更新日： 集計期間:2025年06月04日～2025年07月01日
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縦型インデックスにて両端面検査！異形なワークの全周検査が可能な検査装置
『円錐ワーク外観検査装置』は、砲弾型等の異形なワークの全周検査 を行う検査装置です。 縦型インデックスにて両端面検査が可能です。 水平S字インデックスでは側面検査を行うことができます。 カップコンベア、ケースストッカー等のオプションがあります。 【特徴】 ○縦型インデックスにて両端面検査 →カメラ数：2台＋1台（テーパー部用） ○水平S字インデックスにて側面検査 →カメラ数：6台＋専用正反射照明 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
レンズ単体とモジュールの双方の検査に対応！異物や傷、クラック等の検査も可能
『レンズ外観検査装置』は、高速高解像度カメラと照明系を工夫して 小型レンズの（スマホ含む）の外観検査を高速高精度で行います。 異物や傷、クラック等の検査も可能。手動でサンプルを搭載し、検査は 自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度CMOSカメラにより 圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。 また、インラインにも容易に対応致します。 【特長】 ■レンズ単体とモジュールの双方の検査に対応 ■異物や傷、クラック等の検査も可能 ■高精度CMOSカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現 ■インラインにも容易に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
スマートフォン、タブレット関連検査装置。 カバーガラスにも対応可能。 FPD業界に幅広く実績有り。
小型ガラスパネル外観検査装置は、コンベアで搬送される小型ガラスパネル（スマホ～タブレットサイズ）を画像検査する装置です。1次元カメラを使用し、1枚ずつ移動するワークを撮像、外観検査します。表面と裏面の同時検査仕様や、あらゆる工程へのインライン組み込み等、様々な要望に対応致します。微細な傷や表面不良を検出する照明条件を有し、オプションで透過光を追加する事も可能です。不良を検出したワークについてはNGデータを管理します。オプションでマーキング機構を搭載する事も可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
NG箇所も一目で確認可能！表・裏・側面の異物、成形不良検査をすることができます
『IGシリーズ』は、製品の異物・欠け・成形不良を自動で外観を 検査できる装置です。 防滴仕様IP54相当に対応。NG発生時に画面上にNG製品の画像を表示し、 NG箇所も一目で確認する事が可能です。 また、品種設定の変更履歴を残す事が出来る為、以前の設定に戻すことが できます。 【特長】 ■全周検査の小スペース化を実現 ■防滴対応 ■NG画像表示 ■レシピ管理設定 ■ストロボ検査 ※詳しくは下記リンクよりカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
小物部品や製品の最終検査工程で、設置したその日から外観検査に威力を発揮します！
『ZARA-KEN 7』は、考える目を持つ使える外観検査機です。 小物の製品や部品から微細な精密部品まで、外観検査が可能。 簡単操作でマスター登録が完了、複雑な設定がなく、即、戦力になります。 異品・不良品を自動判別し、分別するオプション設計や、 大量検査に応える既設ラインへの組込みにも対応します。 【特長】 ■ワークをランダムに配置し、接触させずに搬送する直進フィーダー ■視差を低減する特殊光学系を採用 ■見やすい検査結果表示画面 ■広い撮像エリアと、高い分解能のセンサーで 高速検査が可能に ■One Actionマスター登録、様々なワークの検査段取り変更が容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
卓越したはんだフィレット検査性能！より歩留まりのよい製造ラインを構築することが可能
『NVI-G350』は、実装工程における貴社の課題を業界最高レベルの検査 パフォーマンスで解決する基盤外観検査装置です。 長年の経験により蓄積したお客様の多様なニーズをノウハウとして成熟。 検査装置として製造不良品の流出を食い止める役割を果たすのはもちろんのこと、 部品搭載位置などの傾向を数値的に管理し、容易に分析することが可能と なっております。 【特長】 ■対象物の形状を高速かつ正確に再現 ■広い範囲の3D・2D画像を効率よく取得 ■自動バックアップ機構 ■プログラム作成時間を当社従来比で1/2に短縮 ■虚報対策にかかる作業負担を大幅に軽減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモデル。Wafer上の欠陥とムラを同時に検査することが可能。
PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。
狙った欠陥を確実にキャッチ！パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化
『CI4000』は、全6面検査自動化により、目視検査レスを実現した パワーデバイス用チップ外観検査装置です。 上面・下面検査は、マルチアングル照明＋複数枚撮像で 様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。 また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、 ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最大25Mpixカメラによる高分解能・高解像度検査 ■オリジナルシームレス・7チャンネル マルチアングル照明 ■Min10msec/画像取込→検査モード毎に複数枚を連続取り込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程を一つの機械で全て対応。
半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目視で欠陥やゆがみなどを検査しますが、それら加工製品の数量が増加すれば、目視検査での見落としや、人件費が膨大に膨れます。 その見落としと、人件費を削減するために、半導体、金属エッチング加工製品の検査工程にPrestigeを導入し、検査工程の見落としから費用の削減までを可能に。 【特長】 ● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能で、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適化照明 ● カメラアングル可変式を採用、明視野～暗視野像の検査 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8/12インチ対応 ● オプション機能により、ウェハ裏面検査に対応
黒点異物や気泡異常など気付きづらいシート製品の異物を自動で外観検査が可能に！『IGシリーズ』
『シート外観検査装置』は、シートの微妙な変化を検知し、 照明の明るさを自動で変化させることができる検査装置です。 製品の前に付きっきりで目視検査の必要がなくなります。 検査中にNG箇所の画像のみを表示することが可能な為、 全てを隈なく見る工数が減り、省人化・工数削減に貢献します。 また、エンコーダパルス撮像手法で、生産速度が変わっても検査画像に 影響しない為、誤検知をすることがありません。 【特長】 ■エンコーダパルス撮像 ■スクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示することができる ■履歴情報を残すことで過去の設定などをさかのぼって閲覧することが可能 ■照明輝度自動追従機能搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基板検査装置・治具 （外観検査）
300万画素のカラーカメラを搭載 しました。3種類の照明と、4つの検査手法により高精度な検査に対応出来ます。
カップ内外面の印刷不良、汚れ、キズ等の欠陥を検出します。
カップの内外面の印刷欠陥や汚れ、キズ等の異常を、特殊照明とラインセンサカメラによる撮像系と独自の濃淡画像のパターンマッチングにより検査します。 【特徴】 ○ラインセンサカメラによる高速高精度検査 ○既設の印刷機に設置可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
撮像系と独自の濃淡画像パターンマッチングにより検査します。
表面に印刷のあるボトルの印刷欠陥や外観の異常を、特殊照明とラインセンサカメラによる撮像系と独自の濃淡画像パターンマッチングにより検査します。 【特徴】 ○ラインセンサカメラによる高速高精度検査 ○既設の印刷機に設置可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
