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テストシステム×クロマジャパン株式会社 - メーカー・企業と製品の一覧

テストシステムの製品一覧

1~3 件を表示 / 全 3 件

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ESDテストシステム  Model 58154

半導体、電子部品への静電気パルス試験に最適なPXI/PCI試験器。

58154は、半導体デバイス、電子デバイスのテスト中に静電気放電パルスをシミュレートするPXI/PCI制御モジュールです。ESD STM5.1-2001ヒューマンボディモデル(HBM)およびESD STM5.2-1999マシンモデル(MM)に準拠し、JEDEC、JEITA ED-4701といった国内規格にも応用することができます。ソフトウェアを介してシステムをプログラム制御可能で、検査に必要な様々な機能を提供します。例えばウェーハのサンプリングテスト、ESDモデル、ESDパルス極性、シーケンス内のESDパルス間隔、自動テスト機能など、プログラマブルで柔軟な機能を提供します。 58154は、制御モジュールとパルス出力外部ボックスで構成されます。高電圧電源装置(PSU)とパルス生成回路はESD STMに準拠したパルス波形を生成します。 その他のテスタおよびプローバとともに使用することで、トータルなLED・レーザーダイオードテストソリューションとして、生産ラインに最適なシステムです。

  • 試験機器・装置

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SoC/アナログテストシステム Model 3650-EX

コストパフォーマンスに優れたSoC/アナログテストシステム。

3650-EXは、ファブレス、IDM、テストハウスの方々に対して費 用効果の高いソリューションを提供するために、高いスループットと多数マルチサイトテスト能力に対して特別設計されたテスターです。 高機能、高精度、パワフルなソフトウェアツール、及び高信頼性を持つ3650-EXは、コンシューマデバイス、高性能マイクロコントローラ、SoCデバイ スのテストに対して理想的なテスターです。

  • その他検査機器・装置

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高機能SoC/AnalogテストシステムModel 3680

高機能SoC/Analogテストシステム 優れたマルチメディアオーディオ/ ビデオチップテストを実現

デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由) 最大データレート150 Mbps 最大512パラレルテスト対応 最大2048デジタルI/Oピン 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプション)  最大64チャンネルPMU(高精度DC測定)  タイミング測定/DC測定(PPMU)/周波数測定を全ピン装備 最大8G/スキャン  (16Gオプション) タイミングエッジ精度 (EPA) : ±150ps 最大128チャンネル DPS(デバイス電源) HDADDA2(デジタイザ/任意波形発生)オプション 高電力HCDPSアナログオプション 高周波測定HDAVOオプション 多チャンネルHDVI、HDRFアナログオプション* ダイレクトプロービングシステム* OS : Microsoft Windows10 プログラム言語 : C#.NET and GUI オペレーションシステム : CRISPro,  他社テスタからのプログラムサポート 他社テスタのテストボードサポート 標準仕様STDFサポート 全機能をテストヘッドに実装 省スペース、空冷システム

  • 半導体検査/試験装置

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