【CS100シリーズ】極低温単軸ひずみセル
極低温環境下で単軸負荷をかけながらサンプルの歪みを測定!
CS100シリーズは、極低温環境下において、サンプルに調整可能な引張および圧縮負荷を加えながら、ひずみ測定を行います。 走査プローブ顕微鏡、共焦点顕微鏡、X線散乱、中性子散乱、抵抗率、磁化率およびその他多くの測定テクニックと組み合わせて使用することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業:テガサイエンス株式会社
- 価格:応相談
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極低温環境下で単軸負荷をかけながらサンプルの歪みを測定!
CS100シリーズは、極低温環境下において、サンプルに調整可能な引張および圧縮負荷を加えながら、ひずみ測定を行います。 走査プローブ顕微鏡、共焦点顕微鏡、X線散乱、中性子散乱、抵抗率、磁化率およびその他多くの測定テクニックと組み合わせて使用することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
X線回折・散乱を行いながら、単軸負荷をサンプルに加え、歪み測定が可能!
CS200Tシリーズは、実験室ベース、シンクロトロンまたはその他のビームラインにおいて、透過モード(回折または散乱)で測定しながら、大きな単軸負荷をサンプルに加え、ひずみを測定することができます。CS200Tシリーズは2インチボア内に収まるように設計されているため、広範な商用およびカスタムメイドのクライオスタットや真空チャンバーに対応しています。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最も大きなストレスと歪みを与えることができる高性能モデル!
FC100はRazorbill Instruments社製引張圧縮セルの中で、最も高性能のストレスセルです。FC100は非常に高い単軸の圧力とひずみをサンプルに加えることができますが、1インチボア内に収まるように設計されているため、広範な商用およびカスタムメイドのクライオスタットに対応しています。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ストレスと歪みの両方を測定することができるパワフルで汎用性の高いデバイス!
UC200を使用すると、独立した力と変位の測定を実行しながら、ストレスとひずみを使用してサンプルを調整できます。 これにより、クライオスタット内のサンプルの状態や、さまざまな温度でのサンプルの機械的特性に関する豊富な情報を取得できます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。