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測定(iso) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年02月25日~2026年03月24日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

測定の製品一覧

31~45 件を表示 / 全 45 件

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【清掃業向け】化学物質の個人ばく露測定

洗剤使用時のリスクを測定し、安全な作業環境を。

清掃業界では、洗剤の使用に伴う化学物質へのばく露が課題となっています。特に、洗剤の種類によっては、作業員の健康に悪影響を及ぼす可能性があります。個人ばく露測定は、作業員の呼吸域付近の空気中の有害物質濃度を測定し、リスクを評価します。これにより、適切な換気や保護具の使用など、具体的な対策を講じることが可能になります。当社製品は、清掃作業における安全管理を強化し、作業員の健康を守るために不可欠です。 【活用シーン】 ・洗剤を使用する清掃作業 ・特定の化学物質を含む洗剤の使用 ・作業環境の安全性を評価したい場合 【導入の効果】 ・作業員の健康被害リスクの低減 ・労働安全衛生法への対応 ・企業の安全管理体制の強化

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【食品業界向け】圧縮空気清浄度測定

食品の異物混入対策に!圧縮空気の清浄度を測定します。

食品業界では、製品の安全性を確保するため、異物混入対策が非常に重要です。製造工程で使用される圧縮空気は、製品に直接または間接的に接触するため、高い清浄度が求められます。圧縮空気中のダスト、水分、オイル、微生物などの汚染物質は、製品への異物混入を引き起こす可能性があります。当社の圧縮空気清浄度測定は、これらのリスクを低減し、製品の品質と安全性を向上させるために不可欠です。 【活用シーン】 ・食品製造ラインでのエアーガン吐出空気の清浄度確認 ・圧縮空気を動力とする機械類の汚染有無の確認 ・クリーンルーム内での圧縮空気の汚染確認 【導入の効果】 ・製品への異物混入リスクの低減 ・品質管理体制の強化 ・顧客からの信頼性向上

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【自動車品質管理向け】圧縮空気清浄度測定

自動車製造の品質管理に、圧縮空気の清浄度測定を。

自動車業界の品質管理において、圧縮空気の清浄度は非常に重要です。塗装工程や部品の組み立てなど、様々な工程で圧縮空気が使用され、製品の品質に直接影響を与えます。特に、異物混入は、塗装不良や部品の機能不全を引き起こす可能性があります。当社では、JIS B 8392等の規格に基づき、圧縮空気の清浄度測定・評価を行い、自動車製造における品質管理をサポートします。 【活用シーン】 ・塗装ブースでの塗装品質管理 ・部品組み立て工程での異物混入防止 ・クリーンルーム内での圧縮空気利用 【導入の効果】 ・塗装不良や異物混入による製品の品質低下リスクの低減 ・不良品の削減によるコスト削減 ・顧客からの信頼性向上

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【化学業界向け】圧縮空気の清浄度測定

反応制御における品質管理に、圧縮空気の清浄度測定を。

化学業界の反応制御においては、反応物質の純度と反応環境の清浄度が、製品の品質と安全性を左右します。特に、圧縮空気は反応プロセスにおいて重要な役割を担うため、その清浄度の管理は不可欠です。圧縮空気中の汚染物質は、反応の阻害や副生成物の生成を引き起こし、製品の品質低下や予期せぬ事故につながる可能性があります。当社では、JIS B 8392等の規格に基づき、圧縮空気の清浄度測定・評価を行い、お客様の反応制御プロセスの安定化に貢献します。 【活用シーン】 ・反応容器への空気供給 ・反応物の混合・撹拌 ・製品の乾燥・冷却 【導入の効果】 ・反応プロセスの安定化 ・製品品質の向上 ・安全性の確保

