電子部品・モジュールの製品一覧
- 分類：電子部品・モジュール
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真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水素や水も感度よく確認
- 受託解析
- その他受託サービス
- 基板設計・製造
PL分析（フォトルミネッセンス法）を追加しました
取り扱い製品一覧に、PL分析（フォトルミネッセンス法）を追加しました。 PL分析は物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に遷移する際に発生する光を観測する方法です。 詳しい情報はカタログをご覧ください。
TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量（IC：を評価することができる装置です
- 受託解析
- その他受託サービス
- 基板設計・製造
照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
- 受託解析
- その他受託サービス
- 基板設計・製造
固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です
- 受託解析
- その他受託サービス
- 基板設計・製造
複合解析により特定の有機成分の脱離について温度依存性評価が可能です
- 受託解析
- 2次電池・バッテリー
- 液晶ディスプレイ
ナノ材料に外力を加えた時の形状変化、歪みエネルギーの評価が可能
- 受託解析
- その他
- 2次電池・バッテリー
![研究開発を加速する、[新]表面分析サービス開始！](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/480/2001535453/IPROS2944828896955495055.jpg?w=280&h=280){kind=small}
最表面だけでなく、30nmの深部まで ～表面と材料内部の化学状態を同一箇所・非破壊で定量評価！～
- 2次電池・バッテリー
負極の断面構造・表面形状、活物質断面の元素マッピング像など複合的にアプローチ！
- 2次電池・バッテリー
- 受託測定
めっきなどの膜中・界面の不純物をTOF-SIMSで評価できます。
- ウエハー
- 受託測定
- その他半導体
着目の成膜パラメータ（温度、圧力）にて多分子競合吸着性の評価が可能です
- 受託解析
- その他電子部品
- メモリ
危険場所でのスイッチングハブ、LANケーブル延長、光メディアコンバータとして使用可能！
- ルータ・スイッチ・ハブ
- コンバーター
- ネットワーク関連機器・ソフト
【型番変更】UHF帯RFID シートアンテナ「FZSH200J/FZSH400J」の同軸コネクタがSMAプラグに変更
お客様からのご要望をいただき、UHF帯RFID シートアンテナ「FZSH200J/FZSH400J」の同軸コネクタが【SMAジャック】から【SMAプラグ】に変更となりました。 これに伴い、型番の末尾が「J」から「P」に変更となり「FRZSH200P/FRZSH400P」になりました。 詳細はカタログをダウンロードの上、ご確認ください。