1～3 件を表示 ／ 全 3 件
Waferレベル、パッケージ品のESD試験が可能！
WaferESD試験器 HED-W5100Dは、300mmウェハーまで対応できる自動印加/自動測定のESD試験器です。 完璧な安全機能を装備し、フレンドリーで使いやすい操作性を実現しています。 ウェハーの試験チップや印加ポジションの選択を含めた試験条件は、全てモニター上から設定可能。作業性の向上に大きく貢献します。 また、本装置は一般のパッケージ品に対しても試験が可能です。 【特徴】 ○最大300mmのウェハーに対応 ○印加ピンでの波形保証 ○多様な規格波形への対応 ○画像認識機能（オプション） 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
半導体部品の静電気に対する破壊強度を測定する装置です。
持ち運び可能なコンパクトESD試験器の姉妹機として、さらに、軽量、サイズダウン、低価格を実現することができました。 従来のコンパクトESD試験器と同様に、2ピン印加に特化する事で、汎用装置と同等の基本性能（ESD印加とリーク測定による破壊判定）を維持しています。 【特徴】 ○タッチパネルで簡単操作 ○各規格波形に対応 ○リーク測定機能 ○測定データのPC取り込み機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
低コスト・省スペースのESDテスターが実現！！
近年のデバイスの微小化に伴い、ESD耐量の向上が要求されています。 そこで、阪和電子工業株式会社では試験操作が簡単で、持ち運び可能な静電破壊試験器を開発しました。 本装置はリーク測定機能も備えていますので、ESDによる破壊判定を本装置のみで行うことができます。 【特徴】 ○タッチパネルで簡単操作 ○各規格波形に対応 ○リーク測定機能 ○HBM Fast/Slowユニット（オプション） 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
