ダイナミックSIMS

ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの分析に好適！

『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、 　広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの 　分析に最適化 ■最高検出限界：ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。

■TOF-SIMS　3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析

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有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします

TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 （C2H4O）を質量差44のピーク群として確認できます。 質量数から計算すると、末端はH-,HO-であり、プロトン付加として 検出されていることが推測されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です！

再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物（CH,CN）、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と 思われるものが確認できないが、TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が 付着していることがわかりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介

TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■銅板の染みの分析 ■SEM-EDX分析→Li検出困難 ■TOF-SIMS分析→Li検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電解質の純度が電池の性能に大きく影響！硫黄成分の揮発性を抑え、ICで検知できる形態に変換

全固体電池用原料の組成分析について、イオンクロマトグラフィーを用いて、 五硫化二リンの純度を分析した例をご紹介します。 五硫化二リンは、硫化物系全固体電池の電解質製造に使用される原料の一つ。 IC測定の前処理として、五硫化二リンの粉末をアルカリ水に溶解させ、リン酸塩と スルフィド塩に変換。その後、スルフィドイオンを硫酸イオンに酸化して、 IC測定溶液を調整しました。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、 是非ご一読ください。 【固体電解質(一部)】 ■Li3PS4 ■Li7P3S11 ■Li6PS5Cl ■Li6PS5Br ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス（生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等）の受託業務を国内外で展開しています。 本展では、微粒子可視化システムを始め、昨年リリースしたばかりの新商品3点を実演展示いたします。微粒子検出性能の高さを可視化の面白さを是非会場でご体感ください。 【期日】　2025年7月23日(水)～7月25日(金) 【時間】　10:00~17:00 【会場】　東京ビッグサイト　東展示棟　東4ホール 4-F01 無料主催者ホームページより事前の来場登録が必要です。 https://mente.jma.or.jp/

業界トップクラス、髪の毛より細い極小径ピンゲージです！最小径φ0.01ミリから製作しております！ 必要に応じて「校正証明書」「トレサビリティ体系図」を発行可能。 ご希望の寸法規格・精度をご指定いただければお見積りいたします。 高精度極小径穴の内径測定や測定器の校正用マスターゲージとしてご使用いただいております。 またピンゲージではなく小径穴打ち抜き用のパンチピンや放電加工用の電極材としてもご使用可能です。 「一体型タイプ」「ホルダー(持ち手)付タイプ」をご用意しております。 基本情報 【製品詳細】 <超硬合金製> ■呼び寸法(φA)：0.010～0.099 ■長さ(B)：5～10 ■トピ：0.001 ■許容差：±0.5μm ■直径不同：0.5μm ■表面粗さ：0.1μmRa <ジルコニアセラミックス製> ■呼び寸法(φA)：0.030～0.099 ■長さ(B)：5～10 ■トピ：0.001 ■許容差：±1.0μm ■直径不同：0.5μm ■表面粗さ：0.1μmRa ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

特徴： ●15.6インチ TFT LCDディスプレイ（1920×1080 / 1366×768） ●Intel(R) プロセッサー Nシリーズ搭載 ●投影型静電容量方式マルチタッチ対応 ●アルミニウム筐体デザイン ●前面パネルはIP65準拠（防塵・防水） ●ファンレス ●VESAマウント / パネル埋め込みマウントブラケット内蔵 ●9〜30V DCの広範な電源入力に対応

特徴： ●21.5インチ TFT LCDディスプレイ ●Intel(R)プロセッサー Nシリーズ搭載 ●投影型静電容量方式マルチタッチ対応 ●アルミニウム筐体デザイン ●前面パネルはIP65準拠（防塵・防水） ●ファンレス ●VESAマウント / パネル埋め込みマウントブラケット内蔵 ●9〜30V DCの広範な電源入力に対応

特徴： ●10.4インチ TFT LCDディスプレイ ●Intel(R)プロセッサー Nシリーズ搭載 ●投影型静電容量方式マルチタッチ対応 ●アルミニウム筐体デザイン ●前面パネルはIP65準拠（防塵・防水） ●ファンレス ●VESAマウント / パネル埋め込みマウントブラケット内蔵 ●9〜30V DCの広範な電源入力に対応