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蛍光体、QDなどの波長変換材料のサンプル作製から評価までの実験サービス
当社では「蛍光体評価サービス」を行っております。 本サービスは、蛍光体サンプル作成から熱・光熱劣化の評価まで一貫して行います。 通常の蛍光体から特殊な蛍光体まで、広範な材料に対応しており、蛍光体を含めた、パッケージ作製材料の在庫手持ちもあるため、仮実験レベルはすぐに着手可能です。 お客様ご要望に基づいた評価条件の設定可能で、製品開発に役立つ具体的なデータを提供いたします。 無機物系、有機系、QD関連の蛍光体材料について励起光をパッケージなどで用意、サンプル化対応が可能です。 また、熱光劣化特性の評価を行います。 ご要望によってはその連続通電治具、定電流電源、簡易光出力測定治具などを含めた評価系を提供させていただくことも可能です。 【実績】 ■実験用サンプルの材料調達から評価系軸それぞれセットで社内で使う場合 ・個別のサンプルとしてのご依頼 ・実験治具装置のとしての電源、基板など設計対応 ■高出力LEDを多数実装した評価用治具 等
インプラント、医療機器の破損原因調査などの各種評価をお引き受けします
インプラント材料評価センターの解析・評価技術とは インプラントをはじめ、各種医療機器の評価試験から破損・不具合原因調査まで、豊富な材料解析の経験を有した専門家がサポートします。
経済産業省の推進する知的試算経営報告書を作成するサービスです。貴社の発展のために、プロパティ社のノウハウを活用下さい。
知的資産経営とは、企業が自ら保有する、見えざる知的資産を認識し、それを管理・活用して中期的に持続的な利益を確保する経営です。企業が勝ち残っていくためには、差別化による競争優位の源泉を確保することが必要ですが、特に大きなコストをかけなくても身の回りにある「知的資産（見えざる資産）」を活用することによって、他社との差別化を継続的に実現することができ、 ひいては経営の質や企業価値を高めることができます。 これらを具体的に進めるには、「知的資産経営報告書」を作成することが第一歩と言われています。
コネクタの評価技術サービスを提供し、 自動車部品の評価業務をトータルサポートします。
本サービスでは、試験前準備から試験後評価に至るまで、評価の全工程をサポートします。 安全性・耐久性・耐環境性・機能性といった信頼性試験の評価と、試験時に発生した不具合に対しても、JTLの知識・経験・サービスを活用しお客様の課題に向き合っていきます。 --- 掲載内容 --- ■はじめに ■評価サービス一覧 ・試験前準備 ・試験前後の特性評価 ・耐久試験 ・その他の評価 ■事業所案内 ※詳しく知りたい方は、お気軽にお問い合わせください。
LED製品に対応する技術と実績
■IEC 62471評価 ULはLEDおよびランプの光生物学的安全性に関する国際規格IEC 62471のCB試験所として認定されています。 製造者の皆様のご要望に応じて、下記のサービスを提供します。 ＜LED / ランプのIEC 62471リスクグループ判定＞ ・? LED / ランプの分光放射照度および分光放射輝度を測定して各種ハザードに対するリスクグループを判定します。 ・?サービスの成果物: IEC 62471評価レポート (IECEE Official Test Report Form使用) ・? 搭載されているLED / ランプ、および、製品において被曝し得る放射のリスクグループを正しく把握することは、LED / ランプ搭載製品の安全性を確保する為の第一歩となります。
LED搭載製品の光生物学的安全性に対する要求とは何でしょうか？などの疑問にお答えしています！
当冊子は、LED放射の安全に関する疑問をQ&A方式でお答えしています。 LED搭載製品の光生物学的安全性に対する要求とは何でしょうか？をはじめ、製品からのLED放射の潜在的危険度はどのように表されますか？や、LED放射のリスクグループは どのように決定されますか？などを掲載しています。 【掲載内容（抜粋）】 ■LED搭載製品の光生物学的安全性に対する要求とは何でしょうか？ ■製品からのLED放射の潜在的危険度はどのように表されますか？ ■LED以外のランプからの放射も光生物学的安全性に対して評価可能ですか？ ■LED放射のリスクグループはどのように決定されますか？ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
IEC 62304のIAS ISO / IEC 17025認定試験所として、組み込みソフトウェアの評価サービスを提供
IEC 62304（JIS T 2304：医療機器ソフトウエアーソフトウエアライフサイクルプロセス）は、医療機器ソフトウエアのライフサイクルプロセスに関する要求事項を規定しており、欧州、米国および日本などで薬事承認を得る上での要求事項となっています。弊社では米国のILAC認定機関IASより、IEC62304（Medical device software – Software life cycle processes）のISO/IEC17025認定を受けており、弊社からのサポートにより62304の評価レポートをご利用いただくことができます。
小型家電製品を各国/地域の規制/規格に基づき試験し、認証や適合性評価サービスを提供しています。
多くの製品カテゴリーにおいて、開発初期段階から認証までエンジニアによる手厚いサポートが可能です。米国をはじめ、カナダ、中国、韓国、欧州等、お客様一人ひとりのニーズに対応した試験/認証ソリューションを提案します。 ＜提供サービス＞ ・国内向けPSE適合性評価試験レポート/S-mark認証 ・北米向けUL/cUL認証 ・CB試験証明 ・海外規制対応（欧州 CEマーキング/中国CCC等） ・依頼試験（IP試験/振動試験/ご要望に応じた依頼試験＆測定） etc.
