半導体検査/試験装置の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

• センサ

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

• その他半導体
• 加工受託
• ウエハー

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

インライン型ウェハー測定モジュール

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、空乏層の容量評価、PN接合試料のシート抵抗を高速に測定！

• その他検査機器・装置
• 半導体検査/試験装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔率・細孔分布測定装置

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定

• 半導体検査/試験装置
• その他電子計測器
• 分析機器・装置

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

ロールツーロール分光エリプソメータ

• 半導体検査/試験装置
• 距離関連測定器
• 分光分析装置

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

• 半導体検査/試験装置
• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置

世界シェア25％を占める台湾総合電子計測器メーカーの業界別カタログ！

• 半導体検査/試験装置
• 電源装置

ナノパターンの高速・高精度計測が可能なフォトマスク用CD-SEM

• 半導体検査/試験装置
• その他機械要素

半導体試験に関する課題の解決事例を背景・課題・導入・成果の4項目で分かりやすく解説！

• その他半導体
• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

オーバーホール前、オーバーホール後

• その他搬送機械
• その他検査機器・装置
• 半導体検査/試験装置

電気特性検査、レーザートリミング、信頼性試験など当社におまかせ！

• その他半導体
• 半導体検査/試験装置