分析機器・装置の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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全光束測定システム HM/FM series　　　

LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

分析機器・装置

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

リポソームの粒子径とゼータ電位評価　

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

分析機器・装置

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分光配光測定システム　Gp series

光源や照明器具の配光特性を測定する装置です　

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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定

反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

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顕微分光膜厚計　複雑な形状のある任意ポイントの測定

さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定

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顕微分光膜厚計　反射率の変化と膜厚の関係

薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定

複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定

反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

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顕微分光膜厚計　厚膜解析方法

屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

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顕微分光膜厚計の膜厚解析

表面粗さを考慮した膜厚解析

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顕微分光膜厚計　ハードコートの膜厚測定　

ハードコートの膜厚測定

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顕微分光膜厚計のメリット

反射分光法と他の測定手法の比較

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顕微分光膜厚計の構造解析

傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

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顕微分光膜厚計の測定原理

光干渉法を用いた顕微分光膜厚計（OPTM）の測定原理

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粒子径・ゼータ電位測定による無機粒子の分散性評価