ダイナミックSIMS
株式会社アイテス
『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を
ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。
定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が
可能。(当社の協力会社での分析実施)
最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが
できます。
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