コンパイラ評価の環境設定から解析までをトータルサポート
コンパイラ評価サービスは、世界最大規模のテストスイートを用いてお客様に代わってコンパイラの品質を評価するサービスです。コンパイラのリリース前の検査や受け入れ検査等にご利用いただけます。
機械パーツや各種素材の発塵量を評価。発生した微粒子の全量カウントと粒径分級をリアルタイムに行います。評価レポート付き。
微粒子発生量評価装置「P-Wind」は、当社の微粒子可視化技術を応用して開発された新しいタイプの評価装置です。 供試体から発生した微粒子の全量をリアルタイムにカウント（計数）するだけでなく、粒径分級も同時に行うことができます。 【 特長 】 ■ 発生粒子の全量測定が可能です。測定・評価結果は報告書として提出します。（JIS B9926 に準拠） ■ 高速サンプリング技術により応答性の高い測定が可能です。発生量に時間変化がある供試体でも、その変化を追随して測定できます。 ■ クリーン用品等の静的製品から、ロボット等の動的製品まで、幅広い評価が可能です。 ■ 個数データとともに微粒子を可視化した動画も記録できます。データのエビデンスをリアルタイム映像としても確保できます。 ■ 装置はISO Class 3のクリーンルームに設置されており、データへの外的影響がほぼ無い環境で測定可能です。 ■ 測定条件のカスタマイズにも応じています。 詳しくはカタログをダウンロード、または担当者にお問い合わせください。
表面のこの変色の理由は？なぜこんな所にヒビが入っているの？等の課題は、電子、原子、分子、化学反応メカニズムの視点で解決します！
製品の製造過程、および使⽤時において、たくさんの不具合が発⽣します。その中でも材料特性に関わるような課題で、「おそらく材料が原因なんだろうけど、何をどうすればよいのかなあ」、とお悩みの方々には、電子、原子、分子、および化学反応メカニズムの視点で適しているソリューションを提案いたします。 ■課題例 ・なにかしら、この変⾊はどうしてなの？ ・なぜすぐにヒビが入ったの？ ・引張試験をすると、すぐに千切れる理由はなぜ？ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータルサポート！
当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EMC評価・対策 ■表示不良解析 ■信頼性試験 ■パネルの評価・解析 ■パネルの構造解析 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
次世代半導体の試験ニーズの増加から、試験設備を拡充して受注キャパシティーや試験装置の生産を増加させていきます！
半導体や電子部品の不良解析・信頼性試験の受託事業や試験機の製造、 販売などを展開する株式会社クオルテック(堺市堺区)は、パワー半導体に 特化した評価拠点「パワエレテクノセンター」(堺市西区)を開所しました。 これまで大阪府堺市内の3カ所に分散していたパワー半導体評価拠点を集約。 パワー半導体の評価需要のさらなる増加に対応するため、試験装置を従来比 1.5倍の最大90台まで設置できるようスペースを拡張しました。 今後の目標としては、信頼性評価事業として25年6月期には売上高6億円以上を 目指しており、その後もさらなる投資や設備の拡充を行い、年間1億円規模で 増加させていく計画です。 【評価対象(抜粋)】 ■封止樹脂(ゲル等)の評価 ■接合材料(はんだ、金属焼結材)の評価 ■放熱グリス(TIM材)の評価 ■ワイヤーボンディング材の評価 ■半導体素子の変更(SiC、GaN、GaO、他) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アンテナの設計、試作、評価について、高周波のノウハウを用いて対応いたします！（技術基準適合証明、技適代行）
「カスタム品のアンテナでは、コスト、サイズがマッチしない」 「アンテナは取扱いがむずかしい！」その悩みを解決に導きます。 （技術基準適合証明、技適代行） WTIではアンテナの設計、試作、評価について、無線回路設計の 経験が豊富なエンジニアが高周波のノウハウを用いて対応いたします。 【特長】 ■用途に合わせたアンテナの提案 ■アンテナの特性を最適化する設計提案 ■技適申請代行サービスの対応 ■ワンストップ対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体をはじめとする各種電子部品や電気製品の電気的特性、温度特性、その他動作特性といった各種評価試験を行うサービスです。
評価環境の設計開発を伴う受託評価 環境試験槽と連動した評価及び信頼性試験 パワーデバイスを含む車載電子部品の信頼性関連評価 リバースエンジニアリングと連動した評価のご提案
微小・極薄の残渣をイメージとして捉えます
近年のＰｂフリーハンダ導入に伴い、フラックス成分も改良（活性度が高い、熱耐性がある等）が進み、腐食性が大きくなり、残渣の問題も重要度を増しています。そのため、フラックスを除去することが求められています。プリント基板電極部の異物について、TOF-SIMSを用いた分析を行った結果、フラックスの成分が検出されました。
