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外観検査装置(照明) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月13日~2025年09月09日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

外観検査装置の製品一覧

46~60 件を表示 / 全 114 件

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【省スペース・精度向上】外観検査装置『M-CIS』

1台で多品種の検査に対応。多軸機構で広範囲の検査領域も実現。高コストパフォーマンス

『M-CIS(エムシス)』は、カメラ5軸・照明1軸の制御によって 広範囲の検査領域を実現した外観検査装置です。 200万画素カメラとマルチカラー照明を採用し、 タッチパネルによる簡単な操作で、高精度の検査が行えます。 設定も複数登録できるため、多品種の製品検査もスムーズ。 傷、色ムラ、欠け、文字・2次元コード認識などの読取検査まで幅広く活躍します。 【特長】 ■低価格化を追求。高コストパフォーマンス ■治具交換によりさまざまな製品に対応可能 ■装置の左右にエリアセンサを装備し、作業者の安全を確保 ■単体はもちろん、パレットに収めた複数部品の検査にも対応 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • 外観検査装置

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『PTPブリスター外観検査システム PVIS BP』

高解像度カメラによってPTPブリスターシートの欠陥が高精度に検出可能

『PTPブリスター外観検査システム PVIS BP』は、高解像度カメラと 独自特許技術照明による高精度な検査を行います。 画像処理システムV-IPUによりオールインワンシステム(全機能集約)を実現。 PTPブリスターシートの様々な欠陥が独自技術による3ステージ検査で検出します。 また、従来カメラごとにCPUが1台ずつ必要だったものを一般的なCPUの 10数倍の処理能力を持つCPUに集約。培ってきた技術でその処理能力を 最大限に高めることにより大幅な省スペース・省電力化を実現しました。 【特長】 ■独自技術による3ステージ検査 ■画像処理照明電源の集約による省スペース化 ■装置全体の小型化 ■超高性能画像処理システムV-IPU搭載 ■独自の画像処理システム ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 画像処理機器
  • 外観検査装置

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信州松川事業所

電子部品を対象とした外観検査機を一貫して設計、製造しています。

株式会社ヒューブレインの信州松川事業所は、電子部品を対象とした外観検査機を一貫して設計、製造しています。画像処理ユニットは自社製品を搭載、画像検査ロジックはすべて自社開発で、多様なニーズに短期間で対応が可能です。スクリーニング室を2部屋設け、画像検査の成否を大きく左右する照明テストなどを徹底して行います。画像検査に適したハンドラーをご提供致します。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
  • その他画像関連機器

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多面外観検査装置『IGシリーズ』

NG箇所も一目で確認可能!表・裏・側面の異物、成形不良検査をすることができます

『IGシリーズ』は、製品の異物・欠け・成形不良を自動で外観を 検査できる装置です。 防滴仕様IP54相当に対応。NG発生時に画面上にNG製品の画像を表示し、 NG箇所も一目で確認する事が可能です。 また、品種設定の変更履歴を残す事が出来る為、以前の設定に戻すことが できます。 【特長】 ■全周検査の小スペース化を実現 ■防滴対応 ■NG画像表示 ■レシピ管理設定 ■ストロボ検査 ※詳しくは下記リンクよりカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他 外観・画像検査装置

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短納期・高精度・超簡単、自動検査装置『IKZ-01』

これ一台で様々な製品の検査ができる! 全周+上面検査が可能な汎用型外観検査装置

IKZ-01は、アナモル社の外観検査AI「NuLMiL」を搭載した汎用型外観検査装置です。 ターンテーブルにより、製品全体360°の全周検査が可能となっています。 上方向と横方向のダブル照明により上面・側面の見えにくい欠陥を鮮明に映し出します。 小ロット多品種製造に対応していて、これ1台でさまざまな製品の外観検査が可能です。 ※コンベア搬送対応、ロボットアーム対応などの自動機構成のご提案も可能です。 【特長】 ■360°検査が可能 ■ダブル照明で見えにくい欠陥もハッキリ ■小ロット多品種製造対応、様々な製品の外観検査が可能 ※現在資料ダウンロードしていただいた方限定で無償検証を行っております。 是非、この機会に下の『PDFダウンロード』ボタンから資料の製品の詳細をご覧ください。

  • 外観検査装置

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実装検査装置<モノづくり事業>

RGB照明による半田フィレット検査が可能な基板外観検査装置と3D外観検査装置を保有!

当社が保有する『実装検査装置』をご紹介します。 「22Xシリーズ」は、アングルカメラが8方向で、独自の画像検査技術による 有極性部品と部品識別表示確認が可能なマランツエレクトロニクス社製の 基板外観検査装置です。 「VT-S730H」は、高さ計測に適した位相シフト方式+はんだ表面の状態に 影響を受けずに形状を捉えるカラーハイライト方式といった3Dと2Dの技術を 組み合わせ、検査項目に合わせて好適な検査を実施するオムロン社製の 3D外観検査装置です。 【保有設備】 ■基板外観検査装置「22Xシリーズ」 ■3D外観検査装置「VT-S730H」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • 外観検査装置
  • 基板検査装置

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外観検査機『ZARA-KEN 7』

小物部品や製品の最終検査工程で、設置したその日から外観検査に威力を発揮します!

