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Wafer上で波形保証の実現
開発プロセス、WaferやチップレベルでのESD試験の必要、且つ重要性が増している中、今後、飛躍的にそのニーズは高まるものと予測されています。 本装置は、完成品パッケージのESD試験で蓄積された技術の集大成として開発され、ついにWafer・LevelでのESD試験を可能にしました。 【ラインナップ】 ○HED-W5040 ○HED-W5000M 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
モデル1100-ESDは、64ピンまでのICに対するESD試験（HBM、MM）を簡単かつ正確に実施することができます。
３軸ロボットに取りつけたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定するため、数年に1度はアップデートされる、波形規格への対応が用意です。 また、規格で要求される全てのコモン・ピンコンビネーションを実現できます。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
HBM、MM規格に完全適合 ウェーハ、チップ、パッケージ対応
モデル400SＷは種々の形状の試料にＨＢＭ、ＭＭのＥＳＤパルスを印加した後、破壊、劣化を自動で判定する極めて操作性の優れた新方式のＥＳＤテスタです。 ＥＳＤ試験を何時でも、誰でも、簡単にしかも短時間に行えることを最大の特長とします。 従来ESD試験機はチップをパッケージに封入し、ICソケットを設計、製作した後ＥＳＤの評価を行っていました。 本機はチップ、パッケージはもちろんのことウェーハでのESD試験もできますのでその時間的、金銭的な負担を大幅に削減できるようになりました。 【特徴】 ○ウェーハからパッケージまでの総合的ESD耐量評価 ○ウェーハの周期的評価による高信頼性工程の維持管理 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
JEITA、MIL、ESDA、JEDEC 規格準拠
ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」では、１軸ロボットに取りつけたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定します。 そのため、数年に1度はアップデートされる、新波形規格への対応が、ESDパルス発生ユニットのみの変更で対応でき、長期間ご使用いただけます。 また、最新規格対応から、古い規格へ戻して試験する事も容易にできます。 現在、規格案を討議中の、トランジェント・ラッチアップの規格等も、制定されれば、短時間で対応できます。 【特徴】 [LATCH-UP部] ○ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合 ○ラッチ・アップ試験の最新規格、 入力ピン条件max HI／min LO を標準装備 ○クロック／パターン発生器 ○デバイス安定化機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
ネットワークテスタや、パワーメータ、自動テスタなどの機器タイプをご用意！
「ESDテスタ」は、表面抵抗レベルを監視して静電放電を測定し、安全の ために許容範囲内であるかどうかを判断するための製品です。 金属コンタクトボタンとコードコネクタ又はフットテストプレート間の 外部回路の抵抗を測定することが可能。 機器タイプは、ネットワークテスタや、パワーメータ、自動テスタなどを ご用意しておりますので、ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ(一部)】 ■SMC 静電気測定器 IZH10 静電気制御表面 ■SCS テストプローブリードセット 701-L 表面 ■SCS 静電気測定器 CTS001 ■SCS 静電気測定器 CTC021 ■SMC 静電気測定器 IZH10-H LCD ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