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
ステンレス(SUS)は耐食性に優れ、様々な工業製品・部品として使用されています。腐食に強い材料ですが、経年劣化や加工処理によって表面不動態皮膜の組成に変化が生じると不具合の原因につながります。今回、TOF-SIMSを用いてステンレス表面の金属酸化膜の状態について分析した事例をご紹介します。TOF-SIMSでは酸化物状態として分子情報を高感度に得ることで、表面数nm～数十nmの酸化物の分布を得ることができ、イメージ分析によって空間的な分布を評価することが可能です。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：製造装置・部品 分析目的：化学結合状態評価・組成分布評価・腐食層の膜厚 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能
GaN系LEDは照明用途としても広く用いられるようになりました。光の取り出し効率を高めるため、取り出し面に凹凸を設けることがありますが、この凹凸が深さ方向分析における深さ分解能の劣化を招きます。 テクスチャ凹凸面に平坦化加工を施すことにより深さ分解能の劣化を抑えて深さ方向濃度分布を評価した事例と、バックサイド(基板側)から分析を行った事例をご紹介します。
Slice&Viewデータから各物質の体積計算が可能
Slice&View（FIB加工とSEM観察を繰り返し数十枚の連続画像を得る手法）のデータを用いて、粒子などミクロンオーダーの体積計算を行うことが可能です。これにより、一定体積中の各物質の存在比率や平均体積等の情報を得ることができます。 本事例ではリチウムイオン二次電池正極のSlice&View分析結果から活物質の体積を計算し、存在比率を算出した事例をご紹介します。
詳細な状態評価と併せ、膜厚計算が可能
XPSでは試料表面の化学結合状態を評価することができ、波形解析により更に詳細な評価をすることが可能です。加えて、波形解析結果に仮定パラメータを用いることで、表面酸化膜等の膜厚を算出することも可能です。 本資料では、SiC表面の組成・状態評価を行うとともに、取得したピーク強度から酸化膜厚を算出した事例をご紹介します。
ppmオーダーの微量金属も評価可能です
各種材料の特性を設計・制御するにあたって、母材に微量含まれている元素の種類や量、またそれらの存在状態を明らかにするのは非常に重要です。このうち元素の種類や量に関してはSIMS(二次イオン質量分析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例としてセラミックス材料に微量含まれるCeの価数を評価した事例をご紹介します。
二次電池の活物質の分布・構造を三次元で評価可能
リチウムイオン二次電池（以下、LIB）の正極に用いられる活物質の構造が電池性能に影響を与えます。 X線CT法を用いることで、活物質の三次元観察画像が取得でき、任意箇所の断面を観察することが可 能です。また、取得した三次元画像について画像解析を行うことで、種々の構造的特徴を数値化するこ とが可能です。 本事例では、LIBの正極材部分をX線CT観察し、活物質の粒子体積分布の評価を行いました。 測定法：X線CT 製品分野：二次電池 分析目的：形状評価・構造評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
各種表面処理を検証可能
感染症予防や防カビ、におい対策を目的とした抗菌コート剤やコート済み日用品が多く普及しています。 なかでもAgイオンは雑菌、ウィルス等に対する抗菌・殺菌効果を示す一方で、人体に対してはほぼ無害であることが知られており、無機系抗菌成分として広く使用されています。 試料表面に抗菌成分として存在するAgに着目して、抗菌コート膜の有無や耐久性を評価した事例をご紹介します。
電池などに用いられる有機化合物の酸化還元特性・電子状態を予測・評価
還元活性を有する芳香族アゾ化合物は、アルカリイオン電池やレドックスフロー電池において現在主力の金属活物質を代替する低環境負荷の次世代有機活物質として注目されています。 電池性能の評価には、実験に加えシミュレーションを用いた物質の電子構造や酸化還元特性の検討が有用です。本資料では、量子化学計算によりアゾベンゼンとそのカルボン酸誘導体塩の還元電位、分子軌道計算を行った事例を紹介します。このようにシミュレーションで物質の電気化学特性を推定できます。 測定法：計算科学・AI・データ解析 製品分野：二次電池 分析目的：化学結合状態評価 「詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
昇温・降温時の異種材料間にかかる応力分布を定量化できます
