ESD試験機 - メーカー・企業と製品の一覧
ESD試験機の製品一覧
1~6 件を表示 / 全 6 件
ESD試験(HBM、MM)装置 MKシリーズ
MKシリーズはデバイスの多ピン化に対応したコンパクトなESD試験装置です。
3つのバリエーションがあり、ユーザのご要求に合わせたシステムの提案が可能です。どのシステムも今日の最新の規格に対応したESD試験、ラッチアップ試験(オプション)を実施できます。最大256ピンに対応したESD試験装置です。
- 企業:雄山株式会社 東京支店
- 価格:応相談
Wafer ESD試験器 「HED-W5100D」
Waferレベル、パッケージ品のESD試験が可能!
WaferESD試験器 HED-W5100Dは、300mmウェハーまで対応できる自動印加/自動測定のESD試験器です。 完璧な安全機能を装備し、フレンドリーで使いやすい操作性を実現しています。 ウェハーの試験チップや印加ポジションの選択を含めた試験条件は、全てモニター上から設定可能。作業性の向上に大きく貢献します。 また、本装置は一般のパッケージ品に対しても試験が可能です。 【特徴】 ○最大300mmのウェハーに対応 ○印加ピンでの波形保証 ○多様な規格波形への対応 ○画像認識機能(オプション) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
- 企業:阪和電子工業株式会社
- 価格:応相談
ポータブルESD試験器 「HPE-5000」
半導体部品の静電気に対する破壊強度を測定する装置です。
持ち運び可能なコンパクトESD試験器の姉妹機として、さらに、軽量、サイズダウン、低価格を実現することができました。 従来のコンパクトESD試験器と同様に、2ピン印加に特化する事で、汎用装置と同等の基本性能(ESD印加とリーク測定による破壊判定)を維持しています。 【特徴】 ○タッチパネルで簡単操作 ○各規格波形に対応 ○リーク測定機能 ○測定データのPC取り込み機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
- 企業:阪和電子工業株式会社
- 価格:応相談
ESD試験(CDM)装置『Orion3』
容易にテストパターンを作成!湿度コントロール機能を備えた試験装置
『Orion3』は、デバイスの帯電による静電破壊現象をシミュレートできる テストシステムです。 湿度コントロール機能を備えており、テストヘッドを交換することで各種の 規格に対応したESD(CDM)試験を実施。 任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成でき、サイクルタイムを 最小限にします。 【特長】 ■湿度コントロール機能を備えた試験装置 ■テストヘッドを交換することで各種の規格に対応した試験を実施 ■任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成できる ■サイクルタイムを最小限にする ■新機能CDM2は従来の空間放電方式で問題になっている繰返し再現性を大幅に 改善した新方式のCDM試験が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業:雄山株式会社 東京支店
- 価格:応相談
コンパクトESD試験器 「HCE-5000」
低コスト・省スペースのESDテスターが実現!!
近年のデバイスの微小化に伴い、ESD耐量の向上が要求されています。 そこで、阪和電子工業株式会社では試験操作が簡単で、持ち運び可能な静電破壊試験器を開発しました。 本装置はリーク測定機能も備えていますので、ESDによる破壊判定を本装置のみで行うことができます。 【特徴】 ○タッチパネルで簡単操作 ○各規格波形に対応 ○リーク測定機能 ○HBM Fast/Slowユニット(オプション) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
- 企業:阪和電子工業株式会社
- 価格:応相談