更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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Siレベルの低電圧向けディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サイト同時にテストすることによりスループットを増加します。
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。16サイトを同時に使用することによりスループットを上げることが可能です。対応電圧は1000V/10Aまで。テストプログラムはC言語で開発をすることが可能で、プログラムを用意に作成することが可能です。
低価格、高精度を実現するために日本メーカーのテスターから海外メーカーのテスターへ。
昨今、パワー半導体の供給何がささやかれる中、工場の増産ラインが強化されています。様々な半導体製造装置が使用される中で、製造された製品は最終的に電気的特性のテストをしなければなりません。パワー半導体の大きな市場でもある日本。電気的特性のテスターも日本メーカーが供給しているなかで、なかなかテスター自体の価格が下がってこないのが、現状。CCTECHの CTT3700は2000V/100A対応のMOSFET、ダイオード、電圧レギュレータ、IGBTデバイスのテストを可能にし、従来の日本国内メーカーが提示していた価格から、海外で開発、製造をすることで、低価格を実現しました。
ディスクリート半導体の静特性を自動測定！～50kv・～1200Aまで対応可能なパワーデバイス/モジュール用テスター
『TT-1000』は、ディスクリート半導体の静特性の自動測定を行う パワーデバイス/モジュール用テスターです。 高電圧ユニットの「HV-1000」や大電流ユニット「HC-1000」を取扱って おり、お客様のニーズに合わせてお選びいただけます。 ご要望の際は、お気軽に当社までお問合せください。 【特長】 ■～50kv・～1200Aまで対応可能 ■3種類の基本仕様のご用意 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
2000V耐圧仕様！低インピーダンスのパワーデバイステスター（半導体テスター）
『N54シリーズ』は、2000V耐圧仕様のパワーデバイステスターです。 FPGAの搭載により、テスター内部をフルロジックで同期させ、 高速測定を実現しています。 また、ハンドラー等装置への組込が容易かつ、テストステージまでの 配線距離が短縮され測定品質が向上しています。 【特長】 ■2000V耐圧仕様 ■低インピーダンス ■スイッチング特性 ■ハイスピード ■シンプル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体テスター）
『N50シリーズ』は、200V耐圧仕様で、デスクトップサイズのパワー デバイステスターです。 ハンドラー内に収納ができ、デバイス直近に設置可能。静特性、熱抵抗、 L負荷測定（アバランシェ）を行うことができます。 また、当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応致します。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■200V耐圧仕様 ■デスクトップサイズ ■ハンドラー内に収納 ■デバイス直近に設置可能 ■ラインアップ：静特性、熱抵抗、L負荷測定（アバランシェ） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
CTA8280はアナログ製品に特化したICテスタになります。電圧、電流の精度が高いことが特徴です。
CTA8280FはCCTECH社の２世代目のアナログテスターになります。使用用途は電源関連IC、オペアンプ・パワーアンプ、モータドライバーなどのあらゆるアナログ分野の半導体に最適です。
1台で幅広い接合強度測定ニーズに対応、世界市場をリードする最新モデルSigma（シグマ）
オランダXYZTEC（ザイズテック）社の最新モデル。6センサー搭載可能な回転式ヘッド、優れた操作性・測定精度・多機能で他社製品を圧倒し高いコストパフォーマンスを実現。回転式測定ヘッド、高速稼働ステージ、回転式シェアセンサーにより作業時間短縮を実現します。簡易パターン認識対応自動測定機能も標準搭載。オプションの画像処理機能を追加することで、より高度な自動測定・破壊モードの自動認識にも対応します。世界・日本の大手半導体、パワーデバイス、各種電子デバイスメーカーで幅広く採用実績がございます。
従来のテスターの”高価”、”大きい”、”機種展開に時間がかかる”という概念を払拭したテストシステム。
弊社では、ディスクリートや小規模ロジックデバイスに特化したパワーデバイス用テスターを開発しました。 ■製品ラインナップ■ ・N50シリーズ コンパクト＆高速計測の200V耐圧 ・N54シリーズ 2000V高耐圧・低インピーダンス設計 ※静特性・熱抵抗・動特性テスターをご準備しております。 ■特徴■ 1.コンパクト ハンドラー等装置への組込が容易かつ、テストステージまでの配線距離が短縮され測定品質が向上しています。 2.ハイスピード FPGAの搭載により、テスター内部をフルロジックで同期させ、 高速測定を実現しています。 3.シンプル 汎用言語を使用し、さらに簡易的な命令を並べていくだけで機種設定が簡単に実現できます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電源関連IC、オペアンプ、モータードライバーなどのアナログ半導体から、アナログデジタル混載ICまで幅広い用途に使用可能です。
アナログミクストIC向けの電気的特性検査用のテスタ。電圧、電流の検査精度が非常に高いのが特徴。バッテリ監視ICやアナログ関連、アナログデジタル混載の製品に使用することが可能です。
実環境の条件下での検証も可能なMIMOレシーバーテスタ
当社では、2x2までのMIMO信号の作成、出力が可能で、MIMO受信機の 試験も可能なMIMOレシーバーテスタ『N5106A/N7617B』を取り扱っています。 付属ソフトウェアで作成した波形ファイルを再生でき、送信機がなくても 受信機のテストが可能。 アナログI/Q出力などを使用し、受信機がベースバンド部のみの状態から 試験を開始できます。 【特長】 ■高度なチャネルエミュレーション ■包括的なチャネル相関設定 ■無線LAN信号の作成 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
