半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
半導体後工程検査にて安定した検査が可能なシートソケット！高速・高密度測定を可能にする「PCR」とは？動作原理等の技術資料を進呈！
- その他電子部品
- ソケット
- 半導体検査/試験装置
高安定、高精度ひずみ測定用アンプでかんたん設定を実現！インバータノイズに強いタイプもご用意
- その他計測・記録・測定器
- 半導体検査/試験装置
- 衝撃試験
長期保存/評価試験に好適なタイプ、卓上型タイプ、リーズナブルタイプをラインアップ！
- その他 恒温器・恒温槽
- 半導体検査/試験装置
- 恒温槽
パッケージレベルとウェーハレベルで複数のDUTを一括処理！FET単体トランジスタ特性からTDDB評価にも対応
- その他半導体
- 環境試験装置
- 半導体検査/試験装置
![バーンインチャンバー『RBC』2].jpg](https://image.mono.ipros.com/public/product/image_sub/aa9/2001534723/IPROS11916578221523959181.jpg?w=280&h=280){kind=small}
高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。
- 半導体検査/試験装置
- その他 衛生検査
- その他 外観・画像検査装置
『第25回 nano tech 2026 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.1.28.(水)-1.30.(金)/東京ビッグサイト 西ホール会議棟 西1ホール 1階 1W-Z34)
"製造現場での微粒子による不良率悪化やクリーン化に関する課題を解決します 新日本空調の微粒子可視化システムは、ViESTブランドとして独自に開発した超高感度カメラと光源を組み合わせ、クリーンルームや装置内の微小粒子を可視化することができ、その挙動をリアルタイムに映像化しながら、粒子情報の定量化も行うことができる世界最高水準の可視化システムです。現在、国内外において、システムやツールの販売、それらを利用した受託技術サービスを展開中です。特に、半導体業界をはじめ、クリーンルームにおける実績が豊富です。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・製造ライン中の微細粒子や気流の可視化調査と環境改善 ・製造装置内や製造環境のクリーン化推進 ・各種設備性能のクリーン度評価 ・コンタミ問題に起因する歩留まりや品質低下の改善 ・微粒子や気流の可視化を要する研究開発の支援 ・製品からの粒子発生量評価"
【表面の異物・汚れ・傷を可視化！】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
- 欠陥検査装置
『第25回 nano tech 2026 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.1.28.(水)-1.30.(金)/東京ビッグサイト 西ホール会議棟 西1ホール 1階 1W-Z34)
"製造現場での微粒子による不良率悪化やクリーン化に関する課題を解決します 新日本空調の微粒子可視化システムは、ViESTブランドとして独自に開発した超高感度カメラと光源を組み合わせ、クリーンルームや装置内の微小粒子を可視化することができ、その挙動をリアルタイムに映像化しながら、粒子情報の定量化も行うことができる世界最高水準の可視化システムです。現在、国内外において、システムやツールの販売、それらを利用した受託技術サービスを展開中です。特に、半導体業界をはじめ、クリーンルームにおける実績が豊富です。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・製造ライン中の微細粒子や気流の可視化調査と環境改善 ・製造装置内や製造環境のクリーン化推進 ・各種設備性能のクリーン度評価 ・コンタミ問題に起因する歩留まりや品質低下の改善 ・微粒子や気流の可視化を要する研究開発の支援 ・製品からの粒子発生量評価"
半導体産業向け！プロセス分析計 / オンライン分析計で現像液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)をモニタリング！
- 分析機器・装置
- ウエハー
- 半導体検査/試験装置
半導体製造向け過酸化水素トリメチルアミンと標準陽イオンの測定をイオンクロマトグラフィー法で測定
- イオンクロマトグラフ
- 半導体検査/試験装置
- 分析機器・装置
