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分析(元素) - メーカー・企業と製品の一覧

分析の製品一覧

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銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析

圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査!断面観察及びSEM/EDXによる元素分析のご紹介

『銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析』についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン), Ag(銀), Cu(銅)であることから、銀入りの りん銅ロウ付け材であると推察します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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液晶中の微量金属元素分析

パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です!

信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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液晶ディスプレイ材料分析

材料と目的に応じた分析手法をご提案!液晶・封止材など部材毎の化学分析例をご紹介

液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR:主成分分析 ■EDX:元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析(劣化解析)ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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EPMA分析

100×100mmサイズも対応!ステージ可動により広範囲のマッピングが可能

『EPMA分析』は、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に 微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています。 100×100mmサイズも対応でき、広範囲のマップが取得可能。 酸化インジウム・スズ薄膜上の異物分析例では、SEM-EDXに 比べ、エネルギー分解能・検出限界・PB比が良好でした。 また、微量元素の検出やSEM-EDXでは検出が困難な分析が可能です。 【特長】 ■エネルギー分解能や検出感度が良い ■特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れる ■ステージ可動により広範囲のマッピングが可能 ■100×100mmサイズも対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TOF-SIMSによる表面分析

TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。

■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析

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有機物のTOF-SIMS分析

有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします

TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 (C2H4O)を質量差44のピーク群として確認できます。 質量数から計算すると、末端はH-,HO-であり、プロトン付加として 検出されていることが推測されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定!EPMAによる状態分析をご紹介

EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態(イオン価、 結晶構造、配位数)の異なりから、特性X線ピーク波長に変化(シフトや波形)が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子(株)製 Jeol-8200 ■分析方式:波長分散型X線分析(WDX) ■分析可能元素:B~U ■エネルギー分解能:20eV(EDXは約130eV) ■検出限界:0.01%~ ■最大試料寸法:100x100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析

ICP発光分析では金属元素を主とする約70種類の元素の定性・定量分析が可能!

ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析についてご紹介いたします。 リチウムイオン電池(LIB)の正極材は電池の電圧やエネルギー密度に 関与する重要な構成要素の一つであり、正極材の組成は電池の性能に 大きく関与。 ICP発光分析は液体試料中に何の元素がどれくらい含まれているかを 分析することが出来ます。 【特長】 ■約70種類の元素の定性・定量分析が可能 ■試料に含まれる添加剤や不純物の定性・定量分析、RoHs指令物質等の  定量分析など、様々な分析に適用可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ビジネスインテリジェンス・データ分析

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カプセル剤粉体のX線CT分析とEDX分析

医薬品に使⽤される粉体の粒度分布測定や構成する有機物質の組成分析(GCMSやLCMS)も実施可能!

カプセルの内部状態を3次元的に可視化した事例、及び粉体の EDX分析により、元素情報のデータを取得した事例を紹介します。 X線CT分析では、カプセル内部にわずかな空気の隙間が存在している様子が うかがえた他、粒度も均一ではなく、一部大きな粒子が含まれていることも 視覚的に把握することができました。 SEM-EDX分析では、内部に含まれる任意の粒子について、元素分析を実施。 15kVの加速電圧にて炭素C、酸素Oの他、カルシウムCa、塩素Cl、鉄Fe、 リンP、ナトリウムNaが検出されました。 【分析内容】 ■X線CT分析:カプセル剤のX線透過観察 ■SEM-EDX分析:内部に含まれる任意の粒⼦の元素分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • X線検査機

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