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分析×JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 - 企業1社の製品一覧

製品一覧

1~6 件を表示 / 全 6 件

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EDXによる元素分析サービス|JTL

試料表面に含有される元素(B~U)の定性・定量分析を実施します。

エネルギー分散型X線分析(EDX)による元素分析サービスでは、EDX装置から電子線を試料に当てることで励起される特性X線のエネルギーを測定し、得られるスペクトルから試料表面の元素分析を実施致します。 試料表面のどこに、どのような元素が(定性)、どれぐらいの量(定量)含まれているかを分析することが可能です。

  • 受託測定
  • 受託解析
  • 分析機器・装置

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WDXによる元素分析サービス|JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

EPMA、FE-EPMA、XRFの分析方法である波長分散型X線分析法(WDX)を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。 WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置(EDX)よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。 そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。

  • 受託測定
  • 受託解析
  • 蛍光X線分析装置

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蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

蛍光X線分析装置(XRF)を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置(XRF)は波長分散型X線分析法(WDX)を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。

  • 蛍光X線分析装置
  • 受託測定
  • X線検査装置

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分析サービス|JTL

解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。

精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。 また、SATやX線CTによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。

  • 公共試験/研究所
  • 受託測定
  • その他の各種サービス

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受託観察・分析サービス|JTL

問題解決力で最適な観察・分析方法をご提案致します。

断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。 ■解析目的に合った観察・分析方法をご提案 試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。 ■短納期・低価格のご対応 観察・分析のアウトソーシングサービスに求められるのは品質はもちろんのこと、スピードと価格も重要であると考えます。業界の標準的な納期・価格に対して、JTLでは更なる短納期化・低価格化を実現しました。

  • マイクロスコープ
  • 受託測定
  • 分析機器・装置

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溶出試験の受託分析|JTL

特定の条件下で溶出する元素、イオン、化合物などの測定を実施します。

溶出試験サービスでは、製品から溶出する不純物として、元素、イオン、有機化合物を測定します。樹脂などの製品に対し、ご指定頂いた条件やご要望に応じた条件で溶出試験を行った後、試験液中の各項目の測定を行います。測定項目に応じてICP、IC、GC-MSといった装置を使用して分析を行います。

  • 受託解析
  • 受託測定
  • 受託検査

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