半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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  • その他安全・衛生用品

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FIBによる高品質な回路加工、配線加工サービスを提供します。高い加工歩留りを実現しています!

  • 半導体検査/試験装置
  • 半導体・IC
  • マイクロコンピュータ

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パッケージレベルとウェーハレベルで複数のDUTを一括処理!FET単体トランジスタ特性からTDDB評価にも対応

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  • その他半導体
  • 環境試験装置
  • 半導体検査/試験装置

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ミクロンからサブミクロンへ!Burn-in Chanberが追及する極限への信頼性

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  • 半導体検査/試験装置

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自動滴定装置で様々な製造工程で使用される高純度リチウム塩の品質管理

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  • 分析機器・装置
  • 電気滴定装置
  • 半導体検査/試験装置

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イオンクロマトグラフで中和とマトリックス除去を伴う濃縮工程を自動化して半導体製造で使用する高純度水酸化アンモニウムの不純物を測定

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  • 分析機器・装置
  • イオンクロマトグラフ
  • 半導体検査/試験装置

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高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他 衛生検査
  • その他 外観・画像検査装置

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メンテナンス・レジリエンス TOKYO 2025 『第51回プラントメンテナンスショー』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2025.7.23.(水)-7.25.(金)/東京ビッグサイト)

自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス(生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等)の受託業務を国内外で展開しています。 本展では、微粒子可視化システムを始め、昨年リリースしたばかりの新商品3点を実演展示いたします。微粒子検出性能の高さを可視化の面白さを是非会場でご体感ください。

半導体製造向け過酸化水素トリメチルアミンと標準陽イオンの測定をイオンクロマトグラフィー法で測定

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  • イオンクロマトグラフ
  • 半導体検査/試験装置
  • 分析機器・装置

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【表面の異物・汚れ・傷を可視化!】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置

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メンテナンス・レジリエンス TOKYO 2025 『第51回プラントメンテナンスショー』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2025.7.23.(水)-7.25.(金)/東京ビッグサイト)

自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス(生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等)の受託業務を国内外で展開しています。 本展では、微粒子可視化システムを始め、昨年リリースしたばかりの新商品3点を実演展示いたします。微粒子検出性能の高さを可視化の面白さを是非会場でご体感ください。 【期日】 2025年7月23日(水)~7月25日(金) 【時間】 10:00~17:00 【会場】 東京ビッグサイト 東展示棟 東4ホール 4-F01 無料 主催者ホームページより事前の来場登録が必要です。 https://mente.jma.or.jp/

幅広い分野のナノメートル計測に。精密干渉計測用光源として大手メーカーに1000台超の納品実績を保有。

  • 光学測定器
  • 半導体検査/試験装置

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1 mあたりの計測誤差0.1 nm。精密干渉計測用光源として大手メーカーに1000台超の納品実績を保有。

  • 光学測定器
  • 半導体検査/試験装置

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10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに1000台超の納品実績。

  • 光学測定器
  • 半導体検査/試験装置

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広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好適な超高画素カメラ

  • モノクロカメラ
  • カラーカメラ
  • 半導体検査/試験装置

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最先端レベルのFlashメモリ書込みとセキュアデバイスプロビジョニングにいち早く対応し、国内の幅広い用途に拡販!

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  • その他半導体製造装置
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  • 半導体検査/試験装置

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熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。

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  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置

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両面実装基盤の表面のみ検査が可能!3D断層検査にも対応 ※詳細解説資料進呈

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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