HfxZr1-xO2(HZO)を用いたFeFET(強誘電体トランジスタ)は高速動作、低消費電力により次世代トランジスタの候補として期待されていますが、分極が小さいという欠点があります。FeFET特性改善のために、HZOの強誘電性を高めることが有効であり、HZO層へ応力を加え、強誘電性を示す結晶相を増やす方法が提案されています。本事例は有限要素法を用いて、TiN、W、Pt、HZOなどの線膨張係数が異なる材料から構成される積層構造において、降温時に各層に生じる応力を評価しました。 測定法：計算科学・AI・データ解析 製品分野：LSI・メモリ・電子部品・製造装置・部品 分析目的：形状評価・構造評価・応力・歪み評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能！
弊団では、ARXPS(角度分解XPS)による極薄膜の組成分布評価を 承っております。 X線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、 それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いて サンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価。 従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、 深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる 組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜(数nm程度)の デプスプロファイル評価に有効です。 【測定法・加工法】 ■[XPS]X線光電子分光法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
MOF、ゼオライト等、ナノ多孔質体の吸着特性が予測できます！
MOF(金属有機構造体)は分離プロセス、触媒、ガス貯蔵などに対する 応用可能性を秘めたナノ多孔質材料として注目されています。 MOFのトポロジー、リンカー、金属ノードの組み合わせは膨大で、 合成可能なMOFの種類はほぼ無限に存在します。 そのため、新規MOF材料の開発には、事前のスクリーニングと構造、機能、特性の理解が重要です。 本事例では種々のMOFへのCO2吸着量をGCMC（グランドカノニカルモンテカルロ）法により予測し、 吸着特性に影響を及ぼす要因を考察しました。
耐久性試験を実施する事で、HDDの耐久性マージンレベルを調査致します！
当社の『HDD信頼性評価サービス』では、お客様が新規にHDDを 採用される際に、安心してお使いいただけるHDDを選択できるように 耐久性マージン試験等、各種環境試験をご用意させていただきます。 温湿度耐久性マージン試験や温度サイクルマージン試験のほか、 減圧(高度)環境でのHDD動作マージン試験、電圧マージン試験など、 HDDの実力を確認する事のできる各種マージン試験の対応が可能です。 【サービス内容】 ■温湿度耐久性マージン試験 ■温度サイクルマージン試験 ■振動、衝撃マージン試験 ■減圧、電圧マージン試験 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
システムの安定稼働を目指すサポート＆サービスをご提供！
コサウェルは、自社開発した負荷ツール（MTLS)/性能測定ツール（PIAF)を 使用し、お客様の負荷試験と性能評価をサポートする『品質評価サービス』を ご提供いたします。 システムの規模が日々大きくなっていく中で、負荷試験/性能評価の 必要性が増しています。 負荷試験を実施して性能評価を行うためには、 「負荷試験の経験がない/実施方法がわからない」 「性能情報を分析する経験がない/ノウハウがない」など、 様々な課題があります。 当社の『品質評価サービス』は、これらの課題を解決いたします。 【当社の特長】 ■大規模なシステム（金融システム等）に対する性能評価を実施した経験/実績が豊富 ■自社で開発した負荷ツールと性能測定ツールを使用し、負荷試験と性能評価をスピーディーに行う ■お客様のご要望に対して追加開発で柔軟に対応することが可能 ■ボトルネック検出時は、トレース採取機能を使用して原因となるプロセスの特定をスピーディーに行う ■改善策の立案をサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ポゴピンの第三者評価機関としてご活用下さい。
従来Ｐｉｎ５本、新規Ｐｉｎ５本（+Ref用1本） 等を用い、各Lapにて抵抗値や荷重を測定します。ストロークｖｓ 抵抗値に加えストロークｖｓ 荷重も測定可能で、全回数抵抗値測定も可能です（ただし１本ずつとなります）。Lapは、0、10k、50k、100k、150k、200k回等、指定回数にて実施します。摺動方法は、指定ストロークで摺動させます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