『ZARA-KEN 7』は、考える目を持つ使える外観検査機です。 小物の製品や部品から微細な精密部品まで、外観検査が可能。 簡単操作でマスター登録が完了、複雑な設定がなく、即、戦力になります。 異品・不良品を自動判別し、分別するオプション設計や、 大量検査に応える既設ラインへの組込みにも対応します。 【特長】 ■ワークをランダムに配置し、接触させずに搬送する直進フィーダー ■視差を低減する特殊光学系を採用 ■見やすい検査結果表示画面 ■広い撮像エリアと、高い分解能のセンサーで 高速検査が可能に ■One Actionマスター登録、様々なワークの検査段取り変更が容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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基盤外観検査装置『NVI-G350』

卓越したはんだフィレット検査性能!より歩留まりのよい製造ラインを構築することが可能

『NVI-G350』は、実装工程における貴社の課題を業界最高レベルの検査 パフォーマンスで解決する基盤外観検査装置です。 長年の経験により蓄積したお客様の多様なニーズをノウハウとして成熟。 検査装置として製造不良品の流出を食い止める役割を果たすのはもちろんのこと、 部品搭載位置などの傾向を数値的に管理し、容易に分析することが可能と なっております。 【特長】 ■対象物の形状を高速かつ正確に再現 ■広い範囲の3D・2D画像を効率よく取得 ■自動バックアップ機構 ■プログラム作成時間を当社従来比で1/2に短縮 ■虚報対策にかかる作業負担を大幅に軽減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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外観検査装置 Prestige V

8インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモデル。Wafer上の欠陥とムラを同時に検査することが可能。

PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』

狙った欠陥を確実にキャッチ!パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化

『CI4000』は、全6面検査自動化により、目視検査レスを実現した パワーデバイス用チップ外観検査装置です。 上面・下面検査は、マルチアングル照明+複数枚撮像で 様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。 また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、 ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最大25Mpixカメラによる高分解能・高解像度検査 ■オリジナルシームレス・7チャンネル マルチアングル照明 ■Min10msec/画像取込→検査モード毎に複数枚を連続取り込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 基板検査装置
  • 外観検査装置

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Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程を一つの機械で全て対応。

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目視で欠陥やゆがみなどを検査しますが、それら加工製品の数量が増加すれば、目視検査での見落としや、人件費が膨大に膨れます。 その見落としと、人件費を削減するために、半導体、金属エッチング加工製品の検査工程にPrestigeを導入し、検査工程の見落としから費用の削減までを可能に。 【特長】 ● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能で、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適化照明 ● カメラアングル可変式を採用、明視野~暗視野像の検査 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8/12インチ対応 ● オプション機能により、ウェハ裏面検査に対応

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置
  • 外観検査装置

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シート外観検査装置 検査装置/省人化

ラインカメラ表裏面検査仕様!黒点異物や気泡異常などシート製品の異物を自動外観検査

『シート外観検査装置』は、シートの微妙な変化に照明の明るさを自動で 変化させることができる検査装置です。 検査基準のコントラストに合わせる事ができ、検査中にNG箇所の画像のみを 表示することが可能。 また、エンコーダパルス撮像手法で、生産速度が変わっても検査画像に 影響しない為、誤検知をすることがありません。 【特長】 ■エンコーダパルス撮像 ■スクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示することができる ■履歴情報を残すことで過去の設定などをさかのぼって閲覧することが可能 ■照明輝度自動追従機能搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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微かな異常を明かりで自動でお知らせ!シート外観検査装置

黒点異物や気泡異常など気付きづらいシート製品の異物を自動で外観検査が可能に!『IGシリーズ』

『シート外観検査装置』は、シートの微妙な変化を検知し、 照明の明るさを自動で変化させることができる検査装置です。 製品の前に付きっきりで目視検査の必要がなくなります。 検査中にNG箇所の画像のみを表示することが可能な為、 全てを隈なく見る工数が減り、省人化・工数削減に貢献します。 また、エンコーダパルス撮像手法で、生産速度が変わっても検査画像に 影響しない為、誤検知をすることがありません。 【特長】 ■エンコーダパルス撮像 ■スクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示することができる ■履歴情報を残すことで過去の設定などをさかのぼって閲覧することが可能 ■照明輝度自動追従機能搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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チップ部品外観検査装置(6面) OVS-4620

不良検出力の大幅アップが図れます。

各面に対し照明を2種設置。

  • その他

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実装基板外観検査機 OVT-505

基板検査装置・治具 (外観検査)

300万画素のカラーカメラを搭載 しました。3種類の照明と、4つの検査手法により高精度な検査に対応出来ます。

  • その他

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