半導体検査/試験装置の製品一覧

【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！

• その他搬送機械

室温から-13°Cの強冷風！ご使用環境によりコンボタイプかセパレートタイプを選択可能！

• 冷却装置

薄膜太陽電池パネル測定装置

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

インライン型ウェハー測定モジュール

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、空乏層の容量評価、PN接合試料のシート抵抗を高速に測定！

• その他検査機器・装置
• 半導体検査/試験装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔率・細孔分布測定装置

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

ロールツーロール分光エリプソメータ

• 半導体検査/試験装置
• 距離関連測定器
• 分光分析装置

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

世界シェア25％を占める台湾総合電子計測器メーカーの業界別カタログ！

• 半導体検査/試験装置
• 電源装置

ナノパターンの高速・高精度計測が可能なフォトマスク用CD-SEM

• 半導体検査/試験装置
• その他機械要素

半導体試験に関する課題の解決事例を背景・課題・導入・成果の4項目で分かりやすく解説！

• その他半導体
• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

オーバーホール前、オーバーホール後

• その他搬送機械
• その他検査機器・装置
• 半導体検査/試験装置