半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました

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静電式により高い捕集率を実現。大型から小型まで豊富なラインアップを展開。水溶性オイルミストにも対応

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  • 空調

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ウェーハのマクロ検査及び、顕微鏡によるミクロ検査を行う装置です

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  • その他半導体製造装置

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ポリッシュ加工後のウェーハの表面検査をする装置です

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φ300 mmシリコンウェーハを目視でエッジ検査(チップ・カケ検査)する為の装置です

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  • その他半導体製造装置

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合否判定装置

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3種類の動作が行える装置

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両面研磨後の洗浄された300mmウェーハを乾燥させる装置です

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φ300 mmシリコンウェーハを簡易洗浄(ブラシ+水)する装置です。

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φ150 mm及びφ125 mmシリコンウェーハの仕込み、取出

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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加工の終了したφ300 mmウェーハを1枚ずつテフロンカセットへ収納し水没させるための装置です

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  • その他半導体製造装置

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ウェーハを1枚ずつローディングする装置です。

  • 半導体検査/試験装置
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シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置です

  • 半導体検査/試験装置
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シリコンウェーハを反転移載する装置です。

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抵抗率別かつ厚さ別の区分に分類

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レーザ光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ(基準ウェーハ)との比較により直径を測定する装置です。

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画像処理によりウェーハの端面を検出し、直径を測定する装置です。

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