顕微鏡(化学分析) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり
更新日： 集計期間:2026年02月18日～2026年03月17日
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顕微鏡の製品一覧
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ALSモデル900Dシリーズ SECM走査型電気化学顕微鏡
表面分析へのアプローチ
ALSモデル900Dシリーズ SECM走査型電気化学顕微鏡は、界面近傍の化学的な変化を高解像度で観察するための装置です。
- 企業：ビー・エー・エス株式会社
- 価格：1000万円 ~ 5000万円
高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に！
化学結合状態分析、バイオロジーからナノテクノロジー・ポリマー・最先端材料分野、電機・電子・自動車・機械・化学・薬品分野の研究等
様々な分野で活躍できる、日本電子株式会社の商品を3つご紹介いたします。 ご興味のある方はお気軽にお問い合わせください。 〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS) 「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現した汎用型XPSです。カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 〇JEM-1400Flash 電子顕微鏡 高感度sCMOSカメラを標準搭載し超広視野モンタージュシステムや光学顕微鏡画像リンク機能などの強力な新機能を組み込んだ透過電子顕微鏡です。 〇JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡 誰でも観察・分析ができることを目指した卓上走査電子顕微鏡です。前処理不要な低真空モード、視野探しのためのステージナビゲーションシステムを備え簡単に使えます。光学像からSEM像にそのまま移行できるZeromag、観察しながら元素分析できるLive Analysis、SEM観察中に三次元観察が可能なLive 3D等の機能を搭載しました。
- 企業：アズサイエンス株式会社 松本本社
- 価格：応相談
『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈
Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新製品の開発をサポート
当社では、『個々のニーズに応じた分析サービス』を提供。中でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発／隠れた性質の発見／基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、水素、窒素など任意の雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力－組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただけます。 お問合せ・分析のご依頼もお気軽にどうぞ。
- 企業：ハイドロラボ株式会社
- 価格：応相談
STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法
極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画像化
当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来る ■物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来る ■高面分解能画像観察により結晶欠陥を直接観察することも可能 ■極微小領域での元素・組成情報を得ることが出来る ■SEM-EDS法では検出できない微小領域や微量の分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社クオルテック
- 価格：応相談
【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価
Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です
パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性（Ga極性とN極性）が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にGa極性、N極性の様子を明らかにすることができました。 測定法：TEM 製品分野：パワーデバイス・光デバイス 分析目的：形状評価・構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
AFM 原子間力顕微鏡 ナノオブザーバー 2
老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現
柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定（KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
有機化学や材料科学の研究、原子分解能での観察などに！
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介
おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS 屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計 マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。
- 企業：アズサイエンス株式会社 松本本社
- 価格：応相談
日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000
光学像からＳＥＭ観察、元素分析まで 高機能ながらもユーザーフレンドリーな高い操作性
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
【NEW！！】FT-IRイメージング顕微鏡『LUMOS II』
【高速イメージングおよび高速マッピング機能搭載】FTIRイメージングをこれまで以上に迅速・快適・正確に！
『LUMOS II』は、高速イメージング対応FPA検出器です。 初心者から上級者まで、分析スキルのレベルに関係なくどなたでも使えるガイド機能付きのため、 スキルのレベルに関係なくすべてのユーザーに迅速・快適・正確にご利用いただけます。 また、イメージングはすべての測定モードにおいて実行することができ、 錠剤、高分子材料、汚染物質の分散状態など、 不均一系試料に関する化学的評価を簡単かつ正確に行うことが可能です。 【特長】 ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
