更新日： 集計期間:2025年11月12日～2025年12月09日
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響コーポレーション 光学機器総合カタログ
響コーポレーションが取り扱う 光学機器総合カタログのご紹介です。 高品質の製品と、きめこまやかで質の良いサービスを提供いたします。 ◆◆掲載内容◆◆ 〜照明装置、顕微鏡、レンズ カメラなど、光学機器を多数ご紹介〜 ○メタルハライド照明装置 ○紫外線ファイバー照明装置 ○ハロゲン照明装置 ○ライトガイド ○LED光源 ○スポットLED ○ビデオ顕微鏡 ○顕微鏡レンズ ○USBカメラ ○カメラレンズ など ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
多岐にわたる先端の光学機器を開発！国内外のお客様にご提供します
当カタログは、レーザ・光技術専門メーカーのネオアークが取り扱う 製品をご紹介しております。 高精度な光の櫛（周波数目盛）を実現したレーザ光源「光周波数コム」を はじめ、マスクレス露光装置「PALET」やKerrループ測定/磁区観察装置 「BH-1071シリーズ」など、様々な製品をラインアップ。 その他にも「レーザ加熱装置」や「レーザ入射顕微鏡ユニット」などの 特殊事例も掲載しております。 【掲載内容】 ■レーザ光源 ■フォトリソグラフィ ■磁性材料測定・観察 ■振動・面内速度測定・観察 ■特殊事例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ＬＥＤ光ファイバー光源装置
● 従来の150Wハロゲンランプ光源装置を上回る光束量を実現 ● ハロゲンランプ技術に対して約3倍のエネルギー効率を達成 ● UV(紫外)、IR(赤外)の発光がありません ● 有効エリアが3〜10mm径のファイバーに対応(アダプターの交換が必要です) ● 筐体と一体化したハンドル設計のため装置を積み重ねて使用可能 ● 輝度は<10〜100%の範囲でリニアなコントロールが可能 ● コンパクトなサイズ ● RoHS対応
欠陥検査装置とレーザ走査技術や開発事例等を掲載！検査装置の概要をご紹介します
当資料では、超広視野レーザ走査イメージャ欠陥検査装置の概要について ご紹介しています。 「欠陥検査装置とレーザ走査技術」をはじめ、「開発事例」や「市場動向 とオプセルの対応」などを掲載。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 1.欠陥検査装置とレーザ走査技術 2.開発の経緯と独自技術の特長 3.開発事例 4.市場動向とオプセルの対応 5.現在使われているレーザ走査イメージャの例 6.応用、ユーザメリット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
平行度を保証した高強度露光装置
超高圧水銀ランプ2kWを使用した露光装置です。 専用PCソフトウェアから制御可能で、マスクの平面出しやガラスとのギャップ調整も可能です。
欠陥場所を拡大すると微小欠陥が見えてくる！検査装置の概要をご紹介します
当資料では、超広視野レーザ走査イメージャ欠陥検査装置の概要について ご紹介しています。 「欠陥検査装置とレーザ走査技術」をはじめ、「開発の経緯と独自技術の特長」 や「開発事例」などを掲載。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 1.欠陥検査装置とレーザ走査技術 2.開発の経緯と独自技術の特長 3.開発事例 4.外観検査市場の動向と当社の対応 5.現在使われているレーザ走査イメージャの例 6.応用、ユーザメリット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
CW 駆動 785nm, 830nm 最大12mW
2波長のLD 光源が1 台で供給できる光源装置で、AC100V の専用電源付きで、光ファイバー接続(FC) できます。
●明るさ勝負！！
●高出力のHIDランプ採用により、業界最高クラスの高光量を実現 ●250Wメタルハライドランプ搭載光源装置により約1.8倍の高光量
ユーザカスタマイズ可能！レーザ顕微鏡の光学系を使用した新しい検査装置
当製品は、顕微鏡でもCCDカメラでもない第3の観察、検査装置です。 レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持っており、 長い画像（Yステージ移動）を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込めます。 また、この他に、円筒面への描画や通常の平面基板への描画ができる 「テレセンfθ型レーザ直接描画装置」と描画用光学ユニット「LSU」も 取り扱っています。 【超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置 特長】 ■光学顕微鏡では見にくい透明フィルムやセラミックスなどの画像取得が可能 ■レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持つ ■長い画像（Yステージ移動）を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込める ■走査レンズは特注仕様も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
