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社内製作のためサンプルサイズ、取付の自由度の高い測定が可能です。異形サンプルで通電測定が難く、お困りの方へのサービスです。
一般的に積分球は、高価なもので追加工、測定ソフトの部分修正検討などは不可能です。 本積分球は、作製、分光器、放射束、光束の換算を社内で製作しました。 校正は、神戸産業技術センターの積分球と標準光源で校正しております。 ハード部分、ソフト部分について、測定結果、その処理全体を把握できますので、高い自由度で使用できます。 １）下記のような目的で実験用として使用できます。 ・一般的な、分光感度測定 ・樹脂開発、蛍光体開発時の初期分光特性 ・エイジング時の光出力特性の変化 ・光出力の劣化モードの比較検討から簡易測定器の開発テスト用 ２）異形サンプルの光学測定 ・積分球内に専用の通電治具をセットして使用
LEDやパワー素子の性能を最大限に引き出すジャンクション温度測定サービスのご紹介
当社では、LEDやパワー素子など主に放熱特性を評価するための「ジャンクション温度測定サービス」を行っております。 この測定は、開発時の構造設計や材料評価、パッケージ開発において重要な測定ファクターとなり、製品品質全体の信頼性の基準となります。 温度-VFの関係の測定結果を基に、通電後のVFを測定することで、ジャンクション温度をダイレクトに測定することが可能です。 【サービス事例】 ■開発時に構造設計を行う場合 ■材料開発を行った場合や、その特性を評価したい場合 ■LEDなどでは樹脂に対する熱光の影響を評価したい場合 ■パッケージ開発などにおいてその劣化特性を評価したい場合 ■量産時に信頼性で問題の調査が必要な場合 等 お客様の使用環境などの状況に合わせて、サービス全体を構築します。 お気軽にお問い合わせください。
熱抵抗の簡易評価から不良解析まで、半導体のIV特性測定で多目的に活用いただけるサービス
当社では、「IV特性測定サービス」を行っております。 半導体のIV特性は基本的な電気測定として多くの目的で測定されております。 通常の製品評価だけでなく、不良解析や熱抵抗の簡易評価にも活用します。 簡易な予備実験レベルで、多くのサンプル間での相対的な比較が可能です。 熱飽和時のVF特性としての変化量を測定し、熱引けの良し悪しを評価します。 単独のIV測定だけでなく、電気-光の関係における簡易検査や、電気-熱の関係に対する簡易相対評価も可能です。 異常解析の初期確認など、さまざまな用途でご相談いただけます。
