半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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φ4"以下の各種素材ウェーハの厚さ測定

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φ100mm~φ150mmのSi、SiC等ウェーハの厚さ測定

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φ200mm、φ300mmのシリコンウェーハの厚さ測定装置

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シリコンウェーハを専用カセットから取り出し、設定したポイントの厚さを計測する装置です。

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ガラス板に貼り付けられたSiCウェーハの厚みと接着剤の厚み測定及び、SiCウェーハ単体の厚みを測定する装置です。

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  • 半導体検査/試験装置

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大人気のTMEシリーズ

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大口径のシリコーンウェーハ測定機

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シリコンウェーハを専用カセットからエッジハンドリングで取り出し、設定されたパターンの厚さ測定を行う装置です。

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  • その他半導体製造装置

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Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定

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  • その他半導体製造装置

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インテグレーテッドR&Dファウンドリーとして高度な専門技術を提供します。

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現在のFOUPロードポートを8時間でN2パージ機能に改造できるキットを開発。3000台の納入実績があります。

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  • 半導体検査/試験装置

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お客様の立場に立って、優れた製品、サービスを適正な価格で提供します。

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半導体関連製品やクリーンルーム設備などの製品を紹介します。

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  • その他半導体製造装置
  • その他クリーンルーム用機器・設備

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電子部品生産システム、冷間鍛造自動車部品、クーラント関連機械の総合カタログ

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  • エッチング装置
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半導体カーブトレーサは、最大ピーク3000V/最大ピーク電流1000Aまで対応可能な最新鋭の装置です。

  • 半導体検査/試験装置

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計測展2015 TOKYO に出展いたします!

このたび、当社は計測展2015 TOKYO に出展することになりました。 是非ご来場賜りますようご案内申し上げます。 ■会期:2015年12月2日(水)~4日(金) ■会場:東京ビックサイト ブースNo.M4-34 ■出展予定製品:  ・半導体カーブトレーサCS シリーズ  ・400MHz 広帯域差動プローブBumbleBee  ・日本製 ロゴスキーコイル電流プローブ  ・SE-6000 シリーズ アイソレーション・プローブ  ・PSM3750 周波数レスポンス&インピーダンスアナライザ(Newtons4th 社製(英国))  ・小信号増幅用アンプ                             など

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