デバイスの残留ガス分析【受託分析サービス】
当社のラボにてサンプルをお預かりしてデバイスの残留ガスの受託分析サービスを行います。
分析アプリケーション例(蓄積法) 破壊分析 ●半導体チップの各積層間の残留・放出ガス測定 ●半導体ウェハ基板からのガス放出測定 ●MEMSデバイスチップ内の残留ガス測定 非破壊分析 ●封止デバイスのリークテスト・放出ガス測定
- 企業:東京電子株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年07月02日~2025年07月29日
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当社のラボにてサンプルをお預かりしてデバイスの残留ガスの受託分析サービスを行います。
分析アプリケーション例(蓄積法) 破壊分析 ●半導体チップの各積層間の残留・放出ガス測定 ●半導体ウェハ基板からのガス放出測定 ●MEMSデバイスチップ内の残留ガス測定 非破壊分析 ●封止デバイスのリークテスト・放出ガス測定
人の健康の保護に関する項目の基準にあたる大気染物質を調査報告いたします。数多くの分析案件を手掛けております。
大気汚染防止法では、工場や事業場から排出したり、飛散する大気汚染物質について、 物質の種類ごとや施設の種類・規模ごとに排出基準等が定められています。 大気汚染物質の排出者等は、この基準を守らなければなりません。 また、大気汚染防止法だけでなく、ダイオキシン類対策特別措置法等があります。 <対象施設> ■廃棄物焼却炉 ■ボイラー ■工場からの排ガス ※基準値は施設能力、燃料等によって大きく異なるため、お問合せください。
通常のFT-IR機能に加え、微小部分の材料定性ができるため、異物(コンタミ)分析やトラブルシューティングに有効です。
本システムは、本体のFT/IR-4200および、微少部分の観察ができる顕微IRのIRT-3000-32ALから構成されています。不詳材料の定性分析、コンタミ分析、トラブルシュートにご利用ください。
「試料調整」や「定量分析」などの試験項目ごとに掲載!税抜き、税込みで分析料金をご紹介
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『有機無機物分析』の料金についてご紹介。 「試料前処理」や「定性分析 1試料」「定量分析 1成分」といった 試験項目ごとに掲載しておりますので、ぜひご一読ください。 【掲載項目】 ■原子吸光分析(一元素) ■イオンクロマトグラフ分析 ■液体クロマトグラフ分析(HPLC) ■ガスクロマトグラフ分析(GC) ■分子量測定(粘度法) ■分子量分布測定(GPC/HPLC) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザーラマン分光分析法により物質の種類、構造、結晶性などが評価できます。
光学顕微鏡で観察し、そのまま非破壊・非接触で1μmの微小部の測定が可能です。同じ分子振動を測定する赤外線分光分析のFT-IRスペクトルとは、相補的関係にあります。固体・液体・気体の状態で測定が可能であり、例えば金属表面の極表層酸化被膜や金属内部に存在する非金属介在物の測定に有効です。
絶対値として質量数を検出!化合物の組成に関する情報を得る事が出来ます
当社では『MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析』を行っております。 「MALDI-TOFMS」では、顔料など不溶性であったり分子量が大きい物質の 分子量情報、合成ポリマーなどの分子量情報、末端基情報などを得る事が可能。 合成化合物の質量確認や、他の分析手法と組み合わせての構造解析など、 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法(MALDI法)採用 ■化合物の組成に関する情報を得る事が出来る ■GPCに対しては小さく、LCMSに対しては大きいようなポリマーの分析に好適 ■絶対値とし て質量数が検出される ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「蛍光X線」や「加熱融解法」などの試験法ごとに掲載!金属類の分析料金をご紹介
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『金属類の化学成分分析』の料金について税抜き、 税込みでご紹介。 「蛍光X線」をはじめ「加熱融解法」や「化学分析」といった 試験法ごとに掲載しておりますので、ぜひご一読ください。 【掲載試験法】 ■蛍光X線:低合金/ステンレスなど ■蛍光X線:工具鋼/耐熱鋼など ■加熱融解法:低合金/ステンレスなど ■化学分析:低合金/ステンレスなど ■化学分析:アルミ合金/銅合金など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
様々な騒音・振動を測定!騒音・振動、遮音性能に関する環境測量証明