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【塗装業向け】化学物質の個人ばく露測定

有機溶剤による健康リスクを低減!作業環境を安全に。

塗装業界では、有機溶剤による健康被害のリスクを低減し、作業員の安全を確保することが重要です。特に、塗料に含まれるトルエン、キシレン、エチルベンゼンなどの有機溶剤は、呼吸器系への影響や健康障害を引き起こす可能性があります。個人ばく露測定は、作業員の呼吸域における有害物質の濃度を測定し、リスクを評価することで、適切な対策を講じるための重要な手段です。当社の個人ばく露測定サービスは、塗装作業における有機溶剤のばく露量を正確に把握し、作業環境の改善に貢献します。 【活用シーン】 ・塗装作業における有機溶剤のばく露量測定 ・橋梁塗装、自動車塗装、建築塗装など ・有機溶剤を使用するあらゆる塗装作業 【導入の効果】 ・作業員の健康被害リスクの低減 ・労働安全衛生法に基づくリスクアセスメントへの対応 ・作業環境改善による生産性向上

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【医薬品製造向け】圧縮空気清浄度測定

医薬品製造における無菌性を確保するために、圧縮空気の清浄度測定を。

医薬品業界では、製品の品質と安全性を確保するために、製造環境における無菌性が非常に重要です。特に、圧縮空気は製品に直接触れる可能性があり、汚染物質の混入は製品の品質劣化や患者への健康被害につながるリスクがあります。当社では、JIS B 8392等の規格に基づき、圧縮空気中のダスト、水分、オイル、微生物といった汚染物質を測定し、無菌性の確保を支援します。圧縮空気の清浄度を把握することで、製品への汚染リスクを低減し、品質管理の向上に貢献します。 【活用シーン】 ・医薬品製造ライン ・クリーンルーム内での圧縮空気利用 ・エアガン等による製品への空気噴射 【導入の効果】 ・製品の品質保持 ・製造プロセスの信頼性向上 ・コンプライアンス遵守

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【航空宇宙向け】圧縮空気清浄度測定

航空宇宙分野の安全性を支える、圧縮空気の清浄度測定。ご相談ください。

航空宇宙業界では、製品の安全性と信頼性が最優先事項です。圧縮空気は、製造プロセスや検査工程において不可欠な要素であり、その清浄度は製品の品質に直接影響します。特に、航空機の部品製造やメンテナンスにおいては、微細な汚染物質が重大な事故につながるリスクを排除する必要があります。当社の圧縮空気清浄度測定は、JIS B 8392等の規格に基づき、ダスト、水分、オイル、微生物といった汚染物質を詳細に評価します。これにより、製品の品質維持、安全性の確保、そしてリスクの低減に貢献します。 【活用シーン】 ・航空機部品の製造工程 ・航空機エンジンのメンテナンス ・クリーンルーム環境下での作業 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・安全性の確保 ・リスクの低減 ・規格適合性の証明

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【半導体向け】圧縮空気清浄度測定

半導体製造の歩留まり改善に貢献します。圧縮空気の清浄度測定をご提案。

半導体業界では、製造プロセスにおける微細な異物混入が、製品の歩留まりを大きく左右します。特に、圧縮空気はクリーンルーム内で使用されることが多く、その清浄度が製品の品質に直接影響します。微粒子、水分、オイル、微生物といった汚染物質は、半導体デバイスの性能低下や不良品の発生原因となり得ます。当社では、JIS B 8392等の規格に基づき、圧縮空気の清浄度測定・評価を行い、半導体製造における歩留まり改善を支援します。 【活用シーン】 ・クリーンルーム内の圧縮空気供給源 ・半導体製造装置への圧縮空気供給ライン ・製品表面へのエアーブロー 【導入の効果】 ・異物混入による不良品発生率の低減 ・製品の品質向上 ・製造プロセスの安定化