250W相当のメタルハライドランプに匹敵！高輝度LEDファイバー光源装置
『PCS-LED250』は、250W相当のメタルハライドランプに匹敵する光量を誇る 高輝度LEDファイバー光源装置です。 最大結束径Φ22mmまでのライトガイドが入射可能で、 ライトガイドの仕様設計が容易になりました。 画像処理用途ファイバー照明用光源装置、リニアブライト（伝送ライト）用 ファイバー接続型、高速度カメラ撮影用、顕微鏡の補助照明等の用途に最適です。 【特長】 ■250W相当のメタルハライドランプに匹敵する光量 ■既存の光源装置の置き換えに対応 ■リニアブライト（伝送ライト）用に専用設計された光学レンズ搭載可能 ■明るく均一でコンパクトなライン照明を実現 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウシオの光で出来ること『太陽電池製造用加熱光源』
ウシオ社の新エネルギー技術開発用光源 太陽電池製造用加熱光源の実用例のご紹介です 【特徴】 ○ハロゲンランプヒータによる「非接触による高速昇降温」は 焼成炉、CVD、スパッタリングなどの装置において標準熱源として採用 ○半導体市場で培った高精度な、熱処理性能、FPD市場において 長年実績を積んだ長尺ヒータは 各種太陽電池製造プロセスで即戦力として採用 ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。
両面露光対応機などUV露光装置を豊富にラインアップ！R&amp;Dから量産まで対応
『UV露光装置』は、マニュアルからセミ/フルオートマチック、両面露光 対応機まで取り揃えています。 豊富な製品ラインアップでR&D～量産まで対応可能。 半導体デバイスやMEMSデバイス、マイクロ流体チップなど様々な用途に 使用されています。 UVライトソースのみの販売も行っています。 【ラインアップ】 ■コンタクトマスクアライナ:Model 200 ■両面露光対応マスクアライナー:Model 800MBA ■両面露光対応マスクアライナー:Model 6000 ■UVライトソース:Series30 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置
『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布（FFP：ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■出力～10Wクラス高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFを使用 ■光検出器は1インチ高精度CMOS検出器ISA061を使用（専用） ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが セットになった光ビーム解析モジュールAP013 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
弊社はUV-LED照射装置の専門メーカーです。大幅インクジェットプリント機器用、印刷機器用のUV LED照射装置・製造・販売
国際リーディングUV LED素子開発技術者 & 紫外線硬化ソリューションプロバイダ
FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 従来比５倍高速・高解像度、超広視野共焦点型・高分解能１μｍ
超広視野共焦点型・高分解能１μｍ、微小欠陥検査レーザ走査イメージャ 従来の顕微鏡光学系やSEMなどは狭い領域を高解像度で観察できるが、広い領域を簡便に観察できない。この課題をレーザ走査イメージャが解決します。 50×50ｍｍ範囲を３Ｄ形状計測できる 計測時間：１μｍ分解能 約３５秒 5μｍ分解能 約１０秒 ●計測幅：0.8μｍ 深さ：５nm ●最大45度傾斜で、形状測定が可。 ●キズや深い穴の欠陥も検出可。 レーザ走査イメージャの特徴 ・従来の顧微鏡やCCDカメラやラインセンサの欠点を克服した 新しい観察装置(照明装置がいらない) ・広い観察領域(顕微鏡の１００倍以上)と長いWDを持つ新開発専用走査レンス ・コントラストの高いレーザ共焦点方式光学ユニット ・レーザ共焦点顕微鏡光学系では初のラスター走査方式(長く大きな画像で大面積の画像を取得できる、マルチスキャン機能搭載) ・概略仕様 走査分解能が高い(1走査最大20000点)走査スピード4000ライン/秒 レーザはLD405nmを使用(650、830nmもあり) ・パソコンモニター上で拡大画像が見られる始めての装置です