卓上電子顕微鏡 実機お持ち込みデモンストレーション案内
お客様へ丸文通商が操作性抜群の卓上電子顕微鏡をお持ち込みし、覧いただきます
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。 ＪＣＭ７０００を直接ご覧いただける デモンストレーションサービス デモ対象エリア：北陸(富山県 石川県 福井県）甲信(長野県 山梨県)関東(埼玉 群馬 静岡 神奈川)中部関西(岐阜県 滋賀県) のお客様お問い合わせください
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
FT-IRイメージング顕微鏡『LUMOS II』
不均一系試料に関する化学的評価を簡単かつ正確に行うことが可能です
『LUMOS II』は、顕微赤外分光やイメージング解析をより簡単に、 より迅速に、そして快適に進めることか可能です。 透過、反射、ATR（全反射吸収）、すべての測定モードにおいて 高い性能を発揮。 長作動距離の対物鏡によりアクセスが容易で、動作のすべてが 電動化された自動試料ステージも特長のひとつです。 【特長】 ■先進のFPAによる卓越したイメージング性能 ■高品位なスペクトルおよびイメージデータ ■高速イメージングおよび高速マッピング機能：広域を短時間でカバー ■透過、反射、ATR、すべての測定モードに対応するFTIRイメージング ■液体窒素なしでも高感度測定を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
【材料業界向け】卓上電子顕微鏡 JCM7000
光学像からSEM観察、元素分析まで。使いやすさを追求。
材料業界における構造解析では、材料の微細構造を詳細に観察し、その特性を理解することが重要です。特に、新素材の開発や既存材料の品質評価においては、表面形状や組成を正確に把握することが不可欠です。従来の観察方法では、時間と手間がかかり、迅速な分析が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、三次元観察機能により、材料の構造解析を効率化します。 【活用シーン】 ・金属材料の組織観察 ・高分子材料の表面観察 ・複合材料の界面観察 ・異物分析 【導入の効果】 ・迅速な分析による研究開発の加速 ・不良原因の早期特定 ・クレーム対応のスピードアップ
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
【半導体品質管理向け】JCM7000 卓上電子顕微鏡
光学像からSEM観察、元素分析まで。品質管理を加速。
半導体業界の品質管理では、製品の微細な欠陥や異物を迅速に特定することが求められます。特に、製造プロセスの微細化が進む中、ナノレベルでの異常を早期に発見し、不良品の発生を抑制することが重要です。従来の検査方法では、時間とコストがかかり、迅速な問題解決が難しいという課題がありました。JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、インスタント機能により、品質管理における課題解決を支援します。 【活用シーン】 * 半導体デバイスの異物分析 * 製造工程における不良原因の特定 * 製品の品質評価 【導入の効果】 * 迅速な異物・不良箇所の特定による、クレーム対応のスピードアップ * 研究開発サイクルの加速 * 品質管理プロセスの効率化
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
電池の中の「見える化」で開発を加速
電池開発における不確定現象、未知現象などを解明！KRIの二次電池ワンストップサービス
当社では、電池・システム技術者、材料技術者、そして分析技術者が 各々の観点から一緒に考え、事象・メカニズムを解明していきます。 Operando CTと画像解析の融合技術(セル厚み・変位解析)では、 充放電を断続的、継続的に行いながら3次元像を取得して画像を 解析し、変化を評価。 電池開発における不確定現象、未知現象などワンストップで解明します。 【超高分解SEM・NMR(一部)】 ■組成分析では区別が難しい材料を導電性の違いで見分ける電位コントラスト観察 ■蒸着膜による「着ぶくれ」なくシャープ繊維形状を観察 ■基材表面に化学結合したシランカップリング剤の結合状態把握 ■Phosphine oxideと基材の分子間相互作用を観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社 KRI
- 価格：応相談
【電子部品向け】卓上電子顕微鏡JCM7000
光学像からSEM観察、元素分析まで。故障解析を加速。
電子部品業界において、製品の信頼性確保は不可欠です。故障解析では、不良箇所の特定と原因究明が求められます。従来の外部機関への依頼では、時間とコストがかかることが課題でした。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、迅速な解析を可能にします。これにより、不良原因の早期特定と、クレーム対応の迅速化に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品の異物解析 ・不良箇所の特定 ・製品の品質管理 ・研究開発における材料分析 【導入の効果】 ・解析時間の短縮 ・コスト削減 ・品質向上 ・研究開発の効率化
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
【製薬向け】卓上電子顕微鏡 JCM7000
光学像からSEM観察、元素分析まで。異物検出を加速。
製薬業界では、製品の品質管理において異物混入の早期発見が重要です。異物は製品の安全性や有効性に影響を与え、企業の信頼を損なう可能性があります。従来の異物検査では、外部機関への依頼に時間とコストがかかり、迅速な対応が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、異物の迅速な特定を可能にします。 【活用シーン】 ・医薬品製造における異物検査 ・原材料の品質管理 ・クレーム発生時の原因究明 【導入の効果】 ・異物検出時間の短縮 ・品質管理の効率化 ・クレーム対応の迅速化
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
【化粧品業界向け】卓上電子顕微鏡JCM7000
化粧品の品質管理、研究開発を加速させる卓上電子顕微鏡
化粧品業界では、製品の品質管理や研究開発において、配合成分の粒子観察が重要です。粒子の形状や大きさ、分布を正確に把握することで、製品の性能や使用感、安全性を評価できます。異物混入の早期発見にもつながります。日本電子 卓上電子顕微鏡JCM7000は、光学像とSEM像をシームレスに切り替え、元素分析も可能なため、化粧品の研究開発や品質管理における課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・化粧品原料の粒子観察 ・製品の品質評価 ・異物分析 ・研究開発 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・研究開発の効率化 ・クレーム対応の迅速化 ・競合他社との差別化
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
