半導体DCバーンイン装置 試験用
試作評価用、量産用等、任意の試験条件を設定し、信頼性試験が可能な装置です！
『半導体DCバーンイン装置 試験用』は、高周波デバイス（以下FET）の 通電試験装置です。 信頼性評価や量産時のスクリーニング用にRF通電、またはDC通電を行い、 FET実装治具（以下治具）にFETを実装し、高温下にてバーンイン試験を 実施することが可能。 CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築をご提案致します。 【特長】 ■多様な装置構成 ■発振に強い ■安定動作が可能 ■FETのゲート・ドレインに規定のバイアス電圧を印加し、通電 ■試作評価用、量産用等、任意の試験条件を設定し、信頼性試験が可能 ※詳しくは製品詳細情報をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社多摩川電子
- 価格：応相談
