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プローブ×MSHシステムズ株式会社 - メーカー・企業と製品の一覧

プローブの製品一覧

1~5 件を表示 / 全 5 件

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【長寿命・高耐久性タイプ】AFM/SPM用ダイヤモンドプローブ

ダイヤモンドコートや単結晶ダイヤモンドによる長寿命・高耐久性を誇るAFM/SPMプローブ

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。 ティップにダイヤモンドコーティング処理や、ティップ自体が単結晶ダイヤモンドの、高安定・耐摩耗性・高耐久性を持つ長寿命プローブです。 ●ダイヤモンドコートプローブ ・DCPシリーズ : 窒素ドープされたダイヤモンドコーティングにより、導電性を持つプローブ。 ・HA_DCPシリーズ : チップ両端にカンチレバーがあり、ダイヤモンドコーティングされた2種類の異なるティップをもつプローブ。 ●単結晶ダイヤモンドプローブ ・DEPシリーズ : 単結晶ダイヤモンドにホウ素ドープのダイヤモンドコート処理された導電性を持つプローブ。 ・DRPシリーズ、DPRSシリーズ : 高い機械的負荷やスクラッチテストといったアプリケーション用に作製されたプローブ。 ・FDシリーズ : サンプル表面の静電気に鈍感なため、アプローチしやすく、トポグラフィイメージングに適したプローブ。

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【球状ティップタイプ】AFM/SPM用コロイダルプローブ

通常のティップの代わりに、コロイド球を取り付けたプローブです。 コロイド球は複数種類のサイズから選択できます。

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。 チップレスカンチレバーにサイズ較正された球状粒子を固定したコンタクトモード用プローブで、2つの表面間のコロイド相互作用の研究や相互作用特性の定量化に使用されます。 ●用途 ・直接表面力測定 ・単一粒子 - 粒子レベルでのコロイド相互作用 ・細胞力学の直接測定 ・接着力測定 ・粒子と表面間のコロイド相互作用の研究

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SNOMプローブ

プローブ先端に微小な開口部が形成されたSNOM測定用プローブ。5種類の透過波長を用意 400~1600 nm

高品質シングルモード光ファイバーで作製されたSNOM専用プローブです。 プローブ先端はアルミニウムでコーティングしてあり、微小な開口部を持ち、SNOM測定の現在のすべてのモード(透過、反射、収集)で使用できます。 400~1600nmの波長範囲内で、動作波長範囲が異なる5種類をご用意しています。 10本/セットでの提供になります。

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【スタンダードタイプ】AFM/SPMプローブ

高コストパフォーマンスのAFM/SPMプローブ

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。 広範囲の用途にお使い頂けます。 反射コート付き(Au、Al)で高感度測定が可能で、カンチレバー形状、共振周波数および力定数が異なる多くの型番からサンプルに適したものをお選び頂けます。 導電性コーティング(Au、Pt、TiN、W2C)・磁気コーティングの他、裏面コーティングのないベアプローブも提供可能です。 ・ゴールデンプローブ : Au反射コートで曲率半径(6nm, typical)の優れたプローブ ・ETALONプローブ : 共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なプローブ。チップ両端に異なる種類のカンチレバーあり。 ・TOP VISUALプローブ : カンチレバーの先端の位置が真上から観察できる、飛び出し型のプローブ。サンプル表面上の正確な位置決めが可能。

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【高アスペクト比タイプ】AFM/SPM用高アスペクト比プローブ

ティップ先端に長いエクストラティップを持つプローブです。深い溝、垂直な側壁を有するサンプルの測定に有効です。

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。 ティップ先端に長いエクストラティップを持つプローブです。通常のティップでは入り込めなかった深い溝や、測定の困難な垂直な側壁を有するサンプルの測定に有効です。 ・Whiskerプローブ : ティップ先端に、10°または20°の傾斜角度で延伸したエクストラティップを持つプローブ。サンプルに垂直になるように角度を選択可能です。 ・PHAプローブ : ドリルのような細長い形状のエクストラティップを持つプローブ。

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