外観検査装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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外観検査装置(照明) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年06月04日~2025年07月01日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

外観検査装置の製品一覧

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【食品分野向け】目視検査の自動化で異物混入対策!外観検査装置

お菓子やボトル、麺類などの外観検査を自動化!NG製品の画像表示など様々な機能で『工数削減』『異物混入対策』『品質管理』に好適!

外観検査の自動化を実現する2つの製品をご紹介します。 <多面外観検査装置『IG-DSM01』> お菓子、冷凍麺、ボトル、缶詰などの外観検査に活躍する製品です。 表・裏・側面の異物、成形不良の検査ができます。 ■IP54相当の防滴対応 ■NG製品の画像表示が可能 ■品種設定の履歴を残し、設定を戻すことが可能 <麺帯外観検査装置『IG-MTG01』> うどん、ラーメン、焼きそばなどの麺類の外観検査に活躍する製品です。 カメラはBOX収納されているほか、照明にエアーブローが付いているため 粉がカメラ・照明に付着しにくくなっています。 ■NG箇所をスクロールマップで表示 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示可能 ■履歴情報を残せ、過去のNG画像等を閲覧可能 ※詳しくは資料をダウンロード頂くか、お気軽にお問い合わせください。

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  • その他 外観・画像検査装置
  • 外観検査装置

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メタルマスク外観検査装置

様々な製版マスクの検査・測長を1台で実現した、高速・高精度外観検査装置

☆メタルマスク外観検査装置☆ ○特徴 1.様々な製版マスク(SMTメタルマスク・サスペンドメタルマスク・乳剤製 版マスク・バンプメタルマスク)の検査・測長機能。 2.各工程間の検査に対応するため、検査用マスターデータは、ガーバデー タに加えフィルム・硝子乾板からも生成可能。 3.ハイスピードカメラ:高速画像処理手法の採用による高速検査の実現。 4.画像検査に加え±10μ精度の測長機能を搭載。 5.主な検査項目  ピンホール・断線・ショート・パターンの異彩・乳剤のエグレ・サイズ 違い・形状違い・半透明の乳剤カスの残存・異物

  • 外観検査装置

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セラミック基板 2D/3D自動外観検査装置

セラミック基板の高精度・高速自動外観検査を実現!高精度3D欠陥検査搭載が可能!

高精度で高速で検査可能なセラミック基板自動外観検査装置です。 マルチアングルLED照明+複数枚画像撮像で、高精度2D欠陥検査が可能。 理想的な照明環境の構築や高速取込み、複数枚画像撮像や高分解能検査対応により、 多様な不良モードの欠陥を確実にキャッチします。 高精度の3D欠陥検査が搭載可能で、検査面全ての高さデータを取得し 僅かな膨れや凹みを検出します。 【特長】 ■高精度2D欠陥検査 ・理想的な照明環境の構築からマルチアングル/マルチch.制御可能 ・高速取込み&複数枚画像撮像により、照明を切替えて複数枚画像撮像可能 ・高分解能検査対応で4M~25Mpixカメラから選択可能 ■高精度3D欠陥検査搭載可能 ・検査面全ての高さデータを取得し、僅かな膨れや凹みを検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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外観検査装置『NMK040』

部品選別の省力化を提案!高速で確実な不良品選別を可能にする外観検査装置

『NMK040』は、300個/分のスピードで不良を高速検出できる 外観検査装置です。 コネクター検査で極数切替が容易なシンプル機構を実現。 上下面カメラに加えて、バックライト照明による側面バリ検査にも 対応可能です。 【特長】 ■高速で確実に不良品を選別 ■上下面カメラに加え、バックライト照明による側面バリ検査に対応 ■シンプル機構で極数切り替えが容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 外観検査装置

