TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析
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基本情報
・TOF－SIMSはパルス状の一次イオンを照射し 励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。 ・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり 質量の分離が出来ます。
価格情報
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納期
用途／実績例
・緑顔料中のフタロシアニングリーンの分子構造 ・薄膜a-Si太陽電池の深さ方向分析 ・Siウエハ表面汚染の面分析
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この製品に関するニュース（2）
企業情報
アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。