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眼球の加工と薬剤成分の可視化（イメージング）が可能です
投与薬剤が生体内でどのように分布しているかを知ることは、薬剤開発のうえで重要な情報となります。 本事例では魚類の眼球硝子体内に薬剤を直接投与し、眼球断面で薬剤成分の分布を評価しました。 結果、薬剤を投与した付近から薬剤成分が強く検出され、眼内に分布している様子が得られました。 質量顕微鏡であるTOF-SIMSを用いることにより、眼球をはじめとした様々な生体器官の薬物動態への応用が可能です。
高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。
SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます（拡散層構造の高感度評価）
SNDM (走査型非線形誘電率顕微鏡)では半導体のp/n極性を識別し、拡散層の形状を可視化すること ができます。本手法は、従来から用いられているSCM（走査型静電容量顕微鏡）の機能を包括しており、 SCMでは評価が難しいSiCを代表とする次世代のパワーデバイスにおいても、低濃度から高濃度まで十分に評価を行うことができます。高感度を特徴とし、あらゆる化合物半導体デバイスに適用可能です。一例として、SiC Planer Power MOSの断面を製作し、SNDM分析を行った事例をご紹介します。
SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。
・試料中の特定元素（特にB,C,N,O等の軽元素）に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル（XAS）との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く（＜1atomic%）、微量成分であっても評価が可能
固体中の有機体・無機体炭素量を評価することが可能です
全有機体炭素測定計（TOC計）は、試料中の全炭素（TC：Total Carbon） 、無機体炭素（IC：InorganicCarbon）をそれぞれ分けて定量することが可能です。サンプルは水溶液にすることなく固体のまま測定することができます。 本資料では市販の膨張剤、塩に含まれるTOC、TC、IC評価事例を紹介します。
TOF-SIMSで金属界面の有機物を深さ方向に評価できます
金属界面の有機物は密着不良や剥がれの原因となります。その密着不良の分析には、物理的に剥離加工を行い、剥離した面について定性分析を行うことが有効です。（参照：分析事例C0198）。一方、剥離加工ができない場合も多く、その場合にはスパッタイオン源を用いて深さ方向に分析をすることが有効です。 本資料では、金属界面における薄膜もしくは二次汚染程度の有機物を深さ方向に定性分析した事例を紹介します。結論としてC系のイオンを確認することで有機物の存在を確認することができました。 また、成分がわかっている標準品と比較することで有機物を同定できる場合もあります。
様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です
SIMS分析で不純物濃度を求めるためには、分析試料と同じ組成の標準試料を使うことが必要です。紫外LEDやパワーデバイスに使われているAlGaNについて、様々なAl組成のAlGaN標準試料を取りそろえることで、MSTではより精度の高い不純物の定量が可能です。 市販深紫外LEDを解体後、SIMS分析を行い、ドーパントのMgの濃度、及び主成分のAl組成の分布を求めた事例を紹介いたします。 測定法：SIMS 製品分野：照明・パワーデバイス・光デバイス 分析目的：微量濃度評価・不純物評価・分布評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
「多くの元素を感度よく測りたい!」というご要望にお応えします。 主成分から微量成分まで70元素以上の同時分析が可能です。
グロー放電質量分析計(GDMS)による新サービスを5/15(月)より開始しました。 ・主成分からppbレベルの微量成分までの70元素以上の同時分析が可能 ・従来困難であったC,N,Oをppmレベルで検出 ・nm～数十µm以上の深さ方向分析が可能
ハロゲン（F、Cl、Br）、硫黄の分析が可能です
燃焼-イオンクロマトグラフ(IC)法では、プラスチックや樹脂等の固体材料や、有機溶媒等の液体材料に含有するハロゲン（F、Cl、Bｒ）や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることにより発生したガスを吸収液に捕集します。この吸収液をイオンクロマトグラフ法で測定することで、水に溶けない固体サンプル中のハロゲンや硫黄含有量を測定することが出来ます。
ICP-MS、 GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析
半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法：ICP-MS・GDMS 製品分野：パワーデバイス・製造装置・部品 分析目的：微量濃度評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
チョコレートを徹底的に科学分析し食感、溶け方の違いを探っています。製品間の比較にも実績がありますのでぜひご活用ください
当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。 「チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）」をはじめ、「チョコレートのDSC測定2（製品間の比較）」や「チョコレートのDSC測定3（溶け方の違い）」などの目的や手法、結果など掲載。 他にも、解析結果や考察、分析事例などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定） ■チョコレートのDSC測定2（製品間の比較） ■チョコレートのDSC測定3（溶け方の違い） ■チョコレートのDSC測定4（好適生成条件の検証） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
プラスチック製ワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による変形・破断の様子をTMA・応力ひずみ測定装置で推定できます
●試料：プラスチック製のワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による、変形・破断の様子を推定 ●手法：TMA(熱機械分析)・応力ひずみ測定装置による圧縮クリープ測定、応力ひずみ測定 ●結果：クリープ曲線、応力ひずみ曲線から、試料の圧縮による変形の様子が分かりました ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はTMAの他に、DSC、TG/DTAの各種熱分析も強みとしております ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 本事例および熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
DSC測定でチョコレートの主成分であるココアバターの融解挙動の把握が可能です。チョコレートの食感判別や品質管理にご活用ください
示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。 この事例ではDSCを用いた 「チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）」 で皆様に身近なチョコレートの分析を紹介しています。 チョコレートの食感(口どけ)判別や品質管理に役立ちますのでぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用可能 ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用可能 他の食品でも実績がありますので熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
チョコレートを徹底的に科学分析することで各社製品の比較が行えます
示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。 この事例ではDSCを用いた 「チョコレートのDSC測定定2（製品間の比較）」 で皆様の身近なチョコレートの分析を紹介しています。 その第2弾です。 チョコレートの食感(口どけ)判別で製品比較にも役立ちますのでぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 他の食品でも実績がありますので熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位置に高精度で行えます
FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形：φ5μm ・ピラーの高さ：700nm/650nm/600nm ・ピラーの径：φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 を短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいております。 こちらもお気軽にご相談いただければ幸いです。 ※詳細が必要であればお気軽にお問い合わせ下さい。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/