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セラミックデバイス グリーンシート外観検査装置

高精細2D検査で微細な欠陥や精密な寸法検査を実現!低温同時焼成セラミックス用

LTCC(低温同時焼成セラミックス)用のグリーンシートに 存在するシミ、異物付着といった欠陥や印刷された電極パターンに存在する 凹凸や太り、細り、異物付着等の外観検査を行う装置です。 電極パターンの位置度を検査することが可能で、グリーンシート積層前の 品質管理にご使用いただけます。 【特長】 ■高精細2D検査で微細な欠陥や精密な寸法検査を実現 ■高精細3D検査で微細な凹凸の検査を実現 ■マルチアングル照明を用いて好適な照明環境を実現 ■高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置
  • その他検査機器・装置

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外観検査装置 多面タイプ

製品の多面(表面、裏面、側面)を複数カメラで捉え外観検査を行なえます。

1.全周検査の小スペース化の実現  表、裏、側面の異物、成形不良検査をかることが可能  おわん状の欠け検出をすることが可能(オプション) 2.防滴対応   防滴仕様IP54相当に対応 3.NG画像表示  NG発生時に画面上にNG製品の画像を表示し、NG箇所も一目で  確認することが可能 4.レシピ管理設定  品種設定の変更履歴を残す事が出来る為、以前の設定に戻すことが可能   5.ストロボ検査  ストロボ照明で検査を行っている為、照明寿命が長く  使用することが可能 6.リモート機能(オプション) 設定の変更、コンベア制御等がリモートで操作可能

  • 画像処理機器

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パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』

実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減&歩留まり向上!モジュール組立ての受入れ検査、スクリーニングに最適!

『CIシリーズ』は、チップトレイに収納された個片ベアチップの外観品質検査を行い、 良品/不良品に分類する装置です。 検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等 標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。 半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に適した装置です。 対象製品例)パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ <CI8000> ■全6面検査モデル(表面、裏面、側面の全6面検査) ■最速 8000CPHの高処理能力 ■高精細な検査を実現するステージを搭載 <CI200i> ■表裏面検査モデル ■表面検査をイントレイで実施することで、省スペース化 ■製品への接触をミニマム化し、ダメージレス ■高精細の検査ステージを搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 半導体検査/試験装置

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チップ自動外観検査装置『CI200D/CI300D』

ダイシングフレームモデル!10msec/イメージの高速取り込みにより高い処理能力を実現

『CI200D/CI300D』は、パワーデバイス、フォトデバイス、光学フィルタ LED他のウエハダイシング後に発生する欠け・クラック・キズ・異物等の 欠陥を外観検査する装置です。 ダイシングフレーム上の個片化されたチップを自動認識し、個片毎に 高精度な欠陥検査を実施。 結果に基づき、良品・不良品の判定をし、マップデータとして出力します。 【特長】 ■ダイシングフレーム上の個片化されたチップを自動認識 ■個片毎に高精度な欠陥検査を実施 ■結果に基づき、良品・不良品の判定をし、マップデータとして出力 ■製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定できる ■MAX20条件の照明設定を可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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円筒部品高速外観検査装置「薄型ブッシュ外観検査装置」

ワーク2回転による照明切替!安定したワーク姿勢の外観検査装置

『薄型ブッシュ外観検査装置』は、全周側面検査+上下面検査が 可能な検査装置です。 水平インデックスによる高速ピック&プレースを実現。 2ステーションの並列処理により高速検査 【特徴】 ○全周側面検査+上下面検査が可能 ○専用吸着治具にて安定したワーク姿勢 →タクト:150個/min×2列 当社は、簡易的な外観選別から、微細な検査までカスタマイズ 対応いたします。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 外観検査装置

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パワーデバイスチップ用 外観検査装置

欠陥検査を高精度で自動化!全6面検査自動化により、目視検査レスを実現!

パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化した外観検査装置です。 全6面検査自動化により、目視検査レスでの2D高精度欠陥検査を実現しました。(対象製品:IGBT用チップ・パワーダイオード用チップ等) 側面検査では、XYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出。上面・下面検査では、マルチアングル照明+複数枚撮像で様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込み、狙った欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■高解像度:最大25Mpixカメラによる 高分解能・高解像度検査 ■好適な照明環境:マルチアングル照明 ■高速制御・取り込み:欠陥モード毎に最適画像を複数枚を連続取り込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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【防滴IP54対応】工場の省スペース化にも貢献!多面外観検査装置

製品の異物・欠け・成形不良を自動で簡単外観検査『IGシリーズ』

『多面外観検査装置』は、表・裏・側面の異物、成形不良検査が できる製品です。 防滴仕様IP54相当に対応しています。 NG発生時に画面上にNG製品の画像を表示するので、NG箇所を探す手間工数削減にも好適です。 製品の目視検査は工数がかかるだけでなく、ヒューマンエラーの原因になりかねません。 検査基準も人によって異なる為、安定して高品質な製品を生産していく為に、 自動外観検査装置は必要不可欠な存在となります。 【特長】 ■表・裏・側面の異物、成形不良検査をすることが可能 ■防滴仕様IP54相当に対応 ■NG画像表示できる ■品種設定の変更履歴を残す事が出来る為、以前の設定に戻すことが可能 ■ストロボ検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体ICパッケージ自動外観検査装置『LI930』

従来機LI900Wより処理能力向上&省スペース化を図った新型高機能モデル販売開始!

LI900W後継機として車載ICパッケージ対応高機能モデルをリリース ・ICパッケージの規定寸法、捺印、異物付着などの外観不良を高精度に検査します ・全6面(上面・下面・側面)欠陥検査に対応可能なフルスペックモデルです ・車載用途など高い出荷品質が求められるICパッケージの外観検査に全てお応えします 【特長】 ■各種表面実装型パッケージのJEITA規定寸法測定法に準拠した検査 ■マルチアングル照明を採用し対象欠陥に最適な照明条件設定で確実に検出 ■コンパクトな筐体により工程専有面積を小さく抑える事が可能

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円筒部品外観検査装置「薄型円筒ワーク外観検査装置」

水平インデックスを用いた全周検査!浮上リニアフィーダーによる高速搬送!

『薄型円筒ワーク外観検査装置』は、水平インデックスを用いた側面全周検査が可能な検査装置です。 2枚の水平インデックスでの受渡しにて、表裏面検査、全側面検査を行います。 浮上リニアフィーダーを搭載し、高速検査を実現。 専用吸着パッドにて安定したワーク姿勢を維持します。 【特徴】 ○異形ワーク、多面検査に最適 ○ワーク停止による複数回撮像可能(照明切替可能) →タクト:300個/min 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 外観検査装置

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イメージセンサ用 高精度6面2次元外観検査装置

検査自動化により、目視検査レスを実現!イメージセンサの全6面微細欠陥検査!

高精度欠陥検査ユニットを搭載した高精度6面2次元外観検査装置。 監視カメラ用挿入型、DSC用SMT型などのイメージセンサ各種の 全6面微細欠陥検査ができます。 オリジナルシームレス、7チャンネル、マルチアングル照明で好適な照明環境のなか、 Min10msec/イメージ処理で検査モード毎に複数枚を一括取り込みが可能。 最大25Mpixカメラによる高分解能と高解像度で検査します。 【特長】 ■上面検査・下面検査 ・マルチアングル照明+複数枚撮像+Z軸連動制御で検査対象面に  フォーカスを合わせて検査画像を取り込み ■側面検査 ・XYθ ズレによる焦点ズレをワーク毎に補正、ジャストフォーカスで  微細な欠陥を確実に検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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円筒部品外観検査装置「微小ピン外観検査装置」

円筒ワークの高速検査が可能!独自のR照明とS字型搬送技術を用いた検査装置

『微小ピン外観検査装置』は、1000本/分以上も可能なノンストップ 機構の検査装置です。 両端面専用レンズを用いて全周囲をカバーしています。 リベット、ボルト等の鍔付きワークにも適応可能です。 当社は、簡易的な外観選別から、微細な検査まで カスタマイズ対応いたします。 【特徴】 ○S字型搬送技術 ○適応ワークサイズ:0.5φ~30φ/2.0~50.0mm ○ノンストップで1000本/分以上の検査が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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