の解析

点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など！様々な物性情報が得られます

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【分析事例】a-SiO2膜の HFエッチングシミュレーション

エッチングプロセスにおける原子レベルでの表面反応の理解に有効

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【分析事例】スズ(錫、 Sn)表面の深さ方向状態評価

表面処理による改質層や変質層の評価が可能！

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【分析事例】異物発生の原因調査：チューブの分析

ウエハの汚染原因を推定することが可能です！

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飛行時間型質量分析装置

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【分析事例】真空装置内の汚染分析

オイルバックやグリースなど真空装置内の汚染原因を評価可能！

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表面処理受託サービス
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【分析事例】毛髪内部の金属分布評価

TOF-SIMS分析を用いた毛髪断面の成分分布評価

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【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 2

使用しているヘアケア剤の種類による浸透成分の違い、分布の違いを可視化

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価

雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です

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【分析事例】SIMSによるCIGS太陽電池の各層の相互拡散評価

表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です

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【分析事例】有機ＥＬ素子の成分分析

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価

雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です

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【分析事例】CIGS薄膜の組成分布分析

薄膜の組成定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能

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【分析事例】SiC基板におけるSSDP-SIMS分析

SiC基板側からドーパント濃度プロファイルを取得可能

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【分析事例】におい成分の一斉分析

ガスクロマトグラフィー質量分析器を用いたにおい成分の同定

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【分析事例】IGZO膜へのTi拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

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【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析

電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価

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半導体のイオン化ポテンシャル評価

UPS：紫外光電子分光法

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RAE検出器を用いた大口径イメージングSIMS

SIMS：二次イオン質量分析法

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【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量

高分子フィルムの水酸基評価

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【分析事例】室内空気環境測定事例

室内空気中のアルデヒド・ＶＯＣ（揮発性有機化合物）の分析が可能です

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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析

下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

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【分析事例】DLC膜のsp2/(sp2+sp3)比の評価

C1s波形解析を使用したsp2/(sp2+sp3)比の評価

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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

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XPS・AESによる深さ方向分析の比較

XPS：X線光電子分光法　AES：オージェ電子分光法

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【分析事例】SiC表面の結合状態・膜厚評価

詳細な状態評価と併せ、膜厚計算が可能

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価（C0088）

N2雰囲気下での切削加工で酸化劣化を防止

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【分析事例】有機EL発光層の成分分析

雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能

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【分析事例】有機EL素子の劣化評価

雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの評価

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

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MSDMについて

TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法

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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

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ウエハ最表面の微量元素分析における前処理法

ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法

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【分析事例】GCによる窒素化合物の高感度分析

GC/MS/NPD（窒素リン検出器）を用いた窒素化合物の分析

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【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価

水酸化アルミニウムAl(OH)3と酸化アルミニウムAl2O3の評価が可能です

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【分析事例】ラット皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価