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LEDの光学特性および電機特性を測定することが出来ます。
LED総合評価装置「ISD-300」は、分球とマルチチャンネル分光器を使用してLEDの光学特性および電機特性を 測定することが出来る装置です。３素子までのLEDを同時に点灯させて全光束、XY色度、相関色温度、演色評価数などが リアルタイムで表示が可能です。また、ペルチェ素子による温度制御を行って温度をパラメータに光学、電気特性データを 得ることが出来ます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
積分球とカロリーメーターを採用
寿命評価装置はハイパワーの長期通電を行い、耐久寿命を評価する装置です
LED駆動回路は4ch制御が可能で！TEGに合わせてLED基板を設計します
『PAS-100』は、デバイス毎にペルチェ素子式温調機構を採用し、 個別温調が可能なペロブスカイト太陽電池耐久性評価装置です。 Voc,Isc,IV曲線,Jsc,Pmax,FF.Rs,Rshを計測および算出し グラフ化やCSVファイルを出力。 ペロブスカイト太陽電池の特性評価や耐久性評価を多チャンネルで行え 材料研究開発を加速させます。 【特長】 ■LED光源で1SUN相当の長時間連続評価が可能 ■デバイス毎の個別温調と温度ステップ機能 ■高い拡張性と引き出し式で省スペース ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
活力ある先端電子デバイス業界でお客様のニーズにお応えする評価装置、技術の提供を目指しております！
当カタログは、当社の治具設計技術、ソフトウエアなどを掲載している Product Catalogです。 各デバイスを個別に高精度温調できる「EAS-10シリーズ デバイス別温調タイプ」や、 拡張性と省スペースが特長の「EAS-62シリーズ 温調無しカセットタイプ」をご紹介。 また、有機EL寿命評価装置や、EMC対策技術についても掲載しております。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■ワンストップサービス ■主な活動領域 ■ソフトウエア ■治具設計技術 ■環境温度の影響無く高精度に計測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
米国主要企業への納入実績多数！ディスプレイの評価から、携帯・スマホのLCD/OLEDディスプレイの表示特性を高速検査
・輝度 ・コントラスト ・色度 ・色域 ・ガンマ ・クロストーク ・ユニフォーミティ ・応答速度 ・ちらつき ・電圧・電流測定(オプション) ・透過率(オプション) ・反射率（オプション）
最大５０ＣＨの独立電源を採用！ 絶縁信頼性試験、評価試験装置
最大５０チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大３０００Ｖまでの高電圧出力 高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用 １つのサンプルが短絡しても、他のサンプルが継続試験できます。 ◇多チャンネル 最大５０個 １筐体で５０個までのサンプル評価ができるため、 デバイス評価の効率が格段に向上します。 ◇過酷な環境に強い専用計測ケーブル テフロン皮膜ケーブルの採用で、恒温恒湿槽内へ 直接ケーブルを挿入しての試験も行えます。 ※詳細は資料請求またはダウンロードからお問い合わせください。
高精度なアナログ計測回路で試験サイクル初期からの微小変化の検出も可能！
『RTm-100シリーズ』は、回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を 高速、高精度に計測する装置です。 当シリーズの高性能計測回路はミリΩ未満の導通抵抗の変化を正確に とらえ、ヒートショックチャンバーと組み合わせ、温度サイクルに 連動したデータ計測が可能です。 更に、半導体リレーによる高速スキャン機能により、サイクル時間の 短い試験にも十分に追従し、各サイクルに対して計測のタイミングが ずれる事もありません。 【特長】 ■最大50msec/CH の高速データ計測を実現 ■半導体リレー採用で計測精度を向上 ■専用計測回路、専用ケーブルによりノイズ低減 ■マルチ電流源によるAC/DC 印加計測 ■モジュール構造で容易な保守性を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各工程のAE信号を解析することで、その破壊挙動を評価することができます！
『FRP材料評価・構造物AE診断』をご紹介します。 材料破壊現象における各工程のAE信号を解析（AE振幅値・持続時間） することで、その破壊挙動を評価することができます。 ご用命の際はお問い合わせください。 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能！非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値を精度良く測定
『分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、 “消衰係数”、“化合物半導体の組成比”、“ドーパント濃度”です。 【主な評価・測定項目】 ■薄膜の膜厚値 ■エピ膜厚値 ■屈折率、消衰係数 ■化合物半導体の組成比 ■ドーパント濃度 装置の仕様や価格については、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※デモの実施も可能です。ご希望の方は、下記お問い合わせボタンより”デモ希望”と記載ください。
8インチウェハ対応タイプ
再現性、安全性に非常に優れた水銀プローブ方式を用いたCV／IV測定システムです。 Si、化合物、SOI、SiC、バルクウェハといった様々なタイプのウェハ特性を測定できます。 ユーザが最大４９箇所の測定サイトを指定し、C-V、I-V特性、TDDB、Vbd、Qbdの酸化膜破壊評価、Dit、ドーピング濃度、酸化膜厚、Low-ｋ、High-k等のマッピング測定が可能なトータルシステムです。
有機OED作製・評価装置
特徴 ・小スペース、コンパクト設計 ・蒸着セル最大5本取付可能 ・基盤サイズ1〜3インチと幅広く選択可能 ・コンタミを防ぐ2重シールド構造 ・基盤加熱ヒターコントロール機構標準装備 メンテナンス・クリーニングの簡単設計
１クリックで指圧電圧での電流の推移を観測！最大電力追跡機能により次世代太陽電池開発の高効率化を。研究分野で積極採用【デモ機あり】
『PV Power Analyzer（VK‐PA- 300）』は、太陽光発電素子の電流電圧特性評価などの研究開発用機能を装置内に内蔵した太陽電池評価装置です。 モジュール化した太陽光発電素子対応（10V／3A）しているほか、最大電力追跡機能(MPPT)があるため、異なるポイント(電圧)・方向からの最大電力ポイントへの到達する様子を見ることができます。 【特長】 ■ 最大電力ポイントに到達後の、パワー／電流／電圧／変換効率の推移の表示 ■ ワンクリックで「解放電圧(Voc)」、「短絡電流(Isc)を測定 ■ 短時間での効果的な評価 ※デモ貸出をご希望の方はお問い合わせください。 ※製品詳細はPDFご覧ください。
界面せん断強度・接触角を測定！マイクロドロプレット法による複合材界面特性評価装置
『MODEL HM410』は、マイクロドロップレット法を用いた繊維と樹脂界面の せん断強度測定と接触角測定ができる複合材界面特性評価装置です。 任意の温度環境下で極細単遷移に液状樹脂を付着させ、 その形状を撮影し、画像から接触角を求めます。 同時に同一サンプルを使って引抜試験を行い、その時の引抜荷重から、 遷移と樹脂の界面せん断強度を測定します。 【特長】 ■マイクロドロプレット法を用いた評価装置 ■画像から接触角を測定 ■引抜荷重から遷移と樹脂の界面せん断強度を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
