1～6 件を表示 ／ 全 6 件
logP、logDともに改良されたViswanadhanらの方法に基づき予測を行います！
『Partitioningグループ』は、水/オクタノール分配係数に加え、pHに依存するlogD値を予測することができます。 logP、logDともに改良されたViswanadhanらの方法に基づき予測を行います。 適用された改変には、電子非局在化を調整する為に選択された原子タイプの再定義(特に硫黄、炭素、窒素および金属原子)やイオン化フォームの考慮等が含まれます。 【特長】 ■水/オクタノール分配係数に加え、pHに依存するlogD値を予測 ■logP、logDともに改良されたViswanadhanらの方法に基づき予測 ■両性イオンのlogP値は等電点でlogDから計算 ■logD値がpH依存のように、logD計算はpKa予測の方法に依存 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
低コストで高い信頼性と驚異の書き換え寿命！ WAFを極限まで減らし、SLC並のランダムライト性能で高パフォーマンス、長寿命！
=durabit(TM) - The better MLC = 「WAF」低減対策による高い書換え耐性のストレージ製品です。 NAND Flashメモリのブロック書換え寿命は、SLCタイプで10万回、疑似SLCで2万回、MLCで3千回ですが、NANDストレージでの使用時は、コントローラとファームウェアのデータ管理によりNAND単体での寿命値と異なります。MLC NAND搭載ストレージの寿命課題に対し、ホスト→ストレージ→NANDへの書込みデータ量の比率係数（WAF数：理想値は1)を配慮し、高機能のページベースFTLファームウェア技術を搭載することで、増加するWAFの数値を極限まで抑え、MLCでもSLC並の高い書換え寿命を実現しています。 WAFは書込み増幅率と呼ばれ、NANDフラッシュの仕様やファームウェアの技術、データ管理の構造など 数百の条件が関わり その数値が変化します。 さらにIOPSレートにも影響を受け、WAF値が10の場合、ストレージ内部の消去回数は外部データ量に対して10倍になり、NAND単体での寿命予測に対して10倍速く寿命を迎えてしまうことになります。
1kmメッシュ毎の詳細な解析を閲覧できるため効果的な経費削減ができます！
国土交通省NETIS登録商品である気象・海象総合ポータルサイト 『羅針盤PLUS』の機能をご紹介します。 NETIS登録番号：QSK-210001-VE 当システムは、お客様毎1契約で20地点の予測対象地点を自由に登録でき大変お得です。 対象となる範囲はなんと北緯23度～46度、東経120度～148度と広範囲。 その全ての海域において1kmメッシュ毎の詳細な解析を閲覧できるため、 どんな海域の作業時にも万全の準備で臨めます。 【特長】 ■1契約で20地点の予測対象地点を自由に登録可能 ■対象は北緯23度～48度、東経120度～148度と広範囲 ■1kmメッシュ毎の詳細な解析を閲覧可能 ■どんな海域の作業時にも万全の準備で臨める ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
190℃以下までの昇温測定データを使って、OIT値の予測解析！
当資料は、ポリアミド6・粉末(酸化防止剤無添加)のケミルミ・データ によるOIT予測について解説したテクニカルノートです。 PA6の結晶質と非晶質とわずかに一部が融解した状態云える190℃以下 (融点より35℃低い温度)までの昇温測定データを使って、OIT値の 予測解析。 0.2 0.4 0.8K/minの昇温測定データから90℃～230℃の範囲で 酸化誘導時間のOITが予測できることがわかりました。 詳細は、掲載カタログよりご覧ください。 【掲載データ(抜粋)】 ■50～250℃(0.8K/min) の CL強度信号データ ■適正なピーク積分範囲を選択する ■0.2～0.8K/minのCL強度曲線をピーク積分値8.28E8cts/gで標準化 ■昇温速度 0.8K/minデータのピーク積分曲線 ■ピーク積分値を8.28E＋8cts/gとした場合のCL強度曲線 log-log-plot ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
OIT実測データから140℃より低い130℃以下の等温条件におけるOITのCL強度データを予測！
当資料は、ポリプロピレン粉末のOIT実測データによる130℃以下のOIT予測 について解説したテクニカルノートです。 PP粉末の等温条件140 150 160℃のOIT実測データを解析して50～200℃ のOIT値を予測。90℃までほぼ正しいOIT値が予測できましたが、 90℃未満の予測OIT値は実測値に比較して短時間になっています。 詳細は掲載カタログにてご覧いただけますので、 是非ご一読ください。 【掲載データ(抜粋)】 ■140 150 160℃等温条件のPP(粉末)OIT実測データ ■140 150 160℃実測等温データから算出した反応率曲線 ■140 150 160℃実測等温データから得られたCL強度データ曲線 ■CLデータを反応率曲線(Logスケール)で表⽰ ■CLデータの全領域を反応率曲線(Logスケール)で表⽰ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
等温測定140 150 160℃のおけるOITを予測！ピーク積分の温度終点の決め方などを掲載
当資料は、ポリプロピレン粉末の昇温データから等温条件のCL強度曲線 を予測することについて解説したテクニカルノートです。 PP(粉末)200mgを昇温速度 0.2～0.8K/minの測定データを使って 等温測定140 150 160℃のおけるOITを予測。 昇温測定データからOIT値を予測する場合、CLデータの始点と終点 を適正に選ぶことが非常に重要です。是非、ご一読ください。 【掲載データ(抜粋)】 ■昇温速度 0.2、0.4 0.8K/minのCL強度曲線 ノーマル・スケール ■ピーク積分の温度終点の決め方 ■0.2 0.4 0.8K/min・CLデータのCL強度曲線(Logスケール) ■反応率に対する活性化エネルギーの推移 ■PP(粉末) の140～160℃のOIT予測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