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【電子・精密部品向け】圧縮空気清浄度測定

精密部品の品質を守る、圧縮空気の清浄度測定。ご相談ください。

電子・精密部品業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、製造環境における微細な汚染物質の管理が不可欠です。特に、圧縮空気は製品の製造工程で直接または間接的に使用されることが多く、その清浄度が製品の性能に大きく影響します。異物混入は、製品の不良や性能低下を引き起こす可能性があります。当社では、JIS B 8392等の規格に基づき、圧縮空気の清浄度測定・評価を行い、お客様の品質管理をサポートします。 【活用シーン】 ・電子部品製造工場 ・クリーンルーム内での精密部品製造 ・圧縮空気を利用する各種製造工程 【導入の効果】 ・製品表面への汚染物質付着リスクの低減 ・製造工程における不良品の削減 ・製品の品質向上と信頼性確保

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顕微分光膜厚計 複雑な形状のある任意ポイントの測定

さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定

DLC(diamond‐like carbon)はアモルファス(非晶質)な炭素系材料です。高硬度・低摩擦係数・耐摩耗性・電気絶縁性・高バリア性・表面改質やDLCの厚み測定は断面を電子顕微鏡にて観察する破壊検査が一般的でしたが、大塚電子の光干渉式膜厚計であれば非破壊かつ高速に測定が可能です。 独自の顕微鏡光学系を採用することで、形状のあるサンプルの実測定が可能になりました。

  • さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定2.jpg
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顕微分光膜厚計 ハードコートの膜厚測定 

ハードコートの膜厚測定

近年、様々な機能を持つ高機能フィルムを用いた製品が一般に普及しており、用途によってはフィルム表面に耐摩擦、耐衝撃、耐熱、耐薬品などの性能を持つ保護フィルムが必要になることもあります。保護フィルム層としてハードコート(HC)膜を製膜することが一般的ですが、HC膜の厚みによって保護フィルムとして機能しなかったり、フィルムにそりが生まれたり、見た目のムラや歪みの原因になるため、HC層の膜厚値を管理する必要があります。

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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定

反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

フィルムやガラス等の透明な基板サンプルの場合、基板の裏面からの反射の影響を受けると正確な測定ができません。 OPTMシリーズの反射対物レンズを使用すると、物理的に裏面反射を除去することができ、透明基板でも高精度に測定ができます。 また、フィルムやSiC等の光学異方性をもつサンプルに対してもその影響を受けること無く上面の膜のみの測定を行うことが可能です。 (特許取得済 第5172203号)

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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定

反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

半導体トランジスタは電流の通電状態を制御することで信号を伝達していますが、電流が漏れたり別のトランジスタの電流が勝手な通路を通り回り込むことを防止するために、トランジスタ間を絶縁するための絶縁膜が埋め込まれています。 絶縁膜にはSiO2(二酸化シリコン)やSiN(窒化シリコン)が用いられます。 SiO2は絶縁膜として、SiNはSiO2より誘電率の高い絶縁膜として、または不必要なSiO2をCMPで除去する際のストッパーとして使用され、その後にSiNも除去されます。 このように絶縁膜としての性能、正確なプロセス管理のため、これらの膜厚を測定する必要があります。

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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定

複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

従来法では困難であった極薄膜領域下(100nm以下)でのnk解析ですが、複数点解析機能により、精度良くnk解析が可能です。(特許取得済 第5721586号) 最小二乗法でフィッティングをして膜厚値(d)を解析するには材料のnkが必要です。nkが未知の場合、d とnkの両方を可変パラメータとして解析します。 しかしながら、d が100nm以下の極薄膜の場合、d とnkとを分離することができず、そのため精度が低下して正確な d が求められないことがあります。  このような場合、d の異なるサンプルを複数測定し、nkが同一であると仮定して同時解析(複数点同一解析)をします。これにより精度よくnkを求め、正確な d を求めることが可能です。

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❑簡単なプログラミング運転を本体のみで実現可能 ❑他社にはないRamp運転も可能 ❑見やすいディスプレイ ❑正確な測定精度と再現性 ❑粘度測定初心者でも分かりやすい仕様 ❑別売りのLabworld soft6を使用すればデータ記録も可能に! ❑小容量、低粘度サンプル用アクセサリーも! ★デモ機は無償お貸し出し実施中!!

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