環境における騒音・振動調査はもちろん、道路、鉄道、工場など、多種多様な状況における騒音・振動の調査を行っています。 多地点一斉調査、通日調査、年間に亘る長期調査にも対応可能です。 ISO14001取得に係る調査や防止対策に係る設計・施工のコンサルティングなどもご相談下さい。 騒音・振動のレベルから周波数分析及び解析なども行っております。 【関係法規】 ○騒音規制法 ○振動規制法 ○住宅の品質確保の促進等に関する法律 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
入力補償型、熱流束型、いずれのDSC装置も備えており、それぞれの装置の特長を活かした様々な熱分析測定を行っております
弊社では、入力補償型、熱流束型、いずれのDSC装置も備えており、それぞれの装置の特長を活かした様々な熱分析測定を行っております。DSC (Differential Scanning Calorimeter,示差走査熱量測定) は、熱分析の主要な測定法のひとつで、原子・分子の集合体としての物質の熱的性質を測定する方法です。定義としては、「物質および基準物質の温度を調節されたプログラムに従って変化させながら、その物質と基準物質に対するエネルギー入力の差を温度の関数として測定する技法」です。 高分子材料にとって重要な解析手段となっています。
かび・ガラス片・金属タワシなど、迅速かつ適切な調査・報告を行います
当社では、新しい分析機器を駆使して分析・解析を行っております。 異物調査に関しこれまでに蓄積されたデータと経験から、 お客様に迅速かつ的確なご報告・アドバイスが可能。 食品などへの異物混入のクレームでお困りの方など お気軽にご相談ください。 【サービス内容】 ■外観・形状観察 ■無機成分分析 ■有機成分分析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
RoHS分析や鋼材等金属成分の分析など応用分析に関することなら当社におまかせ
当社では、環境負荷物質(Substance Of Concern)測定をはじめ、 RoHS分析やVOC放散量測定などの応用分析を行っております。 その他、鋼材等金属成分の分析や塗料、樹脂など有機物の分析、 異物(不純物・付着物)の分析、同定まで幅広い分析に対応しております。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。 【分析例】 ■SOC9物質などの定量分析 ■揮発性ガスの定性・定量分析 ■異物の由来を特定 ■含有成分の定性分析 ■サビ発生メカニズム解析 など ※詳細については、お気軽にお問い合わせください。
1物質いくらの精密分析を行うよりも安価に早く分析が可能!簡易定量分析は即日での対応も行っております
当社は、RoHS指令に対応していることが当たり前となっている現在、確認の ためだけに1物質いくらの精密分析を行うよりも安価に早く分析が出来ます。 簡易定量分析はカドミウム、鉛、水銀、全クロム、全臭素の分析が可能。 確実に六価クロム、PBBs、PBDEsの含有が分かっている場合は精密分析を お勧めします。また、当社の簡易定量分析は即日での対応も行っております ので、急に分析しなくていけなくなった場合でもお気軽にご相談下さい。 【サービスの流れ】 ■現物・資料確認/お打ち合わせ ■お見積 ■スクリーニング分析・解析 ■報告書作成 ■データ検査・ご納品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたします
株式会社アイテスでは、XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析を 行っております。 サンプルとXPSの光電子検出器との角度を変えることにより、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 HDD磁気面の深さ方向を分析した事例もございます。 【特長】 ■非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能 ■均一な薄膜の深さ方向分析を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
鉄厚み200mmを透過する産業用X線CT装置で解像度0.3mmを実現!
当社では、高エネルギーX線CT受託分析を行っております。 従来のX線CT装置では透過できない鉄厚み200mmのCT撮影ができ、 解像度0.3mmでSTLデータを出力します。 また、50cmの広視野撮影に対応していますので、自動車の大型部品や 蓄電池・燃料電池の欠陥解析に威力を発揮します。 【特長】 ■焦点寸法0.3mmの高分解能 ■撮影時間が1検体20分 ■密度差に対し非常に高感度 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
機能性材料やナノテク材料などの先端材料の課題解決をお手伝いします!
当社では、高性能の分析機器を用いた『表面分析サービス』を提供しております。 材料の表面や界面の情報を収集し、これらの知見を総合的に判断して 機能性材料やナノテク材料などの先端材料の抱える表面酸化、汚染、偏析 などの課題解決に貢献します。 【分析例】 ■ウエハ上の異物分析 ■半導体多層膜の膜構造の解明 ■傾斜切削による多層膜構造の解析 ■ウエハ表面の微量汚染物の分析 ■液晶多層膜の異常部の分析